Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 10

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  long-term stability
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
The article presents selected statistical analyses of data registered by weigh in motion systems (WIM). Particular analyses are intended to determine the distribution of selected parameters and assess the possibility of using statistical measures to test the long-term stability of WIM stations. Dataset from the WIM system was the subject of the research. Dataset is using different measurement solutions and technology.
EN
We fabricated double-laminated antimony tin oxide/Ag nanowire electrodes by spin-coating and electrospraying. Compared to pure Ag nanowire electrodes and single-laminated antimony tin oxide/Ag nanowire electrodes, the double-laminated antimony tin oxide/Ag nanowire electrodes had superior transparent conducting electrode performances with sheet resistance ~19.8 Ω/□ and optical transmittance ~81.9%; this was due to uniform distribution of the connected Ag nanowires because of double lamination of the metallic Ag nanowires without Ag aggregation despite subsequent microwave heating at 250°C. They also exhibited excellent and superior long-term chemical and thermal stabilities and adhesion to substrate because double-laminated antimony tin oxide thin films act as the protective layers between Ag nanowires, blocking Ag atoms penetration.
EN
Incidence of suicidal attempts presents an explanation for the high prevalence of quetiapine (QTI) in forensic cases. Thus, the interpretation of its concentrations in biological specimens is needed, but in forensic toxicology, potential postmortem changes such as instability of the target drugs should be taken in consideration. High-performance liquid chromatography (HPLC) method has been developed for determination of QTI. This method was based on reversed phase (RP)-HPLC separation of QTI on a C-18 column (150 mm × 4.6 mm, 5 μm) with elution system of acetonitrile—methanol—0.025 M phosphate buffer (pH 2.5), containing 1 mL TEA in each 250 mL, in a ratio of 40:30:30%, v/v, at the flow rate of 1.2 mL min−1 using mirtazapine as internal standard (IS). The proposed method was applied to the determination of QTI in plasma in presence of coadministered drugs. The application of the proposed method was extended for long-term stability study of two different concentration levels of QTI in the whole blood.
PL
W artykule przedstawiono wyniki badań stabilności długookresowej czujników grubowarstwowych. Stabilność badano w atmosferze lotnych związków organicznych (LZO). Na podstawie uzyskanych wyników można stwierdzić, że stabilność czujników w bardzo dużym stopniu zależy do masy cząsteczkowej LZO. Przeprowadzono próby regeneracji czujników zatrutych LZO. Wyniki badań pokazały, że regeneracja jest możliwa.
EN
In this paper there are presented the results of stability tests and the possibility of regeneration (after poisoning by volatile organic compounds – VOC) of thick-film gas sensors. The sensors were exposed to the atmosphere with a high concentration (1000 ppm) of VOC with a chain length of C6 to C12. The temperature stimulated conductance was measured. During the experiments the temperature was changed cyclically with rate 2 deg/sec. During the first increase in temperature the characteristic inflection in the dependence of conductance was observed due to the desorption of various components adsorbed on the surface of a gas sensitive material (Fig. 2). The results of experiments showed the high sensitivity of sensors in the atmosphere with VOC which was strongly dependent on the temperature (Fig. 3). However, the inactivation occurred rapidly in the presence of VOC with high molecular weight (Fig. 5a). The initial conductance gradually increased. Tests were also carried out to evaluate the possibility of temperature regeneration of sensors exposed to the atmosphere with a high concentration (1000 ppm) of VOC. For this reason after the exposition, the sensors were heated in the ambient atmosphere with cyclically changes of the temperature. The studies showed that after the first heating in the range from 150°C to 650°C the sensor parameters were close to the initial values (Fig. 5). Thus, sensors poisoned by VOC can be temperature regenerated in the atmospheric air.
PL
Obecnie, dzięki rozwojowi inżynierii półprzewodników szerokopasmowych, obserwuje sie rosnące zainteresowanie elektroniką wysokotemperaturową. Prowadzi to także do rozwoju odpowiednich elementów biernych celem umożliwienia wytwarzania modułów funkcjonalnych. W artykule przedstawiono właściwości komponentów biernych realizowanych w technice grubowarstwowej lub technologii ceramiki niskotemperaturowej współwypalanej (LTCC) uwzględniających wymagania elektroniki wysokotemperaturowej.
