Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
2000 | T. 21, nr 2 | 101-117
Tytuł artykułu

Zmiany zawartości tlenu w warstwie wierzchniej utlenionej folii polietylenowej zachodzące podczas badań metodą XPS

Autorzy
Warianty tytułu
EN
Changes in oxygen content in surface layer of oxidized PE film occuring during tests with XPS method
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W artykule przedstawiono wyniki badań utleniania warstwy wierzchniej aktywowanej folii polietylenowej, wykonane metodą spektroskopii fotoelektronowej. Badano warstwy tej folii o średniej głębokości równej 0,6 nm, 1,9 nm i 3,7 nm, co odpowiada kątom emisji fotoelektronów : 10 stopni, 30 stopni i 90 stopni. Stwierdzono wpływ oddziaływania promieniowania rentgenowskiego i ultrawysokiej próżni, powodujących desorpcję tlenu z warstwy wierzchniej. W przypadku folii aktywowanej z dużą jednostkową energią aktywowania (Ej>35 kJ/metr kwadratowy) desorpcja ta powoduje zmniejszenie ilości tlenu w zewnętrznej warstwie folii o grubości około 2 nm do poziomu niższego niż w warstwie leżącej głębiej. Zjawisko to jest jednym ze źródeł błędów pomiarowych spektroskopii fotoelektronowej, stosowanej podczas badań utlenienia warstwy wierzchniej folii polietylenowej.
EN
The results of investigating the oxidation process of surface layers of PE film using XPS method have been presented. The tests have been carried out on different average depths of layers, namely 0.6, 1.9, and 3.7 nm, corresponding with different angles of photoelectron emission, i.e. 10 degrees, 30 degrees and 90 degrees, respectively. The effect of using X-radiation and ultra-high vacuum causing oxygen desorption from the surface layer has been stated. In case of PE film subjected to specific treating energy of high value (Ej>35kJ/square meter) the desorption diminishes the oxygen content in a surface layer of 2 nm in thickness to a lower level than in deeper layers. This phenomenon is one of the measurement errors occuring in photoelectron spectroscopy when testing the oxidation degree of PE film surface layer.
Wydawca

Rocznik
Strony
101-117
Opis fizyczny
Bibliogr. 10 poz., rys., tab.
Twórcy
  • Instytut Przetwórstwa Tworzyw Sztucznych "Metalchem", ul M. Skłodowskiej-Curie 55, 87-100 Toruń
Bibliografia
  • [1] Surface Analysis - the Principal Techniques, J. C. Vickerman, red., Wiley, Chichester 1997.
  • [2] C. M. Chan: Polymer Surface Modification and Characterization, Hanser, Nowy Jork 1994.
  • [3] Patent USA, nr 3 018 189, 1962.
  • [4] Patent USA, nr 3 640 773, 1962.
  • [5] Patent USA, nr 3 113 208, 1963.
  • [6] M. Żenkiewicz, Modyfikacja właściwości adhezyjnych warstwy wierzchniej folii polietylenowej metodą wyładowań niezupełnych. Zesz. Nauk. Pol. Śląskiej nr 1052, Mechanika, z. 98, Gliwice 1990.
  • [7] K. Siegbahn, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom., 51, 11 (1990).
  • [8] J. J. Piereaux et al., J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom., 52, 423 (1990).
  • [9] Practical Surface Analysis, D. Briggs, M. P. Seah, red., Wiley, Chichester 1996.
  • [10] M. Żenkiewicz, J. Gołębiewski, Polimery, 44, 246 (1999).
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BOS3-0002-0004
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.