Warianty tytułu
From metrology to video systems - NI LabVIEW environment in research laboratories
Języki publikacji
Abstrakty
Omówiono badania prowadzone w laboratoriach Pracowni Układów Elektronicznych i Przetwarzania Sygnałów Politechniki Poznańskiej, związane z kierunkiem automatyka i robotyka.
The paper discusses research conducted at Electronic Circuits and Signal Processing Laboratories of Poznań University of Technology, connected with "Automatics and roboties" branch.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
42-44
Opis fizyczny
Bibliogr. 12 poz.
Twórcy
autor
autor
autor
autor
autor
autor
autor
- Politechnika Poznańska, Wydział Informatyki
Bibliografia
- [1] Tenhunen H.: European Workshop on Microelectronic Education EWME'04. sanne, 2004
- [2] Dąbrowski A. i in.: Wykorzystanie NI LabVIEW, ELVISII, CompactDAQ i SmartCamera z osprzętem w kształceniu studentów w Pracowni Układów Elektronicznych i Przetwarzania Sygnałów Politechniki Poznańskiej. National Instruments Academic & Research Days, Warszawa, Wrocław 2010, https://lumen.ni.com/nicif7us/seminar slides42/pldmardaysfiip2010q2/content.xhtml, pp. 07.1-07.27
- [3] LabVIEW Help June 2010, 371361G-01. National Instruments 2010
- [4] NI ELVIS II, Educational Laboratory Virtual Instrumentation Suite. National Instruments 2011
- [5] Integrated Suite of 12 Instruments for Hands-On, Multidiscipline Education. National Instruments 2009
- [6] Chwaleba A., Poniński M., Siedlecki A.: Metrologia elektryczna. WNT, Warszawa 2007
- [7] MCU Project Board Student Learning Kit (PBMCUSLK), Prototyping Board with Microcontroller Interface. Freescale Semiconductor Inc., User manual, 2007/7
- [8] CSMB-12C128 Low Cost Demo Board for the Freescale MC9S12C128, Axman 2011 http://www.axman.com/?q=book/export/html/325
- [9] CodeWarrior Development Studio for Microcontrollers Quick Start. Freescale Semiconductor Inc. 2008
- [10] NI Vision Assistant Tutorial, National Instruments 2004
- [11] Smart cameras for embedded machine vision. National Instruments 2008
- [12] NI Vision Builder for automated inspection. National Instruments 2006
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BAR8-0012-0077