Lokalizacja uszkodzeń w układach mieszanych-sygnałowo metodą sygnaturową

• Autorzy: Adamczyk, A.

Warianty tytułu

EN

The signature method for faults localisation in mixed-signal circuits

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono metodę detekcji i lokalizacji uszkodzeń w układach mieszanych-sygnałowo przeznaczona do implementacji w testerach wbudowanych BIST wraz z algorytmem doboru jego optymalnych parametrów układowych. Zaproponowane rozwiązanie konstrukcyjne testera pozwala na obserwację analogowej części układu za pośrednictwem sygnałów logicznych odpornych na zakłócenia wnoszone przez część cyfrową pakietu badanego. Natomiast przedstawiona procedura optymalizacji na podstawie wyników symulacji modelu układu badanego dąży do wyznaczenia takich parametrów testera, które zapewnią największe pokrycie uszkodzeń katastroficznych i będą wymagały najmniejszej ingerencji konstrukcyjnej w pakiet.

EN

The method for catastrophic faults detection and localization in mixed-signal circuits for built-in self testers (BIST) is presented. In the suggested method the registration of the fault signature consists in detection of exceeding particular threshold values by potentials of testing nodes of CUT. The algorithm for optimizing values of those thresholds and minimizing access to testing nodes is viewed.

• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne
• Rocznik: 2005
• Tom: T. 8
• Strony: 709-718
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., 4 tab.

Twórcy

autor

Adamczyk, A.

• Katedra Metrologii i Systemów Elektronicznych, Politechnika Gdańska

• Katedra Metrologii i Systemów Elektronicznych, Politechnika Gdańska

Bibliografia

• [1] Toczek W.: Testery wbudowane (BIST) układów analogowych i mieszanych sygnałowo. Elektronika 6/2002, s. 34-37.
• [2] Czaja Z.: Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów. Diagnostyka Vol. 30, tom. 1, 2004, s. 119-122.
• [3] Buckroyd A.: In-Circuit Testing. Butterworth-Heinemann, 1994 Oxford.
• [4] Van de Plassche R.: Scalone przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe. WKŁ, Warszawa 2001, s. 287-294.
• [5] Adamczyk A., Zielonko R.: BIST Oriented Method for Fault Diagnosis of Analogue and Mixed Signal Circuits. Metrologia i Systemy Pomiarowe, kwartalnik PAN, tom 7, nr 1/2000, s. 3-11.
• [6] Adamczyk A.: Taxonomical Built-In Fault Detector for Nonlinear Analog Circuits with Digital Testing Bus. TC-10 IMEKO Conference 1999, 22-24 september 1999, Wrocław, s. 68-73.
• [7] Adamczyk. A.: Identyfikacja punktu pracy uszkodzonego układu elektronicznego na podstawie ograniczonej informacji pomiarowej. III Krajowa Konferencja Metody i systemy komputerowe, Kraków 2001.
• [8] Toczek W., Zielonko R., Adamczyk A.: A method for fault diagnosis of nonlinear electronic circuits. Measurement, Journal of the Intern. Measurement Confeder. IMEKO, nr 24, 1998, s. 79-86.
• [9] Brandt S.: Analiza danych, Wyd. PWN, Warszawa 1998, str. 415-416.