Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
2011 | Vol. 29, No. 1 | 63--69
Tytuł artykułu

Dielectric property of Cu powder/polymer composites

Warianty tytułu
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
Dielectric property of Cu/polymer thermoplastic composites was measured in high frequencies up to 1 GHz. Generally relative permittivity and dielectric loss of the composites increased as the increasing metal inclusion loading as the percolation theory predicts. The incorporation of the copper inclusion with surface antirust layer raised relative permittivity of the composite from 2.3 to 21.3 at the loading level of 39.3 vol. % at 500 MHz. When copper oxide layer was introduced to the filler surface, estimated increase of relative permittivity was ca. 25 %. Since metal composites with ordered structure would raise the relative permittivity of the composites, the cause of this increase in relative permittivity in the present study can be attributable to reduced compatibility of the filler surface and the polymer matrix which lowers randomness of particle distribution. On the other hand, dielectric loss of the composite with surface oxidized Cu powder was increased by ca. 50 % compared to that of the anti/rusted powder composite. This would be caused by skin effect that part of the induced current flows through the less conductive surface oxide layer.
Wydawca

Rocznik
Strony
63--69
Opis fizyczny
Bibliogr. 12 poz.,
Twórcy
autor
autor
autor
  • Microelectronics and Materials Physics Laboratories University of Oulu P.O. box 4500 FIN-90014 University of Oulu Finland
Bibliografia
  • [1] SEBASTIAN M. T., JANTUNEN H., Int. J. Ceram.Technol., 7 [4] (2010), 415.
  • [2] HU T., JUUTI J., JANTUNEN H., VILKMAN T., J. Eur.Ceram. Soc., 27 (2007), 3997.
  • [3] KONG L. B., LI Z. W., LIN G. Q., GAN Y. B., IEEE Trans. Magn., 43 [1] (2007), 6.
  • [4] YAO J. L., XIONG C. X., DONG L. J., CHEN C., LEI Y. A., CHEN L., LI R., ZHU Q. M., LIU X. F., J. Mater.Chem., 19 (2009), 2817.
  • [5] PECHARROMAN C., MOYA J. S., Adv. Mater., 12 [4](2000), 294.
  • [6] DANG Z. M., LIN Y. H., NAN C. W., Adv. Mater., 15[19] (2003), 1625.
  • [7] PANDA M., SRINIVAS V., THAKUR A. K., Appl.Phys. Lett., 93 (2008), 242908.
  • [8] LI Y. J., XU M., FENG J. Q., DANG Z. M., Appl. Phys.Lett., 89 (2006), 072902.
  • [9] ZOIS H., APEKIS L., MAMUNYA YE. P., J. Appl.Polym. Sci., 88 (2003), 3013.
  • [10] SONODA K., HU T., JUUTI J., MORIYA Y., JANTUNEN H., J. Eur. Ceram. Soc., 30 (2010), 381.
  • [11] SONODA K., JUUTI J., MORIYA Y., JANTUNEN H.,Compos. Struct., 92 (2010), 1052.
  • [12] BALAMURUGAN B., MEHTA B. R., Thin Solid Films,
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPW7-0018-0066
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.