Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 14

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  thickness measurement
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
Hexagonal boron nitride (h-BN) is an attractive material for applications in electronics. The technology of devices based on BN requires non-destructive and fast methods of controlling the parameters of the produced layers. Boron nitride layers of different thickness were grown on sapphire substrates (Al2O3) using the MOCVD method. The obtained films were characterized by FT-IR spectroscopy using IRR and ATR techniques and by the XRR and SEM methods. We showed that by analyzing the ATR or reflectance spectrum in the range of 600-2500 cm-1 we can measure the thickness of a BN layer on the Al2O3 substrate. Our measuring method allows measuring the layers with a thickness from ~2 nm to approx. 20 nm.
PL
Heksagonalny azotek boru (h-BN) jest atrakcyjnym materiałem do zastosowań w elektronice. Technologia wytwarzania urządzeń z zastosowaniem warstw h-BN wymaga nieniszczących i szybkich metod kontroli parametrów produkowanych warstw. Warstwy azotku boru o różnej grubości wyhodowano na podłożach szafirowych metodą MOCVD. Otrzymane warstwy scharakteryzowano za pomocą spektroskopii FT-IR z użyciem technik IRR i ATR oraz metodami XRR i SEM. Pokazaliśmy, że analizując widmo ATR lub odbicia w zakresie 600-2500 cm-1 można zmierzyć grubość warstwy BN na podłożu Al2O3. Nasza metoda pomiarowa pozwala na pomiar warstw o grubości od ~2 nm do ok. 20 nm.
EN
The paper presents research results of multilayer systems composed of alternate Cu/Ni layers. The layers thickness obtained by the galvanic treatment was determined by using the transmission electron microscopy and X-ray diffraction method in the grazing incidence diffraction geometry. The surface morphology was observed using scanning electron microscope with EDS microanalysis. Observation of the surface topography of systems using the atomic force microscope was also carried out.
PL
W ramach niniejszej pracy opracowano procedurę nieniszczącą, ilościowej oceny grubości warstw chromowych. Do tego celu wykorzystano metodę prądów wirowych, w zakresie analizy fazoczułej, czyli oceny zmian kąta fazowego impedancji w funkcji grubości warstwy. Taka analiza stosowana jest w przypadku pomiarów grubości warstw konduktywnych w zakresie grubości od kilku do kilkuset mikrometrów, wytworzonych na podłożu konduktywnym. Celem właściwej kalibracji parametrów pomiaru, zaprojektowano i wykonano po dwa zestawy próbek referencyjnych z warstwami chromowymi o grubości 15, 30 i 45 μm na podłożu ze stali stopowej 15HM oraz na staliwie węglowym L-200. Z obydwu zestawów próbek pobrano wycinki do badań metalograficznych, które pozwoliły na bezpośredni pomiar grubości warstwy na przygotowanych zgładach. Wyniki tych pomiarów potraktowano jako wartości referencyjne do dalszych badań. Warstwy chromowe uzyskano w procesie nakładania chromu technicznego metodą galwaniczną, przy parametrach zapewniających uzyskanie założonych grubości. Otrzymane wyniki pozwoliły potwierdzić możliwość ilościowej oceny warstw chromowych z dokładnością do 5 μm, z zastosowaniem komercyjnego urządzenia defektoskopowego przeznaczonego do badań metodą prądów wirowych.
EN
The work has developed non-destructive, quantitative evaluation of the thickness of chrome layers. For this purpose, the method of vortex currents in the phase-phase analysis was used, i.e. the assessment of phase angle change impedance as a function of layer thickness. Such analysis is used for conductive layer thickness measurements in the thickness range of several to several hundred micrometers produced on a conductive substrate. For the correct calibration of the measurement parameters, two sets of reference samples with 15, 30 and 45 μm thick chromium plating on a 15HM alloy steel base and L-200 carbon steel castings were designed and constructed. Both sets of specimens were sampled for metallographic studies, which allowed to directly measure the thickness of the layer on prepared drawings. The results of these measurements were treated as reference values for further investigations. Chromium layers were received in the process of the galvanic chromium plating, at the parameters which give the assumed thicknesses. The obtained results confirmed the possibility of quantitative evaluation of chrome layers to the nearest 5 μm, by usied a commercial defectoscope device for eddy current testing.
PL
W dobie dzisiejszych czasów konstruktorzy stają coraz częściej przed wyzwaniem zaprojektowania nadbudowy lub adaptacji istniejących budowli pod nowe obciążenia. Konieczne jest tym celu stosunkowo szybkie i ekonomiczne rozwiązanie w rozpoznaniu wszystkich elementów konstrukcji. W przypadku rozpoznania liczby i rozkładu prętów zbrojeniowych przydatne wydają się dostępne na rynku urządzenia ferromagnetyczne znane powszechnie pod nazwą skanery zbrojenia.
