Analiza porównawcza badań pól powierzchni przekrojów

• Autorzy: Kowaluk, T. , Ratajczak, E.

Warianty tytułu

EN

Comparative analysis of research of cross section areas of machine elements

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Celem pracy było porównanie pól powierzchni trzech różnych elementów za pomocą dwóch maszyn: tomografu komputerowego Metrotom 800 oraz maszyny optycznej OGP Zip. We wszystkich przypadkach zauważono istotny wpływ kroku próbkowania na wyniki największy wpływ podczas pomiaru elementów krzywoliniowych. Przeprowadzona analiza MANOVA wykazała ponadto, że istnieją istotne różnice w wynikach pomiarów uzyskanych na obu maszynach pomiarowych.

EN

The aim of the study was to compare the surface areas of three different elements using two machines: com-puter tomograph Metrotom 800 and optical machine OGP Zip. In all cases, significant influence of the sampling step on the results was noted. The greatest impact was noticed when measuring the curvilinear elements. The MANOVA analysis also revealed that there are significant differences in the results of measurements obtained from both measuring machines.

Słowa kluczowe

PL

analiza pola; tomografia komputerowa; pomiar optyczny

EN

cross section; computed tomography; optical measurement

• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2014
• Tom: R. 90, nr 8
• Strony: 216-219
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Kowaluk, T.

• Politechnika Warszawska, Wydział Mechatroniki, Instytut Metrologii i Inżynierii Biomedycznej, ul. Św. Andrzeja Boboli 8, 02-525 Warszawa,

autor

Ratajczak, E.

• Wyższa Szkoła Ekologii i Zarządzania, ul. Olszewska 12, 00-792 Warszawa,

Bibliografia

• [1] Ratajczyk E.: Współrzędnościowa Technika Pomiarowa. Ofic. Wyd. Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2005.
• [2] Ratajczyk E.: Tomografia komputerowa w pomiarach geometrycznych 3D. Pomiary Automatyka Kontrola PAK vol. 57, nr 2/2011 s. 220-223
• [3] Ratajczyk E.: Tomografia komputerowa CT w zastosowaniach przemysłowych. Mechanik nr 2/2011, s.112-117; nr 3/2011, s.226-231; nr 4/2011 s.326-331
• [4] Gapiński B., Wieczorowski M., Marciniak-Podsada L., Dybala B., Ziolkowski G.,: Comparison of different method of measurement geometry using CMM, optical scanner and computed tomography 3D. 24th DAAAM International Symposium on Intelligent Manufacturing and Automation, 2013
• [5] Wieczorowski M., Gapinski B.,: X-ray CT in metrology of geometric feature. ACTA Tehnica Corviniensis - Bulletin of Engineering, Tome VII (2014), pp.95-100
• [6] Dobosz M.: Wspomagana komputerowo statystyczna analiza wyników badań. Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT. Warszawa 2001.