Dielektryczne badania cienkiej warstwy C₆₀

• Autorzy: Trybuła, Z. , Łoś, S. , Kempiński, W. , Trybuła, M. , Shtutina, S. , Shames, A. I. , Katz, E. A.

Warianty tytułu

EN

Dielectric investigations of C₆₀ film

• Konferencja: Toruńskie Sympozjum Węglowe / sympozjum (IV; 2-4.09.1999 r.; Bachotek k. Torunia, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono rezultaty badań dielektrycznych cienkiej warstwy fullcrcnu Cf)0 o grubości 149 nm ze srebrnymi elektrodami. Zaobserwowano przejście fazowe drugiego rodzaju z wysokotemperaturowej fazy /cc do niskotemperaturowej s c w Tc=240K, o 20K niższej niż dla monokryształu. Zmiana charakteru przejścia fazowego z pierwszego rodzaju dla monokryształów na drugiego rodzaju dla badanej próbki związana jest z defektami struktury i dyfuzją srebra do warstwy fullerenu.

EN

The article presents the results of dielectric investigations of of C60 fullerene film of 149 nm thickness with silver electrodes. A phase transfer was observed of second type from high temperature fee phase to low temperature sc one at Tc = 240K., by 20K lower than for mono-crystal. The change in character of a phase transfer from the first type for mono-crystals into the second type for investigated sample is connected with faults of the structure and diffusion of silver into fulleren 's layer.

Słowa kluczowe

PL

fulleren; cienkie warstwy; badania dielektryczne

EN

fullerenes; thin film; dielectric investigations

• Czasopismo: Karbo
• Rocznik: 2000
• Tom: Nr 4-5
• Strony: 139-140
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz.

Twórcy

autor

Trybuła, Z.

autor

Łoś, S.

autor

Kempiński, W.

autor

Trybuła, M.

autor

Shtutina, S.

autor

Shames, A. I.

autor

Katz, E. A.

• Institute of Molecular Physics, Polish Academy of Sciences, Poznań