Czasopismo
2010
|
R. 86, nr 3
|
157-160
Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Warianty tytułu
Electromagnetic emission of microprocessors systems implemented in FPGAs
Języki publikacji
Abstrakty
W artykule przedstawiono porównanie emisji zaburzeń elektromagnetycznych przewodzonych oraz promieniowanych (pomiar wzorowany na normie IEC 61967), dwóch systemów mikroprocesorowych zaimplementowanych w układzie programowalnym FPGA. Do budowy obu systemów mikroprocesorowych wykorzystano ten sam mikroprocesor, wykonujący ten sam program. Jeden system został całkowicie zaimplementowany z wykorzystaniem zasobów układu programowalnego, natomiast drugi z wykorzystaniem zewnętrznej pamięci programu.
The paper presents a comparison of conducted and radiated electromagnetic emission (the measurement based on the IEC 61967 standards) generated by two microprocessor systems implemented in a Field Programmable Gate Array (FPGA). The same CPU core executing the same program was used in both systems. One of the systems was build using only internal resources of the FPGA, while the other used external SRAM as the program memory.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
157-160
Opis fizyczny
Bibliogr. 6 poz., rys., wykr.
Twórcy
autor
autor
- Politechnika Śląska, Instytut Elektroniki, ul. Akademicka 16, 44-100 Gliwice, jmocha@polsl.pl
Bibliografia
- [1] XILINX, PicoBlaze 8-bit Embedded Microcontroller User Guide UG129, v.1.1.2, June 24 (2008)
- [2] Chu P. P. , FPGA Prototyping by VHDL Examples, Xilinx Spartan-3 Version, John Wiley & Sons Inc. (2008)
- [3] XILINX, Spartan-3 FPGA Starter Kit Board User Guide UG130, v.1.2, June 20 (2008)
- [4] Ben Dhia S., Ramdani M., Sicard E., Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits: Techniques for Low Emission and Susceptibility, Springer Science+Business Media (2006)
- [5] Ostermann T., Deut schmann B., Characterization of the EME of Integrated Circuits with Help of the IEC Standard 61967, 8th IEEE European Test Workshop (2003), 132-137
- [6] PN-EN 61967-4:2003, Układy scalone – Pomiar emisji elektromagnetycznych od 150kHz do 1GHz – Część 4: Pomiar emisji przewodzonej – metoda sprzężenia bezpośredniego 1om/150om
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPOD-0016-0049