Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 4

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  zakłócenia podłożowe
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
This work presents a study on the substrate noise coupling between two interconnects. A highly, a lightly and a uniformly doped substrate, approximating most modern technologies, are described. The three different doping profiles are simulated for various interconnect distances and different metal layers assuming a 65 nm bulk CMOS technology. A proper data analysis methodology is presented, including z and s parameters extraction and de-embedding procedure.
PL
Omówiono wyniki symulacji metodą elementów skończonych sprzężenia podłożowego w strukturach półprzewodnikowych, realizowanych na wybranych typach podłoża krzemowego. Symulacje przeprowadzono przy użyciu własnego pakietu do obliczeń metodą elementów skończonych SONMAP opracowanego w Katedrze Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki Politechniki Szczecińskiej. Przy użyciu MES i analizy wrażliwościowej możliwe jest prowadzenie procesów optymalizacji kształtu złącz, wysp i innych fragmentów struktur, wpływających na wielkość prądów zakłócających.
EN
In this paper, results of simulation of substrate coupling in semiconducting structures, realized on selected silicon substrate types, utilizing finite element method are presented and discussed. The simulations were performed with the use of software package SONMAP for calculations based on the finite element method developed at Electrotechnics and Computer Sciences Chair of Szczecin University of Technology. Using FEM and sensitivity analysis it is possible to optimize the shapes of junctions, wells and other fragments of structures which have influence on the amount of substrate noise currents.
PL
Zaproponowano i scharakteryzowano metodę do wspomagania pomiaru szybkich przebiegów zakłócających w układzie scalonym. Przedstawiono także koncepcję podsystemu wspomagającego pomiar tego typu przebiegów, który może realizować praktycznie tę metodę i uwzględnia podstawowe ograniczenia związane z jego implementacją na podłożu układu scalonego wspólnym z układem będącym źródłem badanych przebiegów. Metoda ta może znaleźć zastosowanie do badania przebiegów zakłóceń, m.in. podłożowych oraz rozchodzących się w liniach zasilania, a także w testowaniu poprawności funkcjonalnej i aktywności bloków.
EN
In this paper, a measurement support method for supporting measurement of fast waveforms resulting from switching noise in integrated circuits is proposed and characterized. This paper also shows the concept of subsystem supporting the measurement of waveforms of such type, which can realize this method practically and is adapted to the main limitations connected with its implementation on the common, silicon substrate with the noise source. This method can be employed for testing of fast, repetitive waveforms, e.g. switching noise waveforms from substrate and supply/ground lines, as well as for testing the functional correctness and switching activity of digital blocks.
PL
Omówiono stan obecny oraz perspektywy rozwoju i zastosowania bramek cyfrowych pracujących w trybie prądowym, a także różnego rodzaju układów cyfrowych zbudowanych z bramek prądowych. Opracowanie podsumowuje kilkuletnie badania autorów nad koncepcją bramki prądowej i jej realizacją, podstawami algebry bramek prądowych oraz sposobów projektowania i weryfikacji cyfrowych układów prądowych działających w standardowej logice binarnej (Boole'a), jak i w wielowartościowych logikach z podstawą N > 2.
EN
This paper presents current state and perspectives of development and application of current-mode digital gates and various digital circuits built with these gates. The paper summarizes a few years research of the authors on the concept of current-mode digital gate and its realization, the basics of current-mode gates algebra and the ways of design and verification of current-mode digital circuits operating in standard binary Iogic (Boolean) as well as in multivalued logics with basis N > 2.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.