PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
2007 | Z. 232 | 15-39
Tytuł artykułu

Problemy optymalizacji jakości obrazu w rejestracji obrazów cyfrowych

Autorzy
Treść / Zawartość
Warianty tytułu
EN
Image quality optimization problems in digital images registration
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Wzmocnienie kamery CCD jest to przekształcenie pomiędzy liczbą elektronów ("e-") zarejestrowanych przez element CCD oraz liczbą jednostek numerycznych zawartych w obrazie z matrycy. Znajomość tego przekształcenia jest użyteczna dla oceny jakości kamery CCD . Przedstawiono kilka aspektów optymalizacji jakości obrazów, rejestrowanych cyfrowo z uwzględnieniem występowania np. efektów nierównomierności czułości powierzchniowej układu kamery z obiektywem i matrycą. Następnie opisano niektóre techniki minimalizacji błędów odwzorowania, powstających w czasie rejestracji obrazu, jak również zwiększania zakresu dynamicznego detektorów obrazu.
EN
Amplification of the CCD camera is defined as transformation from the electron quantity ("e-") registered by the digital image sensor and acquired digital units (ADU) as the sensor storage content. Knowledge of this conversion factor is very useful for the camera quality rating. Here some aspects of quality optimization of the digital image with non-uniformity of detector surface sensitivity, together with optical system of the camera Some techniques of minimization of image errors, arising by its registration time, as well as the problem of extending of dynamic range of the image sensor are discussed.
Wydawca

Rocznik
Tom
Strony
15-39
Opis fizyczny
Bibliogr. 12 poz., rys
Twórcy
  • Politechnika Białostocka, Katedra Promieniowania Optycznego, Wydział Elektryczny, 15-351 Białystok, ul. Wiejska 45D
Bibliografia
  • 1. Coaker B.M., Xu N.S., Latham R.V., Jones F.J. “High-speed imaging of the pulsed-field °ashover of an alumina ceramic in vacuum", IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, Vol. 2, No. 2, pp. 210-217, Apr. 1995.
  • 2. Fossum E.R.: ”CMOS image sensors: electronic camera on a chip". Proceedings of International Electron Devices Meeting, pages 17-25, Washington, DC, USA, December 1995.
  • 3. Fowler B., El Gamal A., Yang D.: “Techniques for Pixel Level Analog to Digital Conversion". Proceedings of SPIE, Vol. 3360, pages 2-12, April 1998.
  • 4. Janesick J.: "CMOS or CCD? The choice depends on the application" SPIE's OE Magazine February 2002).
  • 5. Janesick. J., Proc. SPIE vol. 4669A, paper #45, San Jose, CA (2002).
  • 6. Janesick James R., Scientific Charge-Coupled Devices; SPIE Press Monograph; PM 83 Bellingham USA 2001
  • 7. Janesick J. Elliot T., “The Future Scientific CCD". Proceedings of the SPIE 501, 1984
  • 8. Kleinfelder S., Lim S.H., Liu X.Q., El Gamal A.: “A 10,000 Frames/s 0.18 µm CMOS Digital Pixel Sensor with Pixel-Level Memory," In Proceedings of the 2001 IEEE International Solid-State Circuits Conference, pp. 88-89, San Francisco, CA, February 2001.
  • 9. Stubbs A., Christopher W., Doherty Peter and Diercks Alan: "Method for Extending the Dynamic Range of CCD Instruments"; Department of Astronomy and Department of Physics; Box 351580, University of Washington; Seattle, WA 98195]
  • 10. Wong H.S.: “Technology and Device Scaling Considerations for CMOS Imagers", IEEE Transactions on Electron Devices, Vol. 43, No. 12, pp. 2131-2141, Dec. 1996.
  • 11. www.kodak.com
  • 12. Yadid-Pecht O., et al.: “Optimization of noise and responsivity in CMOS active pixel sensors for detection of ultra low-light levels". Proceedings of the SPIE, volume 3019, pages 125-136, San Jose, CA, January 1997.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPS2-0044-0003
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.