Warianty tytułu
Application of atomic force microscopy and nuclear magnetic resonance in technology of producing polymer compositions
Języki publikacji
Abstrakty
Badano strukturę i dynamikę molekularną nanokompozytu złożonego z amorficznego polisiarczku fenylenu (PPS) i krzemionki amorficznej (Si02) metodami mikroskopü sił atomowych (AFM) i magnetycznego rezonansu jądrowego (NMR). Na podstawie tych badań zaproponowano model lokalizacji krzemionki na powierzchni aglomeratów i agregatów PPS w skali nanometrowej. Badania czasów relaksacji spin-siatka T, wykazały, że wewnątrz aglomeratów i agregatów wyjściowego polimeru oraz jego kompozytu występuje magnetyczne oddziaływanie dipolowe, a między nimi oddziaływanie elektryczne. Ten ostatni rodzaj oddziaływań jest prawdopodobną przyczyną fragmentacji aglomeratów, których obecność tłumaczy niezwykle mały skurcz technologiczny badanego tworzywa.
Study of structure and molecular dynamics of amorphous poly(p-phenylene sulide) (PPS)with amorphous silicon dioxide nanocomposite by atomic force microscopy (AFM) and nuclear magnetic resonance (NMR) methods were performed. In support on these study it was proposed the model of silicon dioxide localization on the surface of agglomerates and aggregates of PPS in nanoscale. Spin-lattice nuclear magnetic relaxation T, shows that inside of agglomerates and aggregates (grains) of virgin PPS and its composite exists magnetic dipol interaction. On the contrary between grains the electrostatic repulsion forces exists which are probably the source of fragmentation process of PPS. The presence in this polymer of agglomerates explain uncommonly small technological shrinkage.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
39-46
Opis fizyczny
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPP1-0007-0005
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.