Metodyka doboru parametrów i struktury wielopunktowego systemu pomiarowego do tomografii impedancyjnej

• Autorzy: Oskwarek, Ł.

Warianty tytułu

EN

Methodology of parameters and structures selection of multi-point measurement system for impedance tomography

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiony został sposób przeprowadzania analizy metrologicznej systemu pomiarowego do tomografii impedancyjnej. Prezentowane dwa różne modele wielopunktowych systemów pomiarowych zostały wykorzystane przede wszystkim w celu badania wpływu dokładności pomiarów na uzyskiwane wyniki pomiarów i rekonstrukcji obrazu dla różnych parametrów i struktur dedykowanego systemu pomiarowego.

EN

The way of metrological analysis in Electrical Impedance Tomography (EIT) is presened. Two different models of multi-point measurement systems, described in the paper, have been used first of all for investigation of the influence of measurement accuracy on the obtaind measurement and reconstrucfion results for different structures and parameters of dedicated EIT System.

Słowa kluczowe

PL

tomografia impedancyjna; rozkład konduktywności; wielopunktowy system pomiarowy; niepewność pomiaru

EN

electrical impedance tomography; conductivity distribution; multi-point measurement system; results uncertainty

• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2004
• Tom: R. 80, nr 7-8
• Strony: 743-747
• Opis fizyczny: Bibliogr. 14 poz., rys.

Twórcy

autor

Oskwarek, Ł.

• POlitechnika Warszawska, Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Systemów Informacyjno-Pomiarowych

Bibliografia

• [1] Electical Impedance Tomography. http://www.eit.org.uk
• [2] Filipowicz S.F., Rymarczyk T.: Tomografia Impedancyjna – pomiary, konstrukcje i metody tworzenia obrazów. Wyd. BELL Studio Sp. z o.o., Warszawa 2003
• [3] Sikora J.: Algorytmy numeryczne w tomografii impedancyjnej. Wyd. Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2000
• [4] Giza Z.: Metody identyfikacji rozkładu parametrów materiałowych w Impedancyjnej Tomografii Komputerowej. Rozprawa doktorska, Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Systemów Informacyjno-Pomiarowych PW, Warszawa 2001
• [5] Nita K.: Model funkcjonalny tomografu impedancyjnego i badania eksperymentalne. Praca dyplomowa magisterska, Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Systemów InformacyjnoPomiarowych PW, Warszawa 2002
• [6] Nita K., Tarnowski P., Filipowicz S., Giza Z., Sikora J.: Tomograf impedancyjny. Materiały Konferencji XXIV-ICSPETO-2001, Gliwice-Ustroń, 23.05-26.05.2001, tom II, 523-526
• [7] Oskwarek Ł.: Metodyka doboru parametrów i struktury wielopunktowego systemu pomiarowego do Tomografii Impedancyjnej. Rozprawa doktorska, Instytut Elektrotechniki Teoretycznej i Systemów Informacyjno-Pomiarowych PW, Warszawa 2003
• [8] Rak R.J.: Wirtualny przyrząd pomiarowy – realne narzędzie współczesnej metrologii. Wyd. Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2003.
• [9] Oskwarek Ł.: Analiza źródeł niepewności wyników pomiarowych w impedancyjnej tomografii komputerowej”. Materiały Kongresu KKM’2001, Warszawa, 24.06-27.06.2001, tom II, s. 545–548.
• [10] Szczepanik Z., Rucki Z.: Frequency Analisis of Electrical Impedance Tomography System. IEEE. Trans. on Instrumentation and Measurement, (August 2000), Vol. 49, No. 4, pp. 844-851.
• [11] Oskwarek Ł.: Metodyka oceny metrologicznej wielopunktowego systemu pomiarowego do tomografii impedancyjnej. Materiały Konferencji TC-1 & XXXIV MKM, Wrocław, 08.09-12.09.2002, tom II, s. 31-38.
• [12] Górecki M., Wołosiak J.: Model systemu tomografii impedancyjnej. Praca dyplomowa, Inst. Elektrotechniki Teoretycznej i Miernictwa Elektrycznego PW, Warszawa, 2002
• [13] Wyrażanie niepewności pomiaru. Przewodnik, GUM, 1999
• [14] Turzeniecka D.: Zakresy stosowania przybliżonych metod oceny niepewności całkowitej. Pomiary Automatyka Kontrola, (2000), nr 9, 17-21