Sposoby oceny płytek krzemowych w ogniwach fotowoltaicznych, w kontekście stosowanych obróbek

• Autorzy: Stechnij, T. , Zaborski, S. , Poroś, D.

Warianty tytułu

EN

The methods of the rating in silicon plates of photovoltaic cells

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Podano wybrane przykłady, zdiagnozowanych parametrami elektrycznymi, stanów krawędzi krzemu fotowoltaicznego po procesie cięcia. Przeprowadzano szereg prób konwencjonalnego podziału ogniwa krzemowego tarczami tnącymi, dokonano analizy SGP (struktur geometrycznych powierzchni), będących pochodnymi zastosowanych parametrów metod cięcia wafli krzemowych. Konkluzje prowadzą do zachodzących znaczących związków między stanem powierzchni po wykonanym cięcia krzemu a parametrami użytkowymi ogniw słonecznych. Aby fotowoltaika stała się tanią i powszechną postacią konwersji energii, koniecznością jest udoskonalanie rozwiązań w zakresie procesu produkcyjnego typowych ogniw krzemowych, zwłaszcza poprzez elektywniejsze techniki oddzielania materiału oraz budowę kryteriów oceny stanu ich powierzchni po cięciu.

EN

Publication contains chosen examples of applied processings, diagnosed by electric parameters. Describes the conditions of the edge of photovoltaic silicon after the cut process. The sequence of the tests of the conventional cutting in the silicon cell carried out by disc cutting. Then analyses of surfaces were executed, being derivative of the applied parameters in the methods of the cut of silicon wafers. Conclusions guide to drawing signilicant relationships between the condition of the surface after executed cuts of silicon and the usable parameters of solar cells. PV systems will be happened the cheap and popular figure of the energy conversion. Refining the solutions in the range of the productive process of typical silicon cells is the necessity, especially through the more effective technics of the separation material and by the building the criteria of the rating of the condition their surface after cutting.

Słowa kluczowe

PL

fotowoltaika; płytki krzemowe w ogniwach fotowoltaicznych; obróbka płytek

EN

photovoltaics; silicon plates in photovoltaic cells; plate machining

• Czasopismo: Energetyka
• Rocznik: 2012
• Tom: nr 11
• Strony: 747-750
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Stechnij, T.

autor

Zaborski, S.

autor

Poroś, D.

• Wydział Mechaniczny Politechniki Wrocławskiej

Bibliografia

• [1] Ashcroft N.W., Mermin N.D. : Fizyka ciała stałego. Państwowe Wydawnictwo Naukowe, Warszawa 1986.
• [2] Kitlel C. : Wstęp do fizyki ciała stałego. Państwowe Wydawnictwo Naukowe, Warszawa 1974.
• [3] Kowtoniuk N. F., Koncewoj JA : Pomiary parametrów materałów półprzewodnikowych. Państwowe Wydawnictwo Naukowe, Warszawa 1973.
• [4] Nowicki B. : Struktura geometryczna powierzchni. Chropowatość i falistość powierzchni. WNT, Warszawa 1991.
• [5] Pikus G.E. : Fizika powierchnosti połprowodnikow. Izd. Inostrannoj Literatury, Moskwa 1959.
• [6] Praca zbiorowa: Poradnik metrologa warsztatowego. Wydawnictwo Naukowo-Techniczne, Warszawa 1973.
• [7] Panek P., Lipiński M., Bełtowska-Lehman E., Drabczyk K. and Ciach R.: Industrial technology of multicrystalline silicon solar cells, Opto-electronics Review, 11 (2003) 269-275.
• [8] Wells A.B., Subrahmanyan P.K. : Machine for precision hiqh-speed cutling of semiconduktor wafers. Electro Scientific Industries, Inc., Portland 2003.
• [9] Zaborski S., Stechnij T., Poroś D., Metody cięcia termicznego wafli krzemowych na potrzeby fotowoltaiki, Inżynieria Maszyn - rok 16, zeszyt 4, Wydawnictwo NOT Wrocław 2012 r.