Warianty tytułu
Języki publikacji
Abstrakty
Współczesne systemy pomiarowe są skomplikowane i to zarówno ze względu na sprzęt, jak i oprogramowanie w nich wykorzystywane. Możliwości tego pierwszego są znacząco rozszerzane przez programy, pisane nie tylko przez producentów sprzętu pomiarowego, ale również inżynierów obsługujących procesy przemysłowe. W celu ułatwienia im zadania zaproponowano zintegrowane środowiska programowe - wyspecjalizowane pakiety projektowe, nastawione na szybkie tworzenie programów zdolnych do obsługi sprzętu wykorzystywanego w laboratorium czy fabryce. W artykule scharakteryzowano najpopularniejsze środowiska, przedstawiono ogólne zasady projektowania aplikacji pomiarowej, a także zaprezentowano przykładowe zastosowania przemysłowe.
Słowa kluczowe
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
62-66
Opis fizyczny
Bibliogr. 10 poz., il.
Twórcy
autor
- Szkoła Główna Gospodarstwa Wiejskiego
Bibliografia
- 1. W. Winiecki, Organizacja komputerowych systemów pomiarowych, Oficyna Wydawnicza PW, Warszawa 1997.
- 2. NI LabWindows/CVI: 20 Years of Reliability, http://www.ni.com/lwcvi/
- 3. LabVIEW: 20 Years of Innovation, http://www.ni.com/labview/
- 4. Agilent VEE Pro 8.0, http://www.home.agilent.com/agilent/
- 5. TestPoint v7. Software for designing test and measurement applications, http://www.measurementcomputing.com/testpoint.html
- 6. NI Measurement Studio, http://www.ni.com/mstudio/
- 7. VISA Specification, http://www.ivifoundation.org/Downloads/Class%20Specifications/vpp43.pdf
- 8. Solving a Machine Vision Application with NI Vision Builder forAutomated Inspection, http://zone.ni.com/devzone/cda/tut/p/id/4127
- 9. Customer Solutions Wireless Data Collection System Across a Large Area, http://sine.ni.com/csol/cds/item/vw/p/id/730/nid/124300
- 10. http://www.keithley.com/products/dmm
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPB8-0013-0017