Badania własności optycznych cienkich warstw

• Autorzy: Tański, T. , Matysiak, W. , Jarka, P.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

cienkie warstwy; własności optyczne; spektroskopia UV-VIS

EN

thin films; optical properties; UV-VIS

• Czasopismo: LAB Laboratoria, Aparatura, Badania
• Rocznik: 2018
• Tom: R. 23, nr 2
• Strony: 14--16
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz., wykr.

Twórcy

autor

Tański, T.

• Zakład Technologii Procesów Materiałowych, Zarządzania i Technik Komputerowych w Materiałoznawstwie, Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych, Wydział Mechaniczny Technologiczny, Politechnika Śląska w Gliwicach

autor

Matysiak, W.

• Zakład Technologii Procesów Materiałowych, Zarządzania i Technik Komputerowych w Materiałoznawstwie, Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych, Wydział Mechaniczny Technologiczny, Politechnika Śląska w Gliwicach

autor

Jarka, P.

• Zakład Technologii Procesów Materiałowych, Zarządzania i Technik Komputerowych w Materiałoznawstwie, Instytut Materiałów Inżynierskich i Biomedycznych, Wydział Mechaniczny Technologiczny, Politechnika Śląska w Gliwicach

Bibliografia

• [1] M. Isik, N. Gasanly, Ellipsometry study of optical parameters of AgIn5S8 crystals, Physica B: Condensed Matter 478 (2015) 127–130.
• [2] E.R. Shaaban, M. El-Hagary, M. Emam-Ismail, S.H. Moustafa, A. Adel, Optical characterization of polycrystalline ZnSe1−xTex thin films using variable angle spectroscopic ellipsometry and spectrophotmetery techniques, Materials Science in Semiconductor Processing 39 (2015) 735–74.
• [3] J.S. Im, M.I. Kim, Y.S. Lee, Preparation of PAN – based electrospun nanofiber webs containing TiO2 for photocatalytic degradation, Materials Letters 62 (2008) 3652-3655.
• [4] Z. Kleszczewski, Wybrane zagadnienia z optyki falowej, Wydawnictwo Politechniki Śląskiej, Gliwice 2003.

Uwagi

Opracowanie rekordu w ramach umowy 509/P-DUN/2018 ze środków MNiSW przeznaczonych na działalność upowszechniającą naukę (2018).