Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 20

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  przetwornik A/C
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
W artykule przedstawiono wpływ opóźnienia spowodowanego pracą multiplexera wejściowego przetwornika A/C na dokładność pomiaru mocy czynnej i biernej. Analizę błędów pomiaru mocy czynnej i biernej (wynikającej z przesunięcia fazowego składowych podstawowych napięcia i prądu) przeprowadzono dla prądu i napięcia jednej fazy podczas zasilania silnika indukcyjnego klatkowego w stanie biegu jałowego. Badania eksperymentalne przeprowadzono dla sumarycznego czasu opóźnienia zmieniającego się od 0,35 s do 2 ms.
EN
The influence of the delay time resulting from the serial multiplexed measurement of the A/D converter on the accuracy of the active and reactive power calculations is presented in this paper. Calculations of the active and reactive power (resulting from the phase shift of the fundamental voltages and currents) are conducted for one phase current and voltage during the supply of the cage induction motor in a no load state. Experimental investigations are conducted for the total delay time varying from 0.35 s to 2 ms of the phase current with relation to a phase voltage.
PL
Często w celu wyznaczenia amplitudy i fazy pewnej harmonicznej sygnału próbkowanego przetwornikiem A/C korzysta się z DFT. Dokładność pomiaru wyznacza się numerycznie stosując metodę Monte-Carlo przy założeniu, że próbki nie są skorelowane między sobą. Założenie to jest błędne, gdy próbkuje się sygnał sinusoidalny. W artykule zostanie wyznaczony zbioru sygnałów sinusoidalnych, na podstawie którego można wyznaczyć amplitudę i fazę sygnału mono-harmonicznego próbkowanego. Przeprowadzono badania dokładności transformaty DFT.
EN
Signals probed with finite resolution ADC's are affected by quantization errors. If we assume that value of each probe is uncorrelated with the value of each other probe then we may assess the accuracy of the first harmonic determined by DFT using Monte-Carlo method [1]. But if we probe a sinusoidal signal it is an incorrect assumption. In the paper we analyze the set of the sinusoidal signals that are inevitably connected with acquired single harmonic signal probes. In the Figure 1 we can see that the set of probes may be generated by a few different signals. We prove that set of signals that give the same set of the probes represents a non-fragmented surface on the amplitude and phase angle plane (Fig. 2). Secondly we determine the set of signals for the specified set of probes D3 acquired by the simulated ADC. We construct function F represented by equation (9) which consists of the function which block diagram is presented in the Fig. 3. This function F is discrete so statistical methods must be used to determine the set of signals (A, φ) which give the maximal value [2]. Final shape of the set is given on the Fig. 5. Some experiment was conducted to check the accuracy of the DFT algorithm. The Figure 6 represent values of amplitudes acquired by DFT (triangles), amplitudes from the computed sets (dots) against number of acquired probes of the 1 V sinusoidal signal. The error bars corresponds to the extreme amplitudes (Fig. 6) in the set. The results differ, because DFT computes parameters of the first harmonic of the probes which only approximately represents the input signal. This method with modifications may be applied to the multi-harmonic signals. Keywords: signal sampling, ADC, periodic signal, amplitude and phase angle, mathematical analysis, DFT.
