Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

On the two possible types of THz generators

Tralle Igor, Zięba Paweł

Physics for Economy

|

2023

|

Vol. 5, No.1

11-32

EN

This paper is the review of our study published earlier in Acta Phys. Polon. A121, 522 (2012) [7],Phys Lett A378, 1364 (2014) [25],and [1]. It’s aim is to pay attention to the new possibilities related to producing the new types of THz generators. The suggested effects are the result of combining two effects: Gunn-effect in a material such as GaAs and undulator-like radiation, or "pumping wave" acting on the electrons which is the result of undulator field, while the second is the backward effect of radiation which is produced by electrons moving within such a micro-undulator. It is very probable that the effect scan be used to develop a new semiconductor-based room temperature source of the THz-radiation.

2

Źródła światła piątej generacji

Romaniuk R. S.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2016

|

Vol. 57, nr 4

42--50

PL

Źródła światła koherentnego są jednym z podstawowych narzędzi badawczych w biologii, technice i innych dziedzinach. Synchrotronowe źródło światła składa się z kilku podstawowych części: źródła energii którym jest akcelerator wiązki elektronowej, konwertera wiązka elektronowa – wiązka fotonowa którym jest undulator, oraz fotonowych linii użytkowych. Każda z tych części osobno jest skomplikowanym urządzeniem podlegającym obecnie szybkiemu rozwojowi technologicznemu. Przyszłościowe źródła światła piątej generacji bazują na zupełnie nowych rozwiązaniach wszystkich tych części podstawowych, w porównaniu ze źródłami poprzednich generacji. Źródłem energii jest nowej generacji miniaturowy akcelerator laserowo-plazmowy o polu elektrycznym rzędu setek GV/m. Miniaturowy undulator testowany jest w technologii MEMS z nowych materiałów. Klasyczne próżniowe i trudne do sterowania linie eksperymentalne i rozprowadzanie wiązki światła zmieniają swoje znaczenie w przypadku dostępności miniaturowych undulatorów umieszczonych tuż przy lub wewnątrz indywidualnej stacji eksperymentalnej. Po wstępie dotyczącym źródeł światła poprzednich generacji, artykuł pokazuje bieżące kierunki badawcze nad wymienionymi częściami składowymi źródeł światła piątej generacji. W niektórych przypadkach jest to kontynuacja i modernizacja poprzednich technologii, w większości jest to odważna próba zastosowania zupełnie nowych technologii jak akceleracji laserowo-plazmowej.

EN

Coherent light sources are one of the most fundamental research tools in biology, technology and in other areas. Synchrotron light source consists of a few basic parts: energy source – which is an electron beam accelerator, energy converter between electron and photon beams – which is an undulator, and photon user experimental lines. Each of these parts is separately a complex system, which is currently a subject to fast technological development. Future light sources of the fifth generation are based on completely new solutions of these fundamental parts, in comparison with the sources of the previous generations. Energy source is a new generation laser – plasma accelerator with electrical field in the area of multiple GV/m. A miniature undulator is tested in the MEMS technology from new materials. Classical light beam lines, vacuum, and difficult for management and beam distribution, change their meaning in the case of availability of miniature undulators positioned immediately at or even inside the experimental stations. After an introduction concerning the light sources of the previous generations, the article shows current research efforts on the mentioned key components of the fifth generation light sources. In some cases this is a continuation and modernization of the previous technologies, in the majority it is a brave endeavour to apply completely new technologies, like laser – plasma acceleration.

3

Synchrotron Radiation Application for Lattice Strain Measurements

Gadalińska E., Baczmański A., Sołoducha K.

