Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
2010 | T. 62, nr 1 | 65-69
Tytuł artykułu

Złącza CoSb3/Cu z barierami dyfuzyjnymi otrzymanymi techniką rozpylania magnetronowego

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Warianty tytułu
EN
CoSb3/Cu junctions with diffusive barriers obtained by the magnetron sputtering technique
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Przedmiotem pracy jest opracowanie złącz kontaktowych pomiędzy półprzewodnikowym materiałem termoelektrycznym CoSb3, a elektrodą miedzianą oraz dobór odpowiednich warstw ochronnych hamujących procesy dyfuzji na granicy złącz. Złącza CoSb3/Cu wytwarzane były techniką lutowania rezystancyjnego w atmosferze gazów ochronnych (90% Ar + 10% H2) z użyciem lutów Ag-Cu. Bariery dyfuzyjne (Ni, Mo, Cr80Si20) nanoszono metodą rozpylania magnetronowego na elementy wykonane z polikrystalicznego CoSb3. Mikrostrukturę oraz skład chemiczny złącz badano za pomocą elektronowego mikroskopu skaningowego (SEM) z rentgenowskim analizatorem dyspersji energii EDX. Badania parametrów elektrycznych złącz kontaktowych takich jak rezystancja, charakterystyki prąd-napięcie, wykonano na specjalnie przygotowanym do tego celu stanowisku pomiarowym. Przeprowadzono pomiary współczynników rozszerzalności cieplnej materiału termoelektrycznego oraz lutowia.
EN
The goal of the present work was to develop the junctions between CoSb3 semiconducting thermoelectric material and a copper electrode,as well as the selection of appropriate protective layers, which inhibit diffusion processes at a junctions area. The CoSb3/Cu junctions were formed by resistance soldering technique in the protective atmosphere of 90% Ar + 10% H2, using Ag-Cu based solders. Diffusion layers (Ni, Mo, Cr80Si20) were prepared by magnetron sputtering technique and deposited on polycrystalline element made of CoSb3. The microstructural properties and chemical compositions of the junction area were analyzed by a scanning electron microscope (SEM) equipped with energy-dispersive X-ray analyzer (EDX). Measurements of electrical properties of the junctions such as resistance and current–voltage characteristics were performed on an apparatus designed especially for this purpose. Thermal expansion coefficients of the thermoelectric material and the solder were also characterized.
Wydawca

Rocznik
Strony
65-69
Opis fizyczny
Bibliogr. 11 poz., rys., wykr., tab.
Twórcy
autor
autor
  • Akademia Górniczo-Hutnicza, Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki, Katedra Chemii Nieorganicznej, al. Mickiewicza 30, 30-059 Kraków, zybala@agh.edu.pl
Bibliografia
  • [1] Bandhari C.M. and Rowe D.M.: CRC Handbook of thermoelectrics. CRC Press, Boca Raton (1995).
  • [2] Rowe D.M.: Renew. Energy 16, (1999), 1251–1255.
  • [3] Wojciechowski K.T., Tobola J., Leszczyński J.: J. Alloy. Compd., 361, (2003), 19–27.
  • [4] Sales B.C., Mandrus D., Willams R .K.: Science, 272, (1996), 1325–1328.
  • [5] Nolas G.S., Cohn J.L., Slack G.A.: Phys Rev B, 58, (1998), 164–167.
  • [6] Mondt, J., Johnson, K., Fleurial, J-P., El-Genk MS., Frye, P., Determan, B. W.: Proc space technology and applications international forum (STAIF-2005), AIP conference proceedings no. 746. Melville, NY: American Institute of Physics, (2005), 495–502.
  • [7] Fan J.F., Chen L.D., Bai S.Q., Shi X.: Mater. Lett., 58, (2004), 3876-3878.
  • [8] Zhao D.G., Li X.Y., Jiang W., Chen L.D.: Intermetallics, 17 , (2009), 136–141.
  • [9] Zhao D.G., Li X.Y., Jiang W., Chen L.D.: J. Alloy. Compd., 477, (2009), 425–431.
  • [10] Zybala R., Wojciechowski K., Schmidt M., Mania R.: Proc. 11th ECerS Conf., Kraków, ISBN 978-83-60958-54-4, PTCer, (2009), 341-344.
  • [11] Luo H-T., Chen S-W.: J. Mater. Sci., 31, (1996), 5059-5067.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-AGH1-0022-0085
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.