PL
W referacie przedstawiono system akwizycji danych pomiarowych z bardzo szybkim przetwornikiem analogowo-cyfrowym AD9484 Analog Devices. Stanowi on końcowy stopień systemu pomiarowego do identyfikacji i pomiarów wybranych parametrów impulsów elektromagnetycznych o bardzo dużej mocy [4]. Układ pomiarowy pozwala na przeprowadzenie badań związanych z bezpieczeństwem systemów teleinformatycznych narażonych na sygnały HPEM (ang. High Power Electromagnetics), czyli ekstremalnie wysokomocowych impulsów promieniowania elektromagnetycznego. Technologia opiera się na wykorzystaniu pola elektromagnetycznego o bardzo dużym natężeniu, powodując uszkodzenia lub zniszczenia urządzeń elektronicznych. Impulsy elektromagnetyczne HPEM charakteryzują się szczególnymi parametrami: wysoką mocą emitowanych impulsów, bardzo krótkim czasem trwania impulsów oraz prędkością propagacji równą prędkości światła, które sprawiają, że broń elektromagnetyczna jest niezwykle skuteczna w działaniach wojennych czy terrorystycznych. Rejestrację i analizę sygnałów wspomaga oprogramowanie VisualAnalog, zawierające bogaty zestaw do symulacji, przetwarzania danych oraz przeprowadzania licznych testów na zgromadzonych danych pomiarowych. Przedstawiono przykładowe charakterystyki amplitudowoczasowe oraz amplitudowo-częstotliwościowe sygnałów HPEM.
EN
The paper presents a data acquisition system with a very fast analogtodigital converter Analog Devices AD9484. It is the final stage of a measurement system for identification and measurement of selected parameters of electromagnetic pulses of very high power [4]. The measurement system allows for tests connected with the security of ICT systems exposed to HPEM (High Power Electromagnetics) signals, which are extremely high power pulses of electromagnetic radiation. The technology is based on the use of the electromagnetic field of very high intensity, causing damage or destroying electronic devices. HPEM electromagnetic pulses are characterized by specific parameters: a high power of the emitted pulses, a very short duration of pulses and the propagation velocity equal to the speed of light which makes electromagnetic weapon extremely effective in warfare or terrorism. Recording and analyzing signals supports the VisualAnalog software, including a rich set of simulation, data processing, and performing a big number of tests on the collected measurement data. Examples of the amplitude-time and amplitude-frequency characteristics of HPEM signals are presented in Section 3 of the paper.
4
Content available remote Electromagnetic disturbances elimination methods in microprocessor systems
EN
The paper deals with noise suppression methods in microprocessor systems. Two methods are presented: hardware (LC decoupling) and software (microcontroller digital clock sources management). Advantages and disadvantages of each method are presented. The tests are conducted on a real, battery operated mobile device with an AVR microcontroller onboard. Efficient noise suppression for proposed methods is proven.
PL
Artykuł dotyczy metod tłumienia szumów w systemach mikroprocesorowych. Przedstawione zostały dwie metody: sprzętowa (odsprzęganie za pomocą elementów LC) oraz programowa (zarządzanie pracą wewnętrznych źródeł sygnałów zegarowych). Zostaną przedstawione zarówno zalety jak i wady poszczególnych rozwiązań. Przeprowadzone badania zostały oparte na rzeczywistym, zasilanym bateryjnie urządzeniu wyposażonym w mikrokontroler z rodziny AVR. Wykazano skuteczną ochronę przeciwzakłóceniową proponowanych metod.
5
Content available remote Właściwości przetwornika A/C mikrokontrolera STM32
PL
W artykule przedstawione zostały możliwości i niepewności pomiarowe wewnętrznego przetwornika mikrokontrolera STM32. W badaniach rozpoznano możliwość wykorzystania go dla budowy systemu gdzie analiza sygnału odbywającą się w mikrokontrolerze. Gdy nie ma możliwości oceny niepewności pojedynczego pomiaru konieczne jest przeprowadzenie takiej oceny na zbudowanym specjalnie do tego celu wcześniej systemie testowym. W artykule przedstawione zostały wyniki badań oraz metodyka pracy z systemem testowym.
EN
The article presents the possibilities of using and expected uncertainties of the internal A/D converter of STM32 microcontroller. The study identified the possibility of using it to build a signal analysis system in the microcontroller. In that system it is necessary to perform single measurement uncertainty analysis, which should be performed in dedicated test-system. The article describes an example of work with such test-system and methodology of working with it.
