Mikroskopia bliskich oddziaływań w badaniach materiałów oraz struktur elektrycznych i elektronicznych

• Autorzy: Sikora, A.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

mikroskopia sił atomowych; badanie materiałów; badanie struktury

EN

atomic force microscopy (AFM); materials testing; structure examination

• Czasopismo: Nowa Elektrotechnika
• Rocznik: 2008
• Tom: nr 11 (51)
• Strony: 3--6
• Opis fizyczny: rys., wykr.

Twórcy

autor

Sikora, A.