Czasopismo
2002
|
Vol. 32, nr 3
|
373-379
Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Warianty tytułu
Języki publikacji
Abstrakty
Ultrathin Pb films on Si(533)/Au surface deposited at low temperatures are investigated by STM, RHEED, and by optical reflectance difference spectroscopy (RDS). In particular, we report the observation by RDS of an anisotropy in the optical reflectance of the Si(533) surface covered by Pb nanowires. It is found that the optical anisotropy originates from anisotropy of electrical conductivity of the Si(533) substrate and the anisotropy of Pb nanowires formed on this surface
Słowa kluczowe
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
373-379
Opis fizyczny
bibliogr. 8 poz.
Twórcy
autor
autor
- Institute of Physics, Maria Curie-Skłodowska University, pl. M. Curie-Skłodowskiej 1, 20-031 Lublin
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPW1-0013-0059