EN
In the paper two types of linearizing A/D converted are considered: A/D converter with voltage-to-frequency indirect conversion and dual stope A/D converter. Both approach are suitable to use with measunng transducers. The method, which is implemented by the modification of A/D converter of the V-to-f type, requires the rate multiplier (RM) connected between the pulses counter and the V-to-f converter. The programming numbers applied to a rate multiplier are set-up in such a manner that the linear relationship between digital output and a measured quantity is obtained. In other approach the method of measurements transducer characteristics linearization by using dual slope A/D converter are considered. The rate multiplier is used for changing frequency of counting pulses in second integration interval. Both Methods are illustrated with simple examples. The obtained results are very promising.
PL
W artykule są rozważane dwa rodzaje linearyzujących przetworników A/ C: przetwornik A/C z pośrednim przetwarzaniem napięcie/częstotliwość i przetwornik z podwójnym całkowaniem. Obydwa rodzaje przetworników są używane wraz z przetwornikiem pomiarowym. Metoda linearyzacji oparta na wykorzystaniu przetwornika C/A z pośrednim przetwarzaniem U/f wymaga użycia programowanego dzielnika częstotliwości (PDCz), który włącza się pomiędzy przetwornik U/f a licznik impulsów. Liczby programujące programowany dzielnik częstotliwości dobiera się tak by uzyskać liniową zależność pomiędzy numerycznym wyjściem a wielkością mierzoną. W drugim rozwiązaniu linearyzację charakterystyki przetwornika pomiarowego uzyskuje się w układzie z przetwornikiem A/C z podwójnym całkowaniem. I w tym przypadku programowany dzielnik częstotliwości jest używany do takiej zmiany częstotliwości impulsów zliczanych w trakcie drugiego całkowania by uzyskać zależność liniową pomiędzy wielkością mierzoną a wynikiem przetwarzania. Obydwie metody zostały zilustrowane za pomocą prostych przykładów. Uzyskane wyniki są bardzo obiecujące.
PL
Celem pracy jest wyznaczenie rzeczywistej wariancji wartości oczekiwanej skwantowanego sygnału i porównanie takiej wariancji z estymatorami tej wielkości obliczanymi metodą klasyczną oraz na podstawie funkcji autokorelacji. W pracy zdefiniowano postać estymatora wartości oczekiwanej sygnału. Na tej podstawie wyznaczono jego wariancję. Do badań zastosowano skwantowane próbki sygnału oraz momenty zmiennej losowej. Założono, że próbki sygnału zostały skwantowane w przetworniku analogowo-cyfrowym (A-C) typu zaokrąglającego o idealnej charakterystyce kwantowania. W charakterze przykładu przedstawiono wyniki obliczeń wariancji dla sygnału sinusoidalnego, sygnałów losowych o rozkładach: równomiernym oraz Gaussa.
EN
In the paper there is presented a way of determining the variance of the expected value estimator based on the signal autocorrelation function. The expected signal value estimator is defined and the estimator variance is determined. For investigations there were used quantized samples of signal and moments of random variable. There was assumed that the signal was sampled by an ideal AC round-off converter. As an example there are given the results of variance calculations for sinusoidal, Gaussian and uniform PDF (Probability Density Function) signals. The paper is divided into three paragraphs. Paragraph 1 comprises a brief introduction to the research problems. There is given a definition of the expected signal value estimator, calculated on the basis of quantized data (Eq. 2). There are defined the initial conditions allowing calculation of the estimator characteristics. In Paragraph 2 the variance (Eq. 3) of the estimator (Eq. 2) calculated on the basis of moments (Eq. 7) and the autocorrelation function (Eq. 8) are determined. There are also presented the definitions of variance estimators of the expected signal value estimator calculated with use of the classic method (Eq. 11) and autocorrelation function (Eq. 12). Because both estimators have bias, there are given definitions (Eq. 14, 15) for the case when only quantization has an influence on the variance bias. In subparagraphs 2.1 - 2.3 there are presented exemplary results of calculating the variance (Eq. 3) of the estimator (Eq. 2) for the examined signals. For each signal a definition of the characteristic function (Eq. 16, 19, 22) is given. On the basis of the characteristic function definitions, the detailed formulas (Eq. 17, 20, 23) calculated from the random variable moments are derived. (Fig. 1-3) shows charts of the variance. There are defined the formulas (Eq. 18, 21, 24) allowing calculations of the mean square error. Exemplary results are given in Tables 1 and 2. The investigation results are summarized in Paragraph 3. They show that the accuracy of calculation results of the expected signal value estimator variance obtained with use of the classic method and those from the autocorrelation function is the same.
