Badanie powierzchni szkła wiązką jonów

• Autorzy: Tuleta, M.

Warianty tytułu

EN

Investigation of glass surface using ion beam

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Powierzchnia szkła sodowo glinokrzemianowego była analizowana za pomocą spektrometrii masowej jonów wtórnych (SIMS). Badano wpływ wiązki jonów tlenu i argonu na profile głębokościowe poszczególnych składników szkła. Otrzymane wyniki interpretowano w oparciu o mechaniczne i polowe oddziaływanie wiązki jonów z powierzchnią szkła.

EN

The surface of sodium aluminosilicate glass was analysed by means of secondary ion mass spectrometry (SIMS). An influence of oxygen and argon ion beams on depth profiles of particular glass constituents was investigated. The results obtained were interpreted on the basis of the mechanical and field interactions of the ion beam with the glass surface.

Słowa kluczowe

PL

szkło; wiązka jonów; profile głębokościowe SIMS

EN

glass; ion beam; SIMS depth profiles

• Czasopismo: Materiały Ceramiczne
• Rocznik: 2013
• Tom: T. 65, nr 1
• Strony: 28--30
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Tuleta, M.

• Politechnika Krakowska, Instytut Fizyki, ul. Podchorążych 1, 30-084 Kraków,

Bibliografia

• [1] Wilson R.G., Stevie F.A., Magee C.W.: Secondary Ion Mass Spectrometry, A Practical Handbook for Depth Profiling and Bulk Impurity Analysis, John Wiley and Sons, New York, (1989).
• [2] McPhail D.S.: J. Mater. Sci., 41, (2006), 873.
• [3] Tuleta M.: Ceramika/Ceramics, 80, (2003), 135.
• [4] Tuleta M.: Vacuum, 74, (2004), 229.
• [5] Frischat G.H., Richter T., Borchard G., Scherrer S. w Advances in Ceramics, Vol. 22: Fractography of Glasses and Ceramics, Frechette V.D.,Varner J.R.(Red.), Am. Ceram. Soc., Westerville, Ohio, (1988), 85.