Czasopismo
1998
|
R. 48, z. 1-2
|
55-73
Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Warianty tytułu
Mikrostruktury dendrytyczne odlewniczych stopów Al-Si - analiza wskaźników stopnia dyspersji
Języki publikacji
Abstrakty
The methods to evaluate the degree of dendritic structure dispersion in hypoeutectic Al-Si alloys were examined. The technique of direct measurement of dendrite arm and axis spacing was discussed and some criteria of the choice of stereological parameters used as a measure of this spacing were described. The results of measurements of the secondary dendrite arm spacing lambda2 and of the mean chord length and dendrite axis spacing were quoted. A statistical analysis of the results was made and some relationships exiting between the measured structural parametres were derived.
W pracy przeanalizowano metody oceny stopnia dyspersji struktury dendrytycznej w podeutektycznych stopach Al-Si. Omówiono metodę bezpośredniego pomiaru odległości ramion i osi dendrytów oraz kryteria doboru parametrów stereologicznych, stosowanych jako ich miara. Przedstawiono wyniki pomiarów odległości ramion dendrytów II rzędu lambda2 oraz długości średniej cięciwy i odległości osi dendrytów. Przeprowadzono statystyczną analizę wyników i wyznaczono zależności pomiędzy mierzonymi parametrami struktury.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
55-73
Opis fizyczny
Bibliogr. 9 poz.,Fot., tabl.,
Twórcy
autor
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BAT2-0001-0331