Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  disordered materials
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
W pracy przedstawiono wykorzystanie spektroskopii czasów życia pozytonów PALS do badania stopnia zdefektowania materiałów o strukturze nieuporządkowanej. Jako materiałów badawczych użyto następujących próbek: szkło tlenkowe, szkło chalkogenidkowe i polimer. Metoda PALS jest szczególnie czuła na wykrywanie w materiałach o strukturze nieuporządkowanej defektów strukturalnych, w których pułapkowany może być zarówno pozyton (defekty liniowe), jak i pozyt (luki, wolne objętości). W wyniku przeprowadzonych pomiarów otrzymano krzywe opisujące zależność liczby zliczeń aktów anihilacyjnych w funkcji czasu. Rozkład widma czasu życia pozytonów był przeprowadzony na trzy składowe t1, t2 i t3. Składowa t1 jest odpowiedzialna za anihilację swobodną pozytonów i anihilację z elektronami defektów punktowych typu wakans. Składowa t2 związana jest z występowaniem defektów objętościowych powstających na granicach międzyziarnowych, dyslokacji lub skupisk wakansów. Składowa t3 przypisywana jest do anihilacji pick-off oznaczającej pułapkowanie orto-pozytu, o-Ps, przez wolne objętości i daje informację o geometrycznych parametrach tych wolnych objętości. Obliczone parametry wychwytu pozytonów i pozytu w badanych, nieuporządkowanych strukturalnie materiałach pozwalają wyciągnąć wnioski dotyczące stopnia i charakteru zdefektowania badanych materiałów.
EN
The paper presents the use of positron lifetime spectroscopy PALS to study the defect degree of structures of disordered materials. Oxide glass, chalcogenide glass and polymer were used in the study. The PALS method is particularly sensitive to detect the structure of disordered materials with structural defects that can trap both the positron (linear defects) and positronium (the free volume). As a result of the measurements, curves describing the dependence of the number of counts of annihilation acts as a function of time were obtained. The positron lifetime spectra were resolved into three components t1, t2 and t3. The component t1 is responsible for the free positron annihilation and the annihilation with electrons of vacancy-type point defects. The component t2 is related to the presence of bulk defects that arise at the grain boundaries, dislocations or clusters of vacancies. The component t3 is assigned to the pick-off annihilation of ortho-positronium (o-Ps) by the free volume, and gives information on the geometric parameters of the free volume. The calculated parameters of uptake of the positron and positronium in the structurally disordered materials under consideration allowed us to draw conclusions about the degree and nature of their defects.
2
Content available remote Conductivity of disordered ferromagnetic monoatomic film
EN
Electron transport in the plane of a monoatomic metallic layer with non-zero magnetization is considered. The material is represented by a two-dimensional set of disordered potentials which also possess spins aligned along one axis but not necessarily oriented in one direction. Such a system can be treated as a two-component alloy. The effective cross-section for conduction electrons has been calculated. The total conductivity is obtained within two-current model.
3
Content available remote Crystal field distribution in disordered materials doped with chromium.
EN
An analysis of the crystal field distribution and distribution of the electron lattice coupling of disordered materials doped with Cr/sup 3+/ ions is presented. The theoretical background contains the extended crystal field model based calculations of the emission line-shape and kinetics. The multi-site effect in the gallogermanate and lithium tantalate crystals and aluminosilicate glasses is analysed in detail.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.