Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.
Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
2004 | T. 5 | 815-824
Tytuł artykułu

Nowy, dwudrenowy tranzystor MOS jako czujnik pola magnetycznego

Warianty tytułu
EN
A new two-drain mos transistor as a magnetic field sensor
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W artykule zaprezentowano nową koncepcję tranzystora typu MOS z dwoma poziomo usytuowanymi drenami, który może być wykorzystany jako czujnik pola magnetycznego. Zasada działania nowego czujnika oparta jest na jednym ze zjawisk galwanomagnetycznych. Na podstawie wyników pomiarowych dostępnych w literaturze przedmiotu można wykazać, że przewidywana czułość proponowanego czujnika może być ok. 1000 razy większa niż czułość znanych i cenionych czujników wykorzystujących tranzystory MAGFET. Czujnik według nowej konstrukcji ma niezwykle małe wymiary i absorbuje małą moc. Artykuł składa się z krótkiego wstępu, opisu zasady działania nowego czujnika, oszacowania wrażliwości czujnika na pole magnetyczne oraz konkluzji.
EN
A novel, two-drain MOS transistor as a very sensitive magnetic field sensor is proposed. The sensor exploits the galvanomagnetic effect due to the Lorentz force on charge carriers in the transistor channel.
Słowa kluczowe
Wydawca

Rocznik
Tom
Strony
815-824
Opis fizyczny
Bibliogr. 10 poz., 5 rys.
Twórcy
  • Katedra Systemów Mikroelektronicznych, Politechnika Gdańska
  • Katedra Systemów Mikroelektronicznych, Politechnika Gdańska
  • Commonet, Gdańsk
  • Commonet, Gdańsk
  • Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych, Warszawa
  • Katedra Systemów Mikroelektronicznych, Politechnika Gdańska
Bibliografia
  • [1] Kordalski W., Polowczyk M., Czerwiński J., Dzierżko J. Dobrzański L.: Urządzenie do pomiaru i/lub detekcji pola magnetycznego, Zgłoszenie patentowe P346093 z dnia 22.02.2001r.
  • [2] Kordalski W.: Dwubramkowy tranzystor polowy typu MOS z kanałem indukowanym, patent RP nr.185178 (30.10.2002).
  • [3] Yamaguchi K.: Field-Dependent Mobility Model for Two-Dimensional Numerical Analysis of MSFETs, IEEE Trans, on Electron Devices, Vol. ED-26, No 7, 1979.
  • [4] Selberherr S.: Analysis and Simulation of Semiconductor Devices, Wien, Springer-Verlag, 1984.
  • [5] Kordalski W.: Two-Dimensional Effects in the MOSFET, Proc. of the XIX-th National Conference on Circuit Theory and Electronic Networks, Kraków-Krynica, Poland, 1996, Vol. H, pp. 239-244.
  • [6] Kobus A., Tuszyński J., Warsza Z.L.: Technika hallotronowa, WNT, Warszawa, 1980.
  • [7] Kirijew P. S.: Fizyka półprzewodników, WNT, Warszawa, 1971.
  • [8] Popović R.S., Baltes H.P.: A CMOS Magnetic Field Sensor, IEEE J. of Solid-State Circuits, Vol. SC-18, No.4, 1983.
  • [9] Baltes H.P., Popović R.S.: Integrated Semiconductor Magnetic Field Sensor, Proceedings of the IEEE, Vol. 74, No 8,1986 pp.1107-1132.
  • [10] Tomaszewski D., Instytut Technologii Elektronowej, Warszawa, Symulacje za pomocą ATLASA - informacja prywatna
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPG5-0011-0104
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.