Diagnostyka części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych z zastosowaniem modelowania rozmytego

• Autorzy: Czaja, Z. , Załęski, D.

Warianty tytułu

EN

A fault diagnosis method of analog parts in electronic embedded systems based on fuzzy logic

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono nową metodę diagnostyki sieci analogowych we wbudowanych mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami wyposażonymi w procesor decyzyjny bazujący na logice rozmytej. Metoda składa się z części przed-testowej tworzenia słownika uszkodzeń zawierającego zbiory rozmyte i reguły, części pomiarowej, w której dokonuje się pomiaru modułu i fazy funkcji układowej części analogowej mikrosystemu, oraz z procedury detekcji i lokalizacji uszkodzeń wykonywanej przez procesor decyzyjny. Pomiar i procedura diagnostyczna są realizowane wyłącznie przez mikrokontroler zamontowany w systemie, z wykorzystaniem jego zasobów sprzętowych i mocy obliczeniowej. Zaletą metody jest możliwość nie tylko detekcji uszkodzenia parametrycznego sieci analogowej, ale również lokalizacja pojedynczych uszkodzeń parametrycznych przy założeniu tolerancji elementów nieuszkodzonych.

EN

The paper presents the new diagnostic method of analog parts in mixed-signal embedded microsystems controlled by microcontroller with biult-in hardware fuzzy logic decision proccesor. The method consists of three stages. In the first pre-test stage the fault dictionary that includes a group of membership functions and rules of fuzzy faults models is created. In the second stage the measurement of modulus and phase of tested circuit transfer function is done. In the last stage the procedure of fault delection and localisation is executed. The diagnostic method is additionally implemented in microcontroller that is already mounted and controls an embedded system. The method has two main advantages. Firstly, it enables detection of parametric faults of analog parts and also localisation of single parametric faults with tolerance of non-faulty elements taken into account.

• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne
• Rocznik: 2006
• Tom: T. 9
• Strony: 23-30
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., 9 rys.

Twórcy

autor

Czaja, Z.

autor

Załęski, D.

• Katedra Metrologii i Systemów Elektronicznych, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Politechnika Gdańska

Bibliografia

• [1] STMicroelectronics.: ST52F5IO/F113/F514 8-bit Intelligent Controller Unit (ICU), PDF document from http://www.st.com/five, 2002.
• [2] Czaja Z.: Implementacja zmodyfikowanej metody biliniowej 2D w elektronicznym systemie wbudowanym: Zeszyty Naukowe WETI PG, nr 3, Seria: Technologie Informacyjne, t. 8, Gdańsk 2005, s. 693-700.
• [3] Czaja Z., Zalęski D.: Implementation of an input-output method of diagnosis of analog electronic circuits In embedded systems. Proc. of tlie 10th IMEKO TC10 International Conference on Technical Diagnostics: 9-10 June 2005, Budapest, Hungary, pp. 145-150.
• [4] Piegat A.: Modelowanie i sterowanie rozmyte, Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT, Warszawa 1999.
• [5] Czaja Z., Zielonko R.: On fault diagnosis of analogue electronic circuits based on transformations in multi-dimensional spaces. Measurement 2004, vol. 35 nr 3 pp. 293-301.
• [6] Z. Czaja, R. Zielonko: Fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in 3D and 4D spaces. IEEE Trans, on Instrumentation and Measurement, February 2003, Vol. 52, No.l, pp. 97-102.