EN
In recent times, the designers, more and more often, face the challenge of designing an additional part of the building or a challenge of adapting the building in a way that would make it possible for its structure to withstand the newly imposed loads. In order to face the above challenges, it is required to create solutions, quickly and economically, which would make it possible to recognize the structure in case of all of the construction elements. In case when a need arises to find out the number and the distribution of the reinforcing bars, ferromagnetic devices, which are commonly known as reinforcement scanners, are particularly usable.
5
Content available Corrosion assessment using ultrasound
EN
Measurement and determination of the corrosion in the material is an important aspect of the structure safety. For that purpose article presents amplitude and time-of-flight C-scan method for thickness evaluation with single ultrasonic transducer. Test was performed using immersion setup with automated two-axis scanner.
PL
Pomiar i ocena korozji materiału jest istotnym aspektem dla zachowania bezpieczeństwa konstrukcji. Artykuł przedstawia dwie metody, C-scan amplitudowy i time-of-flight do pomiaru grubości przy użyciu jednego ultradźwiękowego przetwornika. Pomiar został dokonany w trybie zanurzeniowym przy użyciu dwu-osiowego skanera.
6
Content available remote Diagnostyka zabezpieczeń antykorozyjnych na potrzeby elektroenergetyki
PL
W artykule zaprezentowano możliwość wykorzystania wieloczęstotliwościowego sygnału pomiarowego do badania wielowarstwowych powłok antykorozyjnych. Symulację wykonano z zastosowaniem systemu pomiarowego DasyLab. Dokonano analizy możliwości ograniczenia błędów pomiarowych oraz przedstawiono sposoby zwiększania dokładności i niezawodności pomiarów. Zaprezentowane rozwiązania mogą posłużyć do kontroli i diagnostyki osprzętu oraz konstrukcji nośnych w elektroenergetyce.
EN
Article presents possibility of using multifrequency measuring signal for testing multilayer anticorrosion coatings. Simulation was performed using a measurement system DASYLab. Analysis of possibility of reducing measurement error and presents methods of increasing accuracy and reliability of measurement. Presented solution can be used to control and diagnostic equipment and supporting constructions in electroenergetics.
PL
W niniejszej pracy przedstawiono wyniki symulacji komputerowej badania zmian grubości blachy w wytłoczce podczas wybranych etapów procesu tłoczenia. Do analizy wykorzystano program Ansys Ls-Dyna. Zastosowano powłokowe elementy skończone typu Shell, w celu minimalizacji czasu obliczeń i możliwości obserwacji zmian grubości w trakcie całego procesu symulacji. Wyniki zweryfikowano z uprzednio przeprowadzonymi badaniami na elementach typu Solid.
EN
This paper presents the results of computer simulation research of changes in drawpiece thickness at selected stages of the drawing process. Ansys Ls-Dyna program has been used for this analysis. Shell finite elements has been used, to minimize the computation time and for the possibility of thickness changing observation during the whole process simulation. The results were verified with previously published studies with the Solid finite elements.
PL
W pracy przedstawiono techniki oparte na interferometrii niskokoherentnej jednoczesnego pomiaru współczynnika załamania i grubości struktur warstwowych. Zaproponowano dwie metody: pierwsza oparta jest na pomiarze położenia górnej powierzchni granicznej warstwy i jej grubości optycznej (położenie dolnej powierzchni granicznej powinno być znane wcześniej); druga oparta jest na wykorzystaniu dynamicznego ogniskowania wiązki laserowej. Przeprowadzone testy pokazały, że możliwy jest jednoczesny pomiar grubości geometrycznej warstwy z dokładnością 1µm i współczynnika załamania z dokładnością lepszą niż 0,01.
EN
The paper presents a technique based on Iow-coherence interferometry for simultaneous measurement of refractive index and thickness of layered structures. Two methods are proposed: the first one is based on the measurement of the position of the upper boundary surface of the layer and its optical thickness (the position of the Iower boundary surface of the layer should be known in advance), the second one is based on dynamie focusing of the laser beam that is used in the measuring system. Performed tests have shown that it is possible to simultaneously measure the geometrie thickness with the accuracy of 1 µm, and the refractive index of better than 0.01.
