Projektowanie filtrów analogowych do modułów cyfrowego przetwarzania sygnałów

• Autorzy: Marciniak, Tomasz , Cetnarowicz, Damian , Pawłowski, Paweł , Dąbrowski, Adam

Warianty tytułu

EN

Designing of analog filters for digital signal processing modules

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono wybrane zagadnienia dydaktyczne projektowania, symulacji oraz testowania analogowych filtrów wejściowych i wyjściowych przeznaczonych do układów cyfrowego przetwarzania sygnałów. Prace projektowe ułatwiają pakiety oprogramowania. Prototypowe filtry można testować z wykorzystaniem płytki stykowej lub modułów ewaluacyjnych np. System Lab Kit ASLK. W artykule pokazano możliwości szybkiego sprawdzenia poprawności działania takich filtrów za pomocą systemu Analog Discovery 2 oraz oprogramowania WaveForms.

EN

The article presents selected didactic issues of design, simulation, and testing of analog input and output filters intended for digital signal processing systems. The design process of such filters is facilitated by software packages. Designed filters can be tested using the so-called breadboard or evaluation modules, e.g., System Lab Kit ASLK. The possibility of quickly checking the correctness of such filters using the Analog Discovery 2 system and the WaveForms software has been shown.

Słowa kluczowe

PL

cyfrowe przetwarzanie sygnałów; CPS; filtr antyaliasingowy; filtr rekonstrukcyjny

EN

digital signal processing; DSP; antialiasing filter; reconstruction filter

• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2019
• Tom: R. 95, nr 10
• Strony: 125--129
• Opis fizyczny: Bibliogr. 12 poz., rys.

Twórcy

autor

Marciniak, Tomasz

• Wydział Informatyki, Instytut Automatyki i Robotyki, Zakład Układów Elektronicznych, i Przetwarzania Sygnałów, Politechnika Poznańska, ul. Jana Pawła II 24, 60-965 Poznań,

autor

Cetnarowicz, Damian

• Wydział Informatyki, Instytut Automatyki i Robotyki, Zakład Układów Elektronicznych, i Przetwarzania Sygnałów, Politechnika Poznańska, ul. Jana Pawła II 24, 60-965 Poznań,

autor

Pawłowski, Paweł

• Wydział Informatyki, Instytut Automatyki i Robotyki, Zakład Układów Elektronicznych, i Przetwarzania Sygnałów, Politechnika Poznańska, ul. Jana Pawła II 24, 60-965 Poznań,

autor

Dąbrowski, Adam

• Wydział Informatyki, Instytut Automatyki i Robotyki, Zakład Układów Elektronicznych, i Przetwarzania Sygnałów, Politechnika Poznańska, ul. Jana Pawła II 24, 60-965 Poznań,

Bibliografia

• [1] Hasse L., Karkowski Z., Spiralski L., Kołodziejski J., Konczakowska A.: Zakłócenia w aparaturze elektronicznej. Radioelektronik Sp. z o.o., Warszawa, 1995.
• [2] Gajewski P., Turczyński J.: Cyfrowe układy scalone CMOS. WKŁ, Warszawa, 1990.
• [3] Rashid M.H., Rashid H.M.: Spice for Power Electronics and Electric Power, 2006, CRC press.
• [4] Maksimovic D., Stankovic A.M., Thottuvelil V.J., Verghese G.C.: Modeling and simulation of power electronic converters, Proceedings of the IEEE, Vol. 89, No. 6, 2001, s. 898-912.
• [5] Wilamowski B., Jager R.C.: Computerized circuit Analysis Using SPICE Programs, McGraw-Hill, New York, 1997.
• [6] Górecki P., Górecki K., Zarębski J.: Modelling the temperature influence on dc characteristics of the IGBT, Microelectronics Reliability, Vol. 79, 2017, pp. 96-103. PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY, ISSN 0033-2097, R. 95 NR 10/2019 133
• [7] Zarębski J., Górecki K.: SPICE-aided modelling of dc characteristics of power bipolar transistors with selfheating taken into account, International Journal of Numerical Modelling Electronic Networks, Devices and Fields, Vol. 22, No. 6, 2009, pp. 422-433.
• [8] Zarębski J., Górecki K.: The electrothermal large-signal model of power MOS transistors for SPICE. IEEE Transaction on Power Electronics, Vol. 25, No. 5-6, 2010, pp. 1265 - 1274.
• [9] Górecki K., Zarębski J.: Modeling Nonisothermal Characteristics of Switch-Mode Voltage Regulators, IEEE Transactions on Power Electronics, Vol. 23, No. 4, 2008, pp. 1848-1858.
• [10] Zarębski J., Dąbrowski J.: Investigations of SiC merged pin Schottky diodes under isothermal and non-isothermal conditions, International Journal of Numerical Modelling - Electronic Networks, Devices and Fields, Vol. 24, No. 3, 2011, pp. 207-217.
• [11] Starzak Ł., Zubert M., Janicki M., Torzewicz T., Napieralska M., Jabloński G., Napieralski A.: Behavioral approach to SiC MPS diode electrothermal model generation, IEEE Transactions on Electron Devices, Vol. 60, No. 2, 2013, pp. 630-638.
• [12] Górecki K.: A new electrothermal average model of the diodetransistor switch. Microelectronics Reliability, Vol. 48, No. 1, 2008, pp. 51-58.
• [13] Schurack E., Rupp W., Latzel T., Gottwald A., Analysis and Measurement of Nonlinear Effects in Power Amplifiers Caused by Thermal Power Feedback, IEEE International Symposium on Circuits and Systems - ISCAS'92, Vol. 2, San Diego 1992, pp. 758-761.
• [14] Herman A., Kalestyński A., Widomski L.: Podstawy fizyki dla kandydatów na wyższe uczelnie. PWN, Warszawa, 1984.

Uwagi

Opracowanie rekordu w ramach umowy 509/P-DUN/2018 ze środków MNiSW przeznaczonych na działalność upowszechniającą naukę (2019).

Identyfikatory

DOI

10.15199/48.2019.10.28