PL
Artykuł dotyczy problematyki oceny wpływu kwantowania na niepewność estymatora wartości oczekiwanej sygnału. Zdefiniowano postacie estymatorów wartości oczekiwanej oraz wariancji tego parametru. Wyznaczono obciążenia estymatorów. Oceniono wpływ kwantowania na niepewność estymatora wartości oczekiwanej. Do badań zastosowano skwantowane próbki sygnału oraz momenty zmiennej losowej. Konwersja sygnału przeprowadzono z zastosowaniem kwantyzatora typu zaokrąglającego o idealnej charakterystyce kwantowania.
EN
The paper deals with the problem of evaluation of quantization influence on the signal mean value estimator uncertainty on the basis of digital measuring data. In order to evaluate the uncertainty ,there have been used the quantized samples and moments of a random variable as well as the Widrow theory of quantization. The round-off quantizer of the ideal quantizing characteristic has been applied. The paper is divided into four sections. In the first section there is given Eq. (2) describing the mean value estimator obtained from the quantized data. In the second section the bias of the mean value estimator is described by Eq. (5) and shown in Fig.1. The mean value estimator (2) with and without bias (5) is shown in Fig.2. The mean value estimator variance is given by Eq. (6) and shown in Fig.3. In the next section there are presented Eqs. (21)-(23) describing the quantization influence on the mean value estimator uncertainty obtained from the moments and quantized data. The quantization influence on the mean value estimator uncertainty is studied in two independent cases, with and without bias, and shown in Fig.6. It has been shown that for a sinusoidal signal Eq. (21) is a suppressed oscillating function of the amplitude. Moreover, it has been proved that by increasing the sample size Eqs. (22) and (23) can be brought to 1. In the last section the results of investigations are summarized.
PL
W artykule przedstawiono prototyp 4-stopniowego potokowego przetwornika a/c. Przetwornik zbudowany jest z trzech 2,5-bitowych i jednego 3-bitowego stopnia w technice prądowej. Układ został zaprojektowany jako prototypowy układ ASIC, w technologii CMOS AMS 0,35 μm. Parametry przetwornika odpowiadają parametrom współczesnych przetworników wykonanych w technologii przełączanych pojemności, natomiast walorem zaproponowanego rozwiązania jest niski pobór mocy.
EN
This paper presents a novel prototype low power current mode 4-stages pipelined a/c converter. The a/d converter structure is composed of current mode building blocks and final comparator block which converts the analog current signal into digital voltage signal. All building blocks have been designed in CMOS AMS 0.35 μm technology, then simulated to verify proposed concept. The performances of the converter are compared to performances of known voltage mode switched capacitance converter structures. Low power consumption and small chip area are advantages of the proposed converter.
EN
The paper describes design and testing of the monolithic asynchronous analog-to-digital converter fabricated in CMOS AMS 0.35 µm technology. Two basic tests are applied to calculate error parameters of the ADC: code test to obtain a static characteristic and input-output test to measure the SNR (signal-to-noise), the ENOB (effective-number-of-bits), and propagation times to determine maximum conversion speed. Two different test circuits are used to measure these parameters. Unit under test is the 4-bit flash analog-to-digital asynchronous converter with additional error detection systems.
