Przegląd metod do testowania dokładności statycznej urządzeń pomiarowych

• Autorzy: Mróz, P.

Warianty tytułu

EN

The overview of the static accuracy testing methods for the measurement devices

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Jednym z podstawowych parametrów metrologicznych urządzeń pomiarowych, decydujących o ich jakości, jest ich dokładność statyczna. W artykule przedstawiono przegląd metod testowania urządzeń pomiarowych, które mogą być wykorzystane do testowania ich dokładności statycznej. Przedstawiono cztery metody, wskazując ich zalety i wady.

EN

Static accuracy is one of the basic metrological parameters of measurement devices, which decides about their quality. Paper presents the overview of measurement devices testing methods that can be used to testing their static accuracy. Four testing methods are being presented in the paper. There are pointed their advantages and disadvantages.

Słowa kluczowe

PL

urządzenia pomiarowe; metody testowania; algorytmy testowania; błędy statyczne urządzeń pomiarowych

EN

measurement devices; testing methods; testing algorithms; static accuracy of measurement

• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2009
• Tom: R. 85, nr 2
• Strony: 63-66
• Opis fizyczny: Bibliogr. 14 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Mróz, P.

• Uniwersytet Zielonogórski, Instytut Informatyki i Elektroniki, ul. Podgórna 50, 65-248 Zielona Góra,

Bibliografia

• [1] Chwaleba A., Poniński M., Siedlecki A., Metrologia elektryczna, WNT, Warszawa, (2000)
• [2] Florczyk M., Parametryczna metoda testowania funkcjonalnego wirtualnych przyrządów pomiarowych, Rozprawa Doktorska, Uniwersytet Zielonogórski, Zielona Góra, (2007)
• [3] Mrugalski M., Neuronowe modelowanie systemów nieliniowych w układach detekcji uszkodzeń, Rozprawa Doktorska, Uniwersytet Zielonogórski, Zielona Góra, 2003
• [4] Frank P. M., Ding X., Survey of obust residua generation and evaluation methods, Jour. Of Process Control, Vol. 7, no. 6., p. 403-424, 1997
• [5] Kościelny J. M., Metodologia diagnostyki i procesów. Diagnostyka procesów. Modele, metody sztucznej inteligencji, zastosowania, WNT, Warszawa, 2002
• [6] Gupta M. M., Jin L., Homma N., Static and dynamic neural networks, Hoboken, John Wiley & Sons, New Jersey, 2003.
• [7] Isermann R., Fault diagnosis of machines via parametr estimation and knowledge processing, Automatica, vol. 29, no. 4, p. 815-835, 1994
• [8] Patron R. J., Frank P., Clark R. N., Issues os fault diagnosis for dynamic systems, Springer –Verlag, Berlin, 2000
• [9] Pedrycz W. (red), Fuzzy evolutionary computation, Massachusetts: Kluwer Academic Publisher, 1997
• [10] Rutkowski L., Cpałka K., Elastyczne systemy rozmyto-neuronowe, XIV Krajowa Konferencja Automatyki KKA ’02, Zielona Góra, 2002
• [11] Gertler J., Fault detection and Diagnosis In enggineering systems, Marcel Dekker, New York, 1998
• [12] Mróz P., Algorytmy pracy systemów testujących mikroprocesorowe urządzenia kontrolno-pomiarowe, Rozprawa Doktorska, Uniwersytet Zielonogórski, Zielona Góra, 2002
• [13] Mróz P., Sposób sprawdzania poprawności działania urządzeń mikroprocesorowych, Patent nr 81599. Urząd Patentowy RP, Warszawa, 2001
• [14] Mróz P., Testowanie mikroprocesorowych urządzeń pomiarowo-sterujących, V Konferencja Systemy Pomiarowe w Badaniach Naukowych i w Przemyśle, PAR nr 7-8 2004, s. 100-103