Pomiar cetek w masach makulaturowych za pomoca analizy obrazu skanera

• Autorzy: Klein R. , Schulze U.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

oprogramowanie; wyniki badan; metody badan; technika cyfrowa; przemysl papierniczy; kalibracja; masa makulaturowa; pomiary; kontrola jakosci; prace badawcze; komputerowa analiza obrazu; skanery

• Wydawca: -
• Czasopismo: Przegląd Papierniczy
• Rocznik: 2004
• Tom: 60
• Numer: 03
• Strony: 133-138
• Opis fizyczny: s.133-138,tab.,rys.

Twórcy

autor

Klein R.

• Papiertechnische Stiftung, Pirnauer Str.37, D-01809 Heidenau, RFN

autor

Schulze U.