PL
Praca opisuje projekt i testy scalonego asynchronicznego przetwornika analogowo-cyfrowego typu flash wykonanego w technologii CMOS AMS 0,35 µm. W celu wyznaczenia parametrów i błędów układu zastosowano dwie metody: code test aby otrzymać charakterystykę statyczną i input-output test aby zmierzyć stosunek sygnału do szumu (SNR), efektywną liczbę bitów (ENOB) oraz czasy propagacji i maksymalną szybkość przetwarzania. Na potrzeby pomiarów zaprojektowano i zbudowano dwa układy testowe. Badany układ scalony stanowi 4-bitowy asynchroniczny przetwornik A/C z dodatkowymi układami wykrywającymi błędy przetwarzania.
PL
Operacje poprawiające dokładność przetwarzania rzeczywistego przetwornika A/C to kalibracja i korekcja. Ponadto, mające związek z dokładnością, właściwości rzeczywistego przetwornika A/C są charakteryzowane przez szereg parametrów estymowanych w wyniku testowania. Wspólne dla wszystkich takich działań (kalibracji, korekcji, testowania) jest to, iż rezultaty są silnie "sygnałowo zależne". Opisano zasady korekcji, kalibracji i testowania przetworników A/C. Objaśniono, na czym polega zależność rezultatów od rodzaju sygnału podlegającego przetworzeniu. Podano cechy sygnału teoretycznie najodpowiedniejszego do badania przetworników A/C. Określono, w jakim stopniu sygnały praktycznie stosowane posiadają takie cechy.
EN
There are the following operations improving the accuracy of converting the real A/D converter: calibration and correction. Moreover, the properties of the real A/D converter, related to accuracy, are characterised by a number of parameters estimated through the process of testing. A feature common to all such operations (calibration, correction, testing) is the strongly "signal-dependent" character of results. The paper describes the rules of correction, calibration and testing of the A/D converters, and explains how the results are dependent on the type of signal being converted. The features of the signal, which is theoretically most suitable to test the A/D converters, are given. It has been also determined to what extent practically applied signals retain such features.
PL
W artykule przedstawiono konstrukcję przetwornika analogowo-cyfrowego zaprogramowanego w układzie FPGA Virtex-4. Przetwornik zbudowano w oparciu o modulator delta-sigma pierwszego rzędu i kompa-rator typu LVDS (ang. low voltage differential signaling). Po przebadaniu przetwornika w celu określenia możliwych błędów zostały zaproponowane metody i układy jego korekcji. Zmodyfikowany przetwornik został przedstawiony w artykule. Przedstawiony projekt przetwornika z powodzeniem można zastosować w dowolnym układzie programowalnym wyposażonym w wejścia różnicowe typu LVDS. W artykule podano parametry przetwornika, takie jak rozdzielczość, liniowość, ilość zajmowanych zasobów, przedstawiono zakres zastosowań. Niniejsza publikacja przedstawia szczegółową analizę przetwornika pod kątem osiągnięcia jak największej dokładności i jednocześnie przedstawia w jaki sposób praktycznie go wykorzystać.
EN
In the article we present the architecture of A/D converter implemented in FPGA Virtex-4 device. The converter was built upon of the first order delta-sigma modulator and LVDS (low voltage differential signaling) comparator and examined about possible errors. After analysis of the methods and correction blocks of converter the modified converter was presented. There is a great possibility to use investigated converter in every type of programmable devices with LVDS inputs. The parameters of the examined converter, for example resolution, linearity, used recourses and the range of application was presented. This publication presents the converter analysis in the possibility to achieve the biggest accuracy and in the same time how to use it in practice.