Fatigue of Aircraft Structures

|

2014

|

Iss. 6

29--38

EN

The methods most commonly used for the determination of the elastic lattice deformation and distortion are diffraction methods, which enable to perform measurements of stresses and elastic properties of polycrystalline materials. The main advantages of diffraction methods are associated with their non-destructive character and the possibility to be used for macrostress and microstress analysis of multiphase and anisotropic materials. Diffraction methods enable taking measurements selectively only for a chosen alloy phase. This is very convenient when several phases are present in the sample since measurements of separate diffraction peaks allow the behaviour of each phase to be investigated independently. In this work, a method for analysis of diffraction with synchrotron radiation is described. The methodology is based on the measurements of lattice strains during “in situ” tensile testing for several hkl reflections and for different orientations of the sample with respect to the scattering vector. Some initial results are presented.

4

Akceleratory dla społeczeństwa : TIARA 2012

Romaniuk R. S.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2013

|

Vol. 54, nr 3

108-112

PL

TIARA jest Europejskim Konsorcjum Techniki Akceleratorowej, które poprzez prowadzenie projektów badawczych, technicznych, sieciowych i infrastrukturalnych ma doprowadzić do integracji środowiska naukowo-technicznego oraz zasobów materialnych w skali całej Europy. Konsorcjum gromadzi wszystkie ośrodki europejskie posiadające dużą infrastrukturę akceleratorową. Pozostałe ośrodki, jak np. uniwersytety, są afiliowane jako członkowie stowarzyszeni. TIARA-PP (faza przygotowawcza) jest projektem europejskim prowadzonym przez Konsorcjum i wykonywanym w ramach EU FP7. W artykule przedstawiono ogólny zakres działań Konsorcjum TIARA, poprzedzając to portretem współczesnej techniki akceleratorowej oraz przeglądem jej zastosowań w nowoczesnym społeczeństwie.

EN

TIARA is an European Collaboration of Accelerator Technology, which by running research projects, technical, networks and infrastructural has a duty to integrate the research and technical communities and infrastructures in the global scale of Europe. The Collaboration gathers all research centers with large accelerator infrastructures. Other ones, like universities, are affiliated as associate members. TIARA-PP (preparatory phase) is an European infrastructural project run by this Consortium and realized inside EU-FP7. The paper presents a general overview of TIARA activities, with an introduction containing a portrait of contemporary accelerator technology and a digest of its applications in modern society.

5

Poznawanie własności materii w skali atomowej za pomocą absorpcji promieniowania synchrotronowego

Drzewiecka A., Wolska A., Klepka M. T., Ławniczak-Jabłońska K.

LAB Laboratoria, Aparatura, Badania

|

2012

|

R. 17, nr 6

16-21

6

Elipsometria spektroskopowa kryształów ferroelektrycznych w nadfiolecie próżniowym

Andriyevsky B., Patryn A., Ciepluch-Trojanek W.

Zeszyty Naukowe Wydziału Elektroniki i Informatyki Politechniki Koszalińskiej

|

2009

|

Nr 1

75--86

PL

Badania kryształów ferroelektrycznych pozostają jednym z głównych kierunków współczesnej nauki o ciele stałym głównie dzięki zainteresowaniom mechanizmami mikroskopowymi przemian fazowych. Z tego względu ważne jest badanie struktury elektronowej pasmowej i osobliwości wiązań chemicznych międzyatomowych w kryształach ferroelektryków. Takie dane są niezbędne do wyjaśnienia osobliwości oddziaływania elektron-fononowego i ewentualnych mechanizmów strukturalnych przemian fazowych. Widma optyczne współczynnika odbicia R kryształów TGS w zakresie wzbudzenia elektronów walencyjnych były badane w zakresie energii fotonów E od 4 do 22 eV, głównie w pracach [1, 2]. Jednak metodyka pomiarów współczynników odbicia R(E) w tych pracach nie gwarantowała obliczenie przy pomocy relacji KramersaKroniga widm części rzeczywistej i urojonej przenikalności elektrycznej e1(E) i e2(E) kryształów TGS o wystarczająco wysokiej dokładności. W niniejszej pracy są przedstawione wyniki badań właściwości optycznych w zakresie wzbudzenia elektronów walencyjnych ferroelektrycznych kryształów siarczanu trójglicyny (TriGlycine Sulfate, TGS), (CH2NH2COOH)3×H2SO4, otrzymane metodą elipsometrii spektroskopowej z wykorzystaniem promieniowania synchrotronu BESSY-II w Berlinie. Ta metodyka, w porównaniu do stosowanej w pracach [1, 2], jest generalnie o wiele dokładniejsza.

