Wstępne próby starzeniowe organicznych diod elektroluminescencyjnych

• Autorzy: Araźna, A. , Stęplewski, W. , Janeczek, K. , Kozioł, G. , Gromek, J.

Warianty tytułu

EN

Preliminary ageing tests of organic light emitting diodes

• Konferencja: Krajowa Konferencja Elektroniki (12 ; 10-13.06.2013 ; Darłówko Wschodnie ; Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy określano wpływ zmiennych warunków temperatury i wilgotności powietrza na stabilność diod OLED wykonanych w warunkach otoczenia. Badano próbki z trzema rodzajami związku emitującego światło oznaczonymi jako ADS5, ADS8 i MEH-PPV. Próbki ze związkami ADS5 i ADS8 przechowywano w warunkach obniżonej wilgotności powietrza, natomiast próbki ze związkiem MEH-PPV w zmiennych warunkach temperatury i wilgotności powietrza. Wyznaczano charakterystyki prądowo-napięciowe próbek bezpośrednio po wykonaniu i po testach starzeniowych w zakresie napięcia od 0 V do 20 V. Dla próbek ze związkami ADS5 i ADS8 odnotowano zmniejszenie wartości gęstości prądowej średnio o około 42% w porównaniu z wartością początkową (przy napięciu 15 V) po około 2700...3000 godzinach. Natomiast dla próbek ze związkiem MEH-PPV po 100 h przechowywania w komorze klimatycznej obserwowano zmniejszenie wartości gęstości prądowej o około 92% w porównaniu z wartością początkową.

EN

In the work the influence of environmental conditions on the stability of OLED samples mede in ambient condition was determined. The samples with three kinds of emitting layer (named as ADS5, ADS8 and MEH- PPV) were examined. The samples with ADS5 and ADS8 were stored in the lowered humidity of air conditions. However, the samples with MEH-PPV were ageing in climatic chamber. The characteristics curren- voltage for fresh and ageing samples in the range of voltage from 0 V to 20 V were made. They stated, that irrespective of the manner of storage, samples were undergoing the degradation. The decrease in value of the current density was registered. That was about 42% after 2700 -3000 hours (at tension 15 V) for the samples with ADS5 and ADS8, and about 92% after 100 hours for the samples stored in climatic chamber (with MEH-PPV).

Słowa kluczowe

PL

OLED; ITO; testy starzeniowe

EN

OLED; ITO; ageing tests

• Czasopismo: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
• Rocznik: 2013
• Tom: Vol. 54, nr 9
• Strony: 84-86
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., il., wykr.

Twórcy

autor

Araźna, A.

• Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa

autor

Stęplewski, W.

• Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa

autor

Janeczek, K.

• Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa

autor

Kozioł, G.

• Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa

autor

Gromek, J.

• Instytut Tele- i Radiotechniczny, Warszawa

Bibliografia

• [1] G. Vamvounis, H. Aziz, N-X. Hu, Z. D. Popovic, „Temperature dependence of operational stability of organic light emitting diodes based on mixed emitting layer”,Synth. Met., vol. 143, pp. 69-73, 2004.
• [2] Nenna, G. Flaminio, T. Fosolino, C. Minarini, R. Miscioscia, D. Palumbo, M. Pellegrino, „A study on thermal degradation of organic LEDs using IR imaging”, Macromol. Symp., vol. 247, pp. 326-332, 2007.
• [3] J. N. M. dos Anjos, H. Aziz, N.-H. Hu, Z. D. Popovic, „Temperatura dependence of electroluminescence degradation in organic light emitting devices without and with a copper phthalocyanine buffer layer”, Org. Electron. vol. 3, pp. 9-13, 2002.
• [4] Z. Y. Zhong, Y. D. Jiang, “Surface modification and characterization of indium-tin oxide for organic light-emitting devices”, J. Coll. Inter. Sci; vol. 302, pp. 613-619, 2006.
• [5] Z. Z. You, “Combined AFM, XPS, and contact angle studies on treated indium-tin-oxide films for organic light-emitting devices", Materials Letters, vol. 61, pp. 3809-3814, 2007.
• [6] A. Araźna, G. Kozioł, K. Janeczek, K Futera, W. Stęplewski, „Ocena chropowatości tlenku indowo-cynowego (ITO)”, Elektronika, vol. 53 pp. 29-30, 2012.
• [7] J. Steiger, S. Karg, R. Schmechel, H. von Seggern, „Ageing induced traps in organic semiconductors”, Synth. Met., vol. 122, pp. 49-52, 2001.