13
PL
Efektywna ocena przetwornika A/C powinna być dokonywana techniką cyfrowego przetwarzania sygnałów. Powszechne są trzy rodzaje metod testowania przetwornika stosujących tę technikę: statyczne, histogramowe i dynamiczne. Wspólne dla metod dynamicznych jest stosowanie na wejściu sygnału sinusoidalnego, akwizycja sygnału (jedno lub wielokrot-na), wykorzystywanie do obliczeń parametrów sygnału po konwersji a-c. Metody, różniąc się algorytmami przetwarzania danych a w następstwie rodzajem wyznaczanych błędów, nie dają możliwości wyznaczania tych samych parametrów. Kompletny test przetwornika A/C implikuje określenie dwóch rodzajów parametrów: błędów statycznych powiązanych ze zmianą charakterystyki we-wy przetwornika oraz cech dynamicznych wyrażających zniekształcenia i zaszumienie sygnału wprowadzane przez przetwornik. Istnieją dwie główne metodologie charakteryzowania dyna-micznych cech przetwornika A/C. Pierwsza opiera się na metodzie analizy widmowej i stosuje dyskretną transformatę Fouriera (analiza danych w dziedzinie częstotliwości). Druga opiera się na metodzie z dopasowaniem krzywej o modelu z nieznanymi trzema lub czterema parametrami, które są estymowane (analiza danych w dziedzinie czasu). Artykuł jest poświęcony opisowi obu rodzajów metod dynamicznego testowania przetwornika A/C.
EN
The actual evaluation of the A/D converter should be performed using digital signal processing techniques. Based on it three test methods are commonly used to characterize an A/D converter: static analysis, histogram analysis and dynamic analysis. The dynamic methods operate in the same manner, i.e. a sine wave stimulus is applied to the converter and one or more records of data are taken from to the converter output response, which are taken processed to extract relevant parameters. As these methods differ in the data processing algorithms, and consequently in the type of errors detected, they do not provide the same characterisation parameters. The full test of an A/D converter implies the determination of two kinds of parameters: the static errors linked to some deviations of the converter transfer function, and the dynamic features expressing the distortion and noise of the converted signal introduced by the converter. There exist two major methodologies for A/D converter dynamic features characterizatio. One is the spectral analysis method based on the usage of the discrete Fourier transform (frequency-domain data analysis). The other is the curve-fit test method performing the estimation of three or four unknown model parameters (time-domain data analysis). This article is devoted to the description both of dynamic test methods of A/D converter.
PL
Działania zmierzające do poprawy dokładności systemów pomiarowych z cyfrowym algorytmem pomiaru mają między innymi na celu poprawę dokładności konwersji analogowo-cyfrowej. Użyteczna okazala się metoda przetwarzania a-c z sygnałem ditherowym. Jej celem jest randomizacja błędu konwersji a-c i jego redukcja w wyniku filtracji. Filtracja może polegać na uśrednianiu wyników metodą kumulacji (cummulating average CAV także nazywane coherent averaging) albo na przetwarzaniu ich w filtrze typu "ruchoma średnia" (moving average MAV). W artykule przedstawino wyniki porównania skuteczności filtracji CAV i MAV w przypadku konwersji a-c sygnału periodycznego. Jako miarę skuteczności przyjęto wartość błędu operacji konwersji.
EN
Actions leading to an improvement in the accuracy of measuring systems with digital measring algorithm are aimed, among others, at improving the accuracy of a-d conversion. One of the methods applied is a-d conversion with dither signal. Its aim is the randomization and reduction of a-d conversion error as the result of filtration. Filtration can consist in the averaging of results using the cummulating average CAV (called also coherent averaging), or in processing them in a filter of the moving average (MAV) type. The paper presents the results of comparing the efficiency of CAV and MAV filtration in the case of the a-d conversion of periodic signal. The value of the conversion errer was assurred as efficiency measure.
15
Content available remote Dobór częstotliwości próbkowania w mikrokontrolerach analogowych
PL
W pracy przedstawiono podstawowe zagadnienia z zakresu metod wyzwalania przetworników A/C zintegrowanych w mikrokontrolerach analogowych oraz przedstawiono podstawowe problemy związane z doborem częstości próbkowania sygnału wejściowego na przykładzie zastosowań w laboratoriach dydaktycznych.