EN
At this very moment, thanks to development of wide-band semiconductors' engineering, an inereasing interest in the field of high-temperature electronics is observed. This leads also to the development of proper passives in order to enable fabrication of fully functional modules. This paper presents the properties of passive components made in thick-film or Low-Temperature Cofired Ceramics (LTCC) technologies fulfilling demands of high-temperature electronics.
EN
This work presents long-term stability of thin-film and polymer thick-film resistors made on the surface or embedded in Printed Circuit Boards (PCBs]. Investigated test structures were made of nickel-phosphorus (Ni-P) alloy or polymer thick-film resistive inks on FR-4 laminate with similar sheet resistance (25 Ω/sq or 100 Ω/sq for Ni-P alloys and 20 Ω/sq. 200 Ω/ sq or 5 kΩ/sq for polymer thick-film inks) but decidedly different thickness of resistive layers - 0.1 or 0.4 μu thick Ni-P alloy and about 10...12 μm for polymer resistive films). Part of the Ni-P samples was covered with two different coatings - Resin Coated Copper (RCC] or Laser Drillable Prepreg (LDP). Polymer thick-film resistors were printed on Cu contacts or Cu contacts with Ni/Au coating and were covered by RCC film. The In-Situ accelerated ageing process (resistance of test samples performed directly at the ageing conditions] was carried out to perform long-term behaviour analysis. The results showed quite different behaviour of both group of resistors. In case of Ni-P thin-film resistors resistor geometry almost not affect long-term stability. However a significant influence on the behaviour of resistors was due to sheet resistance, type of encapsulation and ageing temperature. Measurement results revealed the square-root-of-time dependence of the resistance changes, which represent a single ageing mechanism. In temperature domain resistance drift can be described by the Arrhenius equation. The extrapolation of these results could be used to predict behaviour of resistors in various temperature and times of ageing. Such an extrapolation is almost impossible for polymer-thick film resistors, where the increase of ageing temperature leads to change relative resistance drift versus ageing time from positive to negative. In the case of these structures the interface between resistive films and termination materials plays a very important role on the level of observed relative resistance changes.
PL
W pracy przedstawiono wyniki badań stabilności dlugoczasowej rezystorów cienkowarstwowych oraz polimerowych rezystorów grubowarstwowych wykonanych na powierzchni lub wbudowanych w płytki obwodów drukowanych (PCB). Badane struktury testowe zostały wykonane ze stopu fosforku niklu (Ni-P) lub grubowarstwowych past polimerowych na podłożu FR-4, z podobnymi rezystancjami powierzchniowymi (25 Ω/kw lub 100 Ω/kw dla stopów Ni-P oraz 20 Ω/kw, 200 Ω/kw lub 5 kΩ/kw dla grubowarstwowych past polimerowych), lecz zdecydowanie różnej grubości warstw rezystywnych - 0.1 lub 0.4 μm dla stopów Ni-P oraz około 10...12 μm dla polimerowych warstw rezystywnych. Część próbek z rezystorami Ni-P pokryto dwoma typami warstwy ochronnej - laminatem RCC (Resin Coaled Copper] lub preimpregnatem LDP (Laser Drillable Prepreg). Grubowarstwowe rezystory polimerowe zoslaly nadrukowane na kontaktach Cu lub Cu z powłoką Ni/Au oraz zostaly pokryte warstwą laminatu RCC. Aby przeprowadzić analizę zachowania długoczasowego elementów wykorzystano metodę procesu przyśpieszonego starzenia oraz pomiarów In-Situ (pomiar rezystancji w warunkach narażeń). Wyniki wykazały zupełnie inne zachowanie się obu grup rezystorów. W przypadku rezystorów cienkowarstwowych Ni-P geometria niemal nie wpływa na stabilność długoczasową. Jednak znaczny wpływ na zachowanie się rezystorów był związany z rezystancją powierzchniową, typem pokrycia oraz temperalurą starzenia. Wyniki pomiarów ujawniły iż zmiany rezystancji są proporcjonalne do pierwiastka czasu, co prezentuje pojedynczy mechanizm starzenia. W dziedzinie czasu zmiany rezystancji mogą być opisane równaniem Arrheniusa, ekstrapolacja tych wyników może być użyta do przewidywania zachowania się rezystorów w różnych temperaturach oraz czasach starzenia.Taka ekstrapolacja jest prawie niemożliwa dla polimerowych rezystorów grubowarstwowych, gdzie wzrost temperatury starzenia prowadzi do zmian relatywnego dryftu rezystancji względem czasu z dodatniego na ujemny. W przypadku tych struktur połączenie pomiędzy warstwą rezystywną a materiałem kontaktu gra istotną rolę w obserwowanym poziomie względnych zmian rezystancji.
