Warianty tytułu
Preparation of antireflection coatings by the sol-gel method
Języki publikacji
Abstrakty
Przedmiotem badań było otrzymywanie warstw antyrefleksyjnych wytwarzanych techniką zol-żel. W szczególności analizowano stabilność długoczasową zolu. Badano również wpływ starzenia na parametry antyrefleksyjne i porowatość powłok. Współczynnik załamania, porowatość i grubość warstw wyznaczono w oparciu o pomiary elipsometryczne. Stwierdzono, że z czasem starzenia współczynnik załamania powłoki maleje co pogarsza jej własności antyrefleksyjne. Porowatość wzrasta z ok. 26%, dla roztworu wyjściowego, do ok. 50% po czasie 185 dni. Badany zol wykazuje technologiczną stabilność w czasie ok. 30 dni.
Preparation of antireflection coatings by a sol-gel method was the subject of this study. In particular, long-term stability was the main concern. The influence of aging on antireflection parameters and porosity was also studied. Refractive index, porosity and thickness of the layers were estimated on the base of ellipsometric measurements. It was found that the refractive index lowers with time of aging making worse antireflection properties of the coatings. Porosity increases from 26% for the freshly prepared sol up to about 50% after 185 days of aging. The sol of studied composition is technologically stabile within 30 days.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
46-50
Opis fizyczny
Bibliogr. 7 poz., rys., wykr., tab.
Twórcy
autor
autor
autor
- Akademia Górniczo-Hutnicza, Wydział Inżynierii Materiałowej i Ceramiki, al. Mickiewicza 30, 30-059 Kraków, nocun@agh.edu.pl
Bibliografia
- [1] Szui-yang Lien S.Y., Dong-Sing Wuun D.-S., Wen-Chang Yeh W.C., Jun-Chin Lin J.-C.: „Tri-layer antireflection coatings (SiO2/SiO2-TiO2/TiO2) for silicon solar cells using a sol-gel technique”, Solar Energy Materials & Solar Cells, 90, (2006), 2710.
- [2] Morales A., Duran A., J. Sol-Gel Sci. Technol., 8, (1997), 451.
- [3] Nocuń M., Ceramika, vol. 98, Kraków 2007.
- [4] Pulker H.K., Coatings on Glass, Thin Films Science and Technology, vol.6, Elsevier, Amsterdam 1984.
- [5] Bach H., Krause D.: Thin Films on Glass, Springer-Verleg, Heidelberg, Berlin 1997.
- [6] Brudzewski K.: Wstęp do elipsometrii, Wydawnictwo Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1983.
- [7] Azzam R.M.A., Bashara N.M.: Ellipsometry and polarized light, North-Holland Publishing Company, 1977.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-AGH1-0022-0081