EN
Basic problems in the field of triggering methods for A/C converters that are integrated in analog microcontrollers and basic issues in sampling frequency input signal selection for applications in didactical laboratory.
PL
Niniejszy artykul opisuje dalszy ciąg prac nad przetwornikiem sigma-delta przedstawionym w doktoracie autora. Zaprezentowane modele sq bardziej uniwersalne gdyż umożliwiają w prosty sposób dobór wyjściowego słowa cyfrowego w zależności od potrzeb użytkownika. Ponadto poprawiono konstrukcję decymatora, osiągając w ten sposób dwukrotne zwiększenie jego prędkości działania.
PL
W pracy zostały przedstawione przetworniki analogowo/cyfrowe wytwarzane w technologii CMOS. Dokonana została klasyfikacja przetworników ze względu na dokładność i szybkość przetwarzania. Omówione zostały typowe dla danej klasy przetworniki, a następnie ich parametry zostały zestawione w tabeli i skomentowane.
EN
In the paper an overview of CMOS analog/digital converter architectures has been presented. The a/d coverters have been classified with respect to performance accuracy and throughput rate. Several converter architectures have been described and a broad range of performance parameters has been compared and discussed.
PL
Współpraca układu kondycjonowania z przetwornikiem a/c o dużej rozdzielczości wymaga bardzo starannego zaprojektowania tego układu. W artykule omówiono dwa podstawowe czynniki wypływające ze strony obwodu kondycjonowania na dokładność przetwarzania przetworników sigma-delta: - wpływ niskoczęstotliwościowych szumów wzmacniaczy wejściowych na stabilność i efektywną rozdzielczość przetworników a/c, - wpływ niestabilności poziomu wzmacniacza wejściowego prądu stałego, wywołanych zakłóceniami wielkiej częstotliwości.
EN
Satisfactory co-operation of A/D converter with conditioning circuit demand for very careful designing of those circuit. Two basic factor influenced for accurancy of conversion in sigma-delta converters are discussed in the paper: - Influence of low-frequency noise of input amplifiers on stability and effective resolution of A/D converters, - Influence of amplifoer input current offset instability, caused by high-freequency disturbances.
PL
Pomiar mocy czynnej za pomocą systemu pomiarowego realizującego przetwarzanie sygnałów napięcia i prądu w sposób cyfrowy wymaga przybliżenia zależności definicyjnych. Przedstawiona praca proponuje wykorzystanie wzoru Gregoriego (2) do celów obliczenia całki w zależności definicyjnej (1) lub użycie jednego przetwornika A/C z multiplekserem, a następnie użycie filtrów cyfrowych w celu wyrównywania opóźnień pomiędzy próbkowanymi sygnałami. Proponowane rozwiązania umożliwiają zbudowania systemu pomiarowego procującego w czasie rzeczywistym.
EN
Idea of active power measurement based on digital processing of voltage and current signals should be introduced with closer look at some definitions. The paper is describing usage of Gregory expression (2) for integral calculation purposes in expression (1) or using a single A/D converter with multiplexer and digital filters compensating delay between sampled signals. Suggested solutions make possible a construction of real-time measurement system.
PL
W artyukule przedstawiono pewną metodę zmniejszania blędów kwantyzacji w procesie pomiaru stosunku napięć. Proponowana metoda polega na wykonaniu dodatkowego pomiaru trzeciego napięcia, będącego różnicą wymienionych napięć. Wyrażając wynik pomiaru stosunku napięć jako pewną funkcję wyników trzech pomiarów napięć można uzyskać zmniejszenie błędu kwantyzacji.
EN
The paper presents the method of decrease of quantization errors in measurement of voltages and their ratio. The method suggested in the paper is based on the additional measurement of the third voltage wchich is the difference of the voltages mentioned above. When measurement results of the voltages ratio is expressed as a result function of three voltages measurements, the decrease of quantisation errors can be obtained.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.