Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
2003 | R. 79, nr 3(1) | 172-175
Tytuł artykułu

Zastosowanie filtrów selektywnych w wiroprądowej defektoskopii wieloczęstotliwościowej

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Warianty tytułu
EN
Use selective filters in multi-frequency method for eddy current nondestructive testing
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W artykule przedstawiono podstawy wiroprądowej defektoskopii wieloczęstotliwościowej. Metody wieloczęstotliwościowe dają o wiele więcej informacji na temat wady ukrytej w materiale niż metody oparte na pomiarze jednej częstotliwości, dzięki czemu położenie wady, jej kształt, rozmiar może być określony w sposób bardziej precyzyjny. Autorzy zaproponowali urządzenie składające się z zespołu analogowych filtrów aktywnych, mające na celu poprawienie właściwości pomiarowych i użytkowych toru pomiarowego. Celem artykułu jest przedstawienie sposobu projektowania środkowoprzepustowych filtrów eliptycznych oraz późniejszej ich realizacji za pomocą specjalistycznych układów scalonych.
EN
This paper describe basic of multi-frequency method for eddy current testing. Multi-frequency methods give more information about cracks in material and cracks location, size and shape can be define more precisely. Authors propose system of analog active filters, which may improve measurements quality and system performance. The purpose of this paper is to demonstrate design method of bandpass elliptic filters and realize this filters using advanced, specialized IC.
Słowa kluczowe
Wydawca

Rocznik
Strony
172-175
Opis fizyczny
Bibliogr. 5 poz., rys., wykr.
Twórcy
autor
  • Politechnika Szczecińska, Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki, rs@main.tuniv.szczecin.pl
  • Instytut Elektrotechniki, Warszawa
autor
  • Politechnika Szczecińska, Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki
  • Politechnika Szczecińska, Katedra Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki, rumb1@interia.pl
Bibliografia
  • [1] Chady T, Enokizono M, Todaka T,Tsuchida Y, Sikora R. : Flaws Detection and Characterization Using the Multi-frequency Excitation and Spectrogram ECT Method
  • [2] Papoulis A.: Obwody i układy, Wydawnictwo Komunikacji i Łączności, Warszawa 1998
  • [3] Wai-Kai Chen. : The Circuits and Filters Handbook, CRCPRESS INC 1995
  • [4] Linear Technology : LTC1264 Datasheet
  • [5] Purczyński J, Lipiński W. : Analiza i synteza filtrów aktywnych, Politechnika Szczecińska 1992
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPOC-0005-0041
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.