System do pomiaru szumów m.cz. analogowych przyrządów półprzewodnikowych

• Autorzy: Konczakowska, A.

Warianty tytułu

EN

Systems for analog semiconductor devices low frequency noise measurements

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W referacie przedstawiono zagadnienia związane z konstrukcją systemów do pomiaru szumów m.cz. analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Przytoczono typowe parametry opisujące właściwości sygnałów szumowych. Podano najważniejsze warunki jakie muszą być spełnione przy pomiarach szumów własnych analogowych przyrządów półprzewodnikowych. Zaprezentowano idealny system pomiarowy i podano wytyczne umożliwiające dobór przyrządów półprzewodnikowych do przedwzmacniacza małoszumowego stanowiącego najważniejszy podzespół systemu pomiarowego.

EN

The problems of construction of systems for low frequency noise measurements of analog semiconductor devices were presented. The typical functions for noise evaluations were described. The conditions of low frequency noise measurements of analog semiconductor devices, which have been filled, were pointed. The ideal measurement system was described and detailed conditions of low frequency preamplifier were described.

• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne
• Rocznik: 2005
• Tom: T. 8
• Strony: 931-938
• Opis fizyczny: Bibliogr. 21 poz., 1 rys.

Twórcy

autor

Konczakowska, A.

• Katedra Metrologii i Systemów Elektronicznych, Politechnika Gdańska

• Katedra Metrologii i Systemów Elektronicznych, Politechnika Gdańska

Bibliografia

• [1] Hasse L., Spiralski L.: Szumy elementów i układów elektronicznych. Wydawnictwo Naukowo-Techniczne. 1981.
• [2] Motchenbacher C.D., Connelly J. A.: Low-noise electronic system design. A Wiley-Interscience Publication, John Wiley &Sons, Inc., 1993.
• [3] Van der Ziel A.: Noise in Solid State Devices and Circuits. John Wiley & Sons, 1986.
• [4] Konczakowska A.: Szumy małoczęstotliwościowe a indywidualne prognozowanie niezawodności elementów elektronicznych. Zeszyty Naukowe Politechniki Gdańskiej, Elektronika Nr 77, Gdańsk, 1992.
• [5] Konczakowska A.: Quality and 1/f noise of electronic components. Quality and Reliability Engineering International, vol. 11, 1995, 165-169.
• [6] Ciofi C., Neri B.: Low-frequency noise measurements as a characterization tool for degradation phenomena in solid-state devices. J. Phys. D: Appl. Phys. vol. 33, 2000, 199-216.
• [7] Claeys C., Simoen E.: Noise as a diagnostic tool for semiconductor material and device characterization. J. Electrochem. Soc., vol. 145, No. 6, June 1998, 2058-2067.
• [8] Jones B.K.: Electrical noise as a reliability indicator in electronic devices and components. IEE Proc.-Circuits Devices Syst., vol. 149, No. 1, February 2002, 13-22.
• [9] Bendat J.S., Piersol A.G.: Random Data. Analysisi and Measurement Procedures. A Wiley-Interscience Publication. John Wiley&Sons, Inc, 2000.
• [10] Hasse L., Karkowski Z., Kołodziejski J., Konczakowska A., Spiralski L.: Zakłócenia w aparaturze elektronicznej. Radioelektronik sp.z o.o., Warszawa 1995.
• [11] Ciofi C., Neri B.: Low frequency noise measurements: applications, methodologies and instrumentation. SPIE-Int. Soc.Opt.Eng. Proceedings of Spie- the International Society for Optical Engineering, vol. 5113, 2003, 49-63.
• [12] Spiralski L., Szewczyk A., Hasse L.: Techniques of interference reduction in probe system for wafer level noise measurements of submicron semiconductor devices. Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices. Ed. J. Sikula and M. Levinshtein. NATO Science Series. II. Mathematics, Physics and Chemistry - vol. 151. 303-309.
• [13] Szewczyk A.: Low frequency noise measurements in advanced silicon devices. Rozprawa doktorska /15.04.2003/ Inst. Natl. P. Grenoble. Promotorzy: Spiralski L., Ghibaudo G., 136 s. 116 rys. bibliogr. 29 poz. maszyn.
• [14] Ciofi C., Crupi F., Pace C.: A new method for high-sensitivity noise measurements. IEEE Trans. on Instrum. and Meas., vol. 51, No , Aug, 2002, 656-659.
• [15] Konczakowska A., Cichosz J.: Measurements of power MOSFETs noise. Proceedings of 17th Inter. Conf. on Noise and Fluctuations, August 18-22, 2003, Praque, Czech Republic, Ed. J. Sikula, 781-784.
• [16] Szewczyk A.: Sposób sterowania systemem do pomiarów struktur elementów półprzewodnikowych. Elektronizacja Nr 11, 2003, 17-19.
• [17] Cichosz J., Konczakowska A., Galla S.: Właściwości szumowe piroelektronicznych detektorów podczerwieni. Materiały III Krajowa Konferencja Elektroniki. KKM’2004. Kołobrzeg, 16-18 czerwca 2004, t.2, 541-546.
• [18] Cichosz J., Konczakowska A.: Systemy do pomiaru szumów tranzystorów MOSFET mocy. Materiały II Krajowa Konferencja Elektroniki. KKM’2003. Koszalin, 2004, t.2/2, 537-542.
• [19] Chroboczek J. A., Reimbold G., Szewczyk A., Piantino G.: The current amplifier in low frequency noise measurements. Proceedings of the 17th Inter. Conf. On Noise and Fluctuations. August 18-22, 2003, Praque, Czech Republic, Ed. J. Sikula, 229-232.
• [20] Szewczyk A.: Uwarunkowania aparaturowe pomiaru prądu szumów m.cz. struktur tranzystorów submikronowych. Elektronika 2002, Nr 6, 38-39.
• [21] Hasse L.: Measurement of coherence function between noise currents of transistors. Proceedings of 12th IMEKO TC 4 Inter. Symp. Electr. Measur. And Instr., September 25-27, 2002, Zagreb, Croatia, 29-32.