EN
Image analysis is an innovative solution in material characterization. One of the areas where image analysis can be put to use effectively is in establishing the thicknesses of coatings encountered in surface fi nishing applications. Galvanizing ranks among the most widely used corrosion protection techniques, and estimates of the useful service life of surface-finished substrate material hinge on establishing the correct thickness of the zinc layer applied in the galvanizing process. In applications where the fi lm thickness does not lend itself easily to measurements by common thickness gauges (such as on highly curved surfaces), a method which, in addition to fi lm removal by etching, is well-suited for measuring thicknesses is using the microscope. Prior to the measurement, polished metallographic sections are prepared from suitable specimens, and the measurement itself is conducted as per the standard EN ISO 1463 [1]. The thickness measurement proper is performed at regular intervals around the sample periphery, where the sample is allowed to travel within the optical system of the microscope and the readings are compared with a calibrated scale of the eyepiece. In case image analysis technique is used, the over-all, as-recorded image of the sample provides the input data for a software separation process by which the image of the Zn layer is isolated and, subsequently, evaluated using image analysis software. From comparisons of the results achieved it follows that the use of image analysis, which is also less time-consuming, yields more accurate results.
PL
Metoda analizy obrazu to nowoczesne rozwiązanie stosowane w charakterystyce materiałów. Metoda ta znajduje praktyczne zastosowanie m.in. w ustalaniu grubości powłok w procesie obróbki powierzchniowej. Cynkowanie jest metodą najszerzej stosowaną w ochronie przed korozją i założona trwałość pokrytego powłoką podłoża po obróbce powierzchniowej wpływa na ustalenie odpowiedniej grubości powłoki cynku nałożonego w procesie cynkowania. W przypadkach gdy grubości nie można w łatwy sposób zmierzyć za pomocą standardowych urządzeń pomiarowych (np. gdy powierzchnie są mocno zakrzywione), oprócz techniki polegającej na usunięciu powłoki przez wytrawienie zastosowanie znajduje również metoda mikroskopowa. Przed wykonaniem pomiaru przygotowane zostają wypolerowane próbki metalografi czne, a sam pomiar jest wykonywany według normy EN ISO 1463 [1]. Grubość właściwa mierzona jest w równych odstępach w obrębie próbki, gdy próbka przesuwana jest w polu widzenia systemu optycznego mikroskopu, zaś odczyty porównywane są ze skalibrowaną skalą na okularze. W przypadku zastosowania metody obróbki obrazu, dane wejściowe uzyskane bezpośrednio z zarejestrowanego obrazu zostają przesłane do odpowiedniego programu, który następnie izoluje warstwę cynku aby później poddać ją obróbce. Na podstawie porównania wyników ustalono, że zastosowanie metody obróbki obrazu pozwala na uzyskanie bardziej dokładnych wyników w krótszym czasie.
EN
This paper presents an automatic method that can measure the thickness of three-dimensional (3-D) braided composite preforms. The thickness of 3-D braided composite material preform is an important parameter of 3-D braided composites. With the development of 3-D braided composite technology, an automated measurement technology for thickness of braided composite preform has become an importantgoal. The objective of this paper is to present an automatic measuring system. The system we devised consisted of a computer, a proximity sensor, a pressure sensor, an analog-to-digital converter and pulse motor, etc. The measuring principle and results are discussed in the paper. The system was tested on both carbon and glass fibre preforms. We obtained very encouraging results. Experiments showed the pressure and eddy current resistance value are important parameters for measuring the thickness of 3-D braided composite material preforms. The measuring precision is higher when the pressure value ranges from 0.6kg/cm2 to 0.8kg/cm2 and the eddy current resistance is 2kW for preforms made of carbon-fibre than of other substances.
EN
Ellipsometry is a very powerful and totally nondestructive technique for determining optical constants, film thickness in multilayered systems, surface and interfacial roughness and material microstructure. Ellipsometric measurements can be made in vacuum, air and other environments. Ellipsometry has traditionally been used to determine film thickness and optical constants of dielectrics and optical coatings, semiconductors and heterostructures, magneto-optic, magnetic and opto-electronic materials, electrochemical, biological and medical systems and in surface modifications and surface roughness investigations. In situ measurements during crystal growth or material deposition are useful to study constituent fractions (including void fractions) in deposited or grown materials, surface oxide formation and film growth kinetics. Ellipsometric studies of metal, dielectric, semiconductor and organic layers carried out at the Institute of Physics of Wroclaw University of Technology by members of Thin Films Group are presented.
EN
The investigation of the optical properties of the novel polyarylates with heterocyclic side chain groups is reported. Optical properties of the polymers obtained have been measured. Mechanical and thermal properties are also presented. The refractive index n( lambda ) and susceptibility chi /sup (1)/ have been determined for different compositions of polymers.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.