Ocena stopnia starzenia warystorów tlenkowych pod wpływem narażeń impulsowych z wykorzystaniem spektroskopii dielektrycznej

• Autorzy: Pospieszna, J. , Jaroszewski, M. , Motyl, E.

Warianty tytułu

EN

An assessment of the extent of ageing of oxide varistors exposed to pulse hazards using dielectric spectroscopy

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono wyniki badań wpływu wybranych narażeń prądowych na zjawisko transportu ładunku w warystorowej ceramice tlenkowo-cynkowej. W badaniach wykorzystano metodę spektroskopii dielektrycznej (pomiary częstotliwościowej odpowiedzi dielektrycznej przy różnych temperaturach próbki) oraz metodę termicznie stymulowanej konduktywności.

EN

The results of investigations of select current exposure effect on charge transport in varistor zinck-oxide ceramics have been presented. The method of dielectric spectroscopy (mmeasurements of frequency dielectric response, at different temperatures of sample) and thermally stimulated conductivity techique were used in these investigations.

• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2001
• Tom: R. 77, nr 7-8
• Strony: 204-207
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., 6 rys.

Twórcy

autor

Pospieszna, J.

• Instytut Podstaw Elektrotechniki i Elektrotechnologii, Politechnika Wrocławska

autor

Jaroszewski, M.

• Instytut Podstaw Elektrotechniki i Elektrotechnologii, Politechnika Wrocławska

autor

Motyl, E.

• Instytut Podstaw Elektrotechniki i Elektrotechnologii, Politechnika Wrocławska

Bibliografia

• [1] Matsuura M., Yamaoki H.: Dielectric Dispersion and Equivalent Circuit in Nonohmic ZnO Ceramics, Japan J Appl. Phys., 1977, Vol 16, No 7, pp. 1261-1262.
• [2] Hozer I.: Półprzewodnikowe materiały ceramiczne z aktywnymi granicami ziarn, Warszawa. PWN. 1990.
• [3] Eda K.: Conduction mechanism of non-Ohmic zinc oxide ceramics. J. Appl. Phys., 1978, Vol. 49, No. 5, pp. 2964-2972.
• [4] Eda K.: Zinck oxide varistors. IEEE Electrical Instil. Magazine, 1989, Vol. 5, No 6.
• [5] Chiang Y., Kingery W.D.: Compositional changes adjacent to grain boundaires during electrical degradation of aZnO varistors; J. Appl. Phys. 53(3), March 1982, pp. 1765-1768.
• [6] Jonscher A.K., Bozdemir S.: All Forms of Relaxation Take Place in Fractal Time, IEEE Electrical Instd. Magazine, 1995, Vol. 11, No 2, pp. 30-33.
• [7] Jonscher A.K.: The „Universal” Dielectric Response, Part I, IEEE Electrical Insul Magazine, 1990, Vol. 6, No 2. pp. 16-22.
• [8] Jonscher A.K.: The „Universal” Dielectric Response, Part U. IEEE Electrical Insal. Magazine. 1990, Vol. 6, No 3, pp. 24-28.
• [9] Jonscher A.K.: The „Universal" DielectricResponse, Part III. IEEE Electrical htsttl. Magazine. 1990, Vol. 6, No 4, pp. 19-24.
• [lO] Jonscher A K., Levesque L.: Volume Low-Frequency Dispersion in a Semi-Insulating System, IEEE Trans. on Electrical Instil., 1988, Vol. 23, No 2, pp. 209-213.
• [11] Scarpa P.C.N., Bulinski A.T., Bamji S., Das-Gupta D.K.: Dielectric Spectroscopy of AC Aged Polyethylene in the Frequency Range of 10-5 Hz to 106 Hz, Annual Report Conf. on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena, Virginia, USA, 1995, pp. 81-84.