Warianty tytułu
Atomic force microscopy - new quality of measurements
Języki publikacji
Abstrakty
Wydawca
Rocznik
Numer
Opis fizyczny
s.27-37,wykr.,fot.,bibliogr.
Twórcy
autor
- Zakład Projektowania Materiałów, Wydział Inżynierii Materiałowej, Politechnika Warszawska, Wołoska 141, 02-507 Warszawa
autor
- Zakład Projektowania Materiałów, Wydział Inżynierii Materiałowej, Politechnika Warszawska, Wołoska 141, 02-507 Warszawa
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.agro-ee69545d-dc36-4bb4-a418-8410021bb635