PL
Znaczną część powierzchni układów na płytkach obwodów drukowanych zajmują elementy i podzespoły bierne. Ich miniaturyzacja bazująca na standardowych elementach do montażu powierzchniowego wyczerpuje się. W artykule zaprezentowano możliwość wzrostu gęstości upakowania w oparciu o technologie wielowarstwowe. Omówiono wykonywanie elementów biernych (rezystorów cienkowarstwowych, kondensatorów) wbudowanych w płytki obwodów drukowanych i ich wybrane właściwości elektryczne oraz stabilność długoczasową.
EN
Significant part of circuits' area on printed circuit boards is occupied by passives. Their further miniaturization based on typical components for Surface Mount Technology is exhausted. This paper presents possibility of interconnection density increase based on multilayer technologies. The fabrication of passives (thin-film resistors, capacitors) embedded into printed circuit boards and their chosen electrical properties and long-term stability are described.
EN
This paper presents chosen electrical and stability properties of a new class of passives - surface and embedded thin-film resistors made in/ on printed circuit boards (PCBs). Such components were made based on Ohmega-Ply resistive-conductive laminates (with 25 Ω/sq and 100 Ω/sq sheet resistance). Resistance, sheet resistance and temperature dependence of resistance in a very wide temperature range (from -170°C to 13°C) were determined and analyzed as a function of resistor geometry (width, aspect ratio) and embedding process. The stability properties, i.e. fractional resistance changes after long-term thermal ageing at elevated temperature (100°C and/or 150°C) and resistance changes after electrical pulse exposure, were also investigated and analyzed.
PL
Artykuł przedstawia wybrane właściwości elektryczne i stabilność nowej klasy elementów biernych - rezystorów cienkowarstwowych powierzchniowych lub wbudowanych wewnątrz płytek drukowanych. Komponenty takie wykonano na laminatach z warstwą rezystywną Ohmega-Ply (o rezystancji powierzchniowej 25 Ω/kw. i 100 Ω/kw.). Określono i przeanalizowano wpływ geometrii rezystora (szerokość, współczynnik kształtu) oraz procesu wbudowywania na rezystancję, rezystancję powierzchniową i temperaturową charakterystykę rezystancji w szerokim zakresie temperatur (od -170... 130°C). Analizowano również stabilność elementów, tj. względne zmiany rezystancji po długoczasowym starzeniu termicznym w podwyższonej temperaturze (100°C i/lub 150°C) oraz zmiany rezystancji po elektrycznych narażeniach impulsowych.
9
Content available remote Modern micropassives: fabrication and electrical properties
EN
This paper presents the concept and modem technological approach to the fabrication of discrete, integrated and integral micropassives. The role of these components in modem electronic circuits is discussed too. The material, technological and constructional solutions and their relation with electrical and stability properties are analyzed in details for linear and nonlinear microresistors made and characterized at the Faculty of Microsystem Technology, Wrocław University of Technology.
10
EN
To be able to commercialize the dye-sesitised solar cell (DSC) technology for large area power applications it needs to be clear what module life-times can be obtained. Therefore, the long term stability of DSC is investigated. Accelerated tests are performed in order to determine the lifetime DSCs. Stability results over 10000 h were obtained with small, individual cells. It is shown that the chemical composition of the cells is very important, even water can be tolerated to some extend. For more sophisticated investigations, DSCs for the stability tests are processed on so-called masterplates : five individual cells on one glass plate. Cells with an efficiency of 5% have been produced. The cell parameters (Isc, Voc, FF, n) varied only by less than 7.5%. Several masterplates with different components were produced and aged. Stability test stands were developed for long term stability testing, allowing 96 masterplates (480 cells) to be aged in parallel. The masterplates are aged under continuous illumination and electrically characterised in-situ. First stability results were obtained with different solvents.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.