7

Magnetism of ultra-thin iron films seen by the nuclear resonant scattering of synchrotron radiation

Slęzak T, Stankov S, Zajšc M, Slęzak M, Matlak K, Spiridis N, Laenens B, Planckaert N, Rennhofer M, Freindl K, Wilgocka-Slęzak D, Rüffer R, Korecki J

Materials Science Poland

|

2008

|

Vol. 26, No. 4

885--896

EN

Conversion electron Mössbauer spectroscopy proved in the past to be very useful in studying surface and ultrathin film magnetism with monolayer resolution. Twenty years later, its time-domain analogue, the nuclear resonant scattering (NRS) of synchrotron radiation, showed up to be by orders of magnitude faster and more efficient. The most important features of NRS based on simulations and experimental data have been discussed. It has been shown how the isotopic sensitivity of NRS, combined with the 57Fe probe layer concept, was explored to study influence of the interlayer exchange coupling to FeAu monoatomic superlattices on the magnetic properties of the iron monolayer on Au(001). In the second example, combination of UHV conditions and the high brilliance of the third generation synchrotron source is used to probe the evolution of spin structure in epitaxial Fe films on W(110) via the accumulation of high quality time spectra directly during the 57Fe film growth.

8

Mikrospektroskopia w podczerwieni z transformacją Fouriera w diagnostyce medycznej

Szczerbowska-Boruchowska M.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2007

|

R. 53, nr 9 bis

444--447

PL

Mikrospektroskopia w podczerwieni z transformacją Fouriera (FTIR) łączy w sobie dwie techniki badawcze, tj. spektroskopię w podczerwieni i mikroskopię. Umożliwia tym samym jednoznaczną analizę związków chemicznych w mikroobszarach badanego materiału. Szybki postęp techniki a przede wszystkim wykorzystanie synchrotronu jako źródła podczerwieni umożliwia prowadzenie badań z rozdzielczością przestrzenną rzędu pojedynczych mikrometrów. Oprócz oznaczeń składu chemicznego próbki istnieje również możliwość analizy topograficznej związków chemicznych zawartych w badanym materiale. Dzięki temu mikrospektroskopia w podczerwieni znalzła nowe zastosowanie jako narzędzie analityczne w badaniach tkanek i pojedynczych komórek. Niejednokrotnie jest wykorzystywana przez jednostki naukowe dla celów diagnostyki medycznej. Wśród zalet techniki jako narzędzia diagnostycznego należy wymienić możliwość rejestracji anomalii składu chemicznego z mikrometrową rozdzielczością przy minimalnej preparatyce próbek, nie wymagającej utrwalania materiału ani stosowania markerów biochemicznych. Niewielka ilość materiału wymagana do przeprowadzenia pomiaru może być pozyskana w sposób małoinwazyjny np. na drodze biopsji czy endoskopii. Szeroki nurt badań z wykorzystaniem mikrospektroskopii w podczerwieni do analizy tkanek i pojeynczych komórek stanowią aktualnie prace nad schorzeniami nowotworowymi, chorobami ośrodkowego układu nerwowego (choroby neurodegeneracyjne i prionowe), układu kostnego (osteoporoza, osteoartretyzm), chorobami serca i układu krwionośnego i in.

