PL
 |
EN
Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

PL EN

Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Czasopismo

World Scientific News

2018 | 113 |
Tytuł artykułu

Capacitance/resistance rodeling and analog performance evaluation of 3-D SOI FinFET structure for circuit perspective applications

Autorzy
Jain N. , Raj B.
Warianty tytułu
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
Słowa kluczowe
Wydawca
-
Czasopismo
World Scientific News
Rocznik
2018
Tom
113
Opis fizyczny
p.194-209,fig.,ref.
Twórcy
autor
Jain N.
  • Department of Electronics and Communication Engineering, Dr. B.R. Ambedkar National Institute of Technology (NIT), 144011 Jalandhar (Punjab), India
autor
Raj B.
  • Department of Electronics and Communication Engineering, Dr. B.R. Ambedkar National Institute of Technology (NIT), 144011 Jalandhar (Punjab), India
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikatory
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.agro-2add36a3-0a95-4d49-af81-61b8b3b33643
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.