Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Czasopismo
2006 | Vol. 36, nr 2-3 | 181-185
Tytuł artykułu

Photoluminescence spectroscopy for the evaluation of band potential roughness of InGaN active layers

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Warianty tytułu
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
Photoluminescence spectroscopy in combination with Monte Carlo simulation of exciton hopping is demonstrated to be a valuable tool for quantitative analysis of the band potential profile in active layers for InGaN-based light emitters. Recently proposed double-scaled potential profile model is used to reveal the scale of potential fluctuations in the individual In-rich regions as well as the dispersion of the average exciton localization energy in these regions. The influence of the different potential fluctuation scales on the stimulated emission threshold and luminescence decay time of highly excited InGaN active layers is studied.
Wydawca

Czasopismo
Rocznik
Strony
181-185
Opis fizyczny
Bibliofr. 6 poz.,
Twórcy
autor
autor
  • Institute of Materials Science and Applied Research Vilnius University, Lithuania
Bibliografia
  • [1] KAZLAUSKAS K., TAMULAITIS G., ŽUKAUSKAS A., KHAN M.A., YANG J.W., ZHANG J., SIMIN G., SHUR M.S., GASKA R., Double-scaled potential profile in a group-III nitride alloy revealed by Monte Carlo simulation of exciton hopping, Applied Physics Letters 83(18), 2003, pp. 3722–4.
  • [2] KAZLAUSKAS K., TAMULAITIS G., POBEDINSKAS P., ŽUKAUSKAS A., SPRINGIS M., HUANG C.-F., CHENG Y.-C., YANG C.C., Exciton hopping in InxGa1–xN multiple quantum wells, Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics 71(8), 2005, pp. 85306/1–5.
  • [3] SHEE S.K., KWON Y.H., LAM J.B., GAINER G.H., PARK G.H., HWANG S.J., LITTLE B.D., SONG J.J., MOCVD growth, stimulated emission and time-resolved PL studies of InGaN/(In)GaN MQWs: well and barrier thickness dependence, Journal of Crystal Growth 221, 2000, pp. 373–7.
  • [4] HOLST J., KASCHNER A., GFUG U., HOFFMANN A., THOMSEN C., BERTRAM F., RIEMANN T., RUDLOFF D., FISCHER P., CHRISTEN J., AVERBECK R., RIECHERT H., HEUKEN M., SCHWAMBERA M., SCHÖN O., Comparison of the mechanism of optical amplification in InGaN/GaN heterostructures grown by molecular beam epitaxy and MOCVD, Phys. Status Solidi A 180(1), 2000, pp. 327–32.
  • [5] KAZLAUSKAS K., TAMULAITIS G., MICKEVIČIUS J., KUOKŠTIS E., ŽUKAUSKAS A., CHENG Y.-C.,WANG H.-C., HUANG C.-F., YANG C.C., Excitation power dynamics of photoluminescence in InGaN/GaN quantum wells with enhanced carrier localization, Journal of Applied Physics 97(1), 2005, pp. 13525/1–7.
  • [6] JURŠĖNAS S., KURILČIK N., KURILČIK G., ŽUKAUSKAS A., PRYSTAWKO P., LESZCZYNSKI M., SUSKI T., PERLIN P., GRZEGORY I., POROWSKI S., Decay of stimulated and spontaneous emission in highly excited homoepitaxial GaN, Applied Physics Letters 78(24), 2001, pp. 3776–8.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPW7-0002-0060
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.