Termograficzny system dalekiego i bliskiego pola

• Autorzy: Szeloch, R. , Gotszalk, T. , Radojewski, J. , Janus, P. , Orowski, W. , Pędrak, R. , Gumienny, Z.

Warianty tytułu

EN

Far-field and near-field thermographic system

• Konferencja: IV Konferencja naukowa. Postępy w elektrotechnologii. Jamrozowa Polana, 14-15.09.2000 r.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Opracowano system termograficzny dla obserwacji próbek o rozmiarach milimetrowych zawierających struktury mikro i nanometrowe. Opcja dalekiego pola wyposażona jest w fotowoltaiczny czujnik podczerwieni pracujący w paśmie 3-12 nm co umożliwia rejestrację niewielkich gradientów temperatury oraz ułatwia rozpoznanie lokalnych niejednorodności i defektów. System umożliwia regulację i stabilizację temperatury stolika pomiarowego oraz dokonywanie, w czasie pomiarów zanim tejże temperatury według określonej funkcji czasowej. Również napięcia polaryzacji i wejściowe sygnały dochodzące do badanych obiektów mogą być kontrolowane w systemie np. Test Point lub LabView. Taki sposób pracy umożliwia pomiary zarówno amplitudowych jak i fazowych sygnałów termicznych a co za tym idzie system rozpoznaje stan nie tylko powierzchni, lecz również (tzw. opcja lock-in) przypowierzchniowej części wnętrza badanej próbki.

EN

Combined far-field and near-field thermographic system is presented. Due to wide band infrared detector and two versions of optical sets of the system we are able to detect small temperature gradients. One of these optical sets consists of Zn Se lenses and the second includes the mirror-like optical set. System allows stage temperature regulation and stabilisation according to determined function. System also controls sample voltage signals with TestPoint or LabView software. This procedure allows us to measure amplitude and detect inhomogeneity under surface of the sample.

• Czasopismo: Prace Naukowe Instytutu Podstaw Elektrotechniki i Elektrotechnologii Politechniki Wrocławskiej. Konferencje
• Rocznik: 2000
• Tom: Vol. 37, nr 12
• Strony: 221-225
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys. 10,

Twórcy

autor

Szeloch, R.

autor

Gotszalk, T.

autor

Radojewski, J.

autor

Janus, P.

autor

Orowski, W.

autor

Pędrak, R.

autor

Gumienny, Z.

• Instytut Techniki Mikrosystemów Instytut Fizyki Politechniki Wrocławskiej