EN

Fourier Transform Infrared (FTIR) microspectroscopy combines two techniques i.e. IR spectroscopy and microscopy. Therefore it enables determining the chemical composition in small sample areas. Rapid technical advance especially application of synchrotron radiation as an infrared source allows to obtain micrometer spatial resolution in infrared spectroscopy. Apart from determination of chemical composition of specimens the topographic analysis of samples is also possible. Therefore FTIR microspectroscopy is applied as an analytical tool to investigation of tissues and single cells. This technique is frequently used as a diagnostic tool in medicine. One of the advantage of this technique is possibility of determination of abnormalities in chemical composition of specimen with minimal sample preparation i.e. without sample staining and applying biochemical markers. The small sample amount can be taken during biopsy or ednoscopy. Currently, infrared microspectroscopy is applied as a diagnostic tool in the following areas of medicine: cancer research, neurological disorders (neurodegenerations, prion diseases), bone diseases (osteoporosis, osteoarthritis), diseases of cardiovascular system and many others.

9

Investigation of the aging of epitaxial LaNiO3-x films by X-ray photoelectron spectroscopy

Mickevicius S., Grebinskij S., Bondarenka V., Tvardauskas H., Vengalis B., Sliuziene K., Orłowski B. A., Drube W.

Optica Applicata

|

2006

|

Vol. 36, nr 2-3

235-243

EN

The X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) was performed to study surface and volume composition, valence states and the concentration of hydroxyl groups in epitaxial LaNiO3?x thin films after aging in air. The existence of at least few different forms of oxygen as lattice oxide, hydroxyl groups and adsorbed water in the samples is shown by XPS characterization. The lanthanum and nickel exist in oxide and hydroxide chemical states. The concentration of hydroxyl groups increases at the surface but it is distributed through the volume as well. It was found that the surface Ni/La concentration ratio is close to the stoichiometric bulk value.

10

Quantification of nanocrystallization by means of X-ray line profile analysis

Zehetbauer M. J., Schafler E., Ungar T.

Archives of Metallurgy and Materials

|

2005

|

Vol. 50, iss. 2

515-533

EN

In crystalline materials the structural scale reaches submicron or even nanometer sizes when plastic deformation is sustained up to very high strains, low deformation temperatures and/or extended hydrostatic pressure. In order to find out the mechanisms of crystal fragmentation, X-ray Line Profile Analysis (XPA) can provide a number of important parameters which are not (or only scarcely) available by other methods such as TEM and residual electrical resistivity. These are the density, arrangement and type of dislocations, and the internal stresses which all can be determined even in case of very large strains and high contents of alloying atoms. Extending XPA to profiles at high order diffraction (Multi Reflection Profile Analysis, MXPA) it is possible to carefully separate strain broadening from size broadening. This is particularly important when the nanomaterials reveal grain sizes smaller than 100 nm, when the size broadening gets similarly high than strain broadening from plastic deformation. In dislocated metals, the dislocation contrast has to be taken into account for a correct evaluation of grain size which reduces to the coherently scattering domain size in case of nanocrystallization due to plastic deformation, namely SPD. When using highly intense Synchrotron radiation, a maximum in spatial and even time resolution is reached enabling in-situ measurements during deformation of the parameters quoted.

PL

W materiałach polikrystalicznych bardzo silnie odkształconych plastycznie przy niskich temperaturach i w warunkach ciśnienia hydrostatycznego, skala badań strukturalnych osiąga rozmiary sub- lub nanometryczne. Analiza profilu linii rentgenowskiej (XPA) może dostarczyć wielu ważnych informacji o mechanizmach fragmentacji kryształów, nieosiągalnych w ogóle (lub tylko w ograniczonym zakresie) innymi metodami, jak np. TEM czy elektryczna oporność własciwa. Nawet w przypadku bardzo dużych odkształceń i dużej zawartości dodatków stopowych, możliwe jest określenie gęstosci i typu dyslokacji sieciowych oraz naprężeń własnych. Rozszerzajac analizę XPA na odbicia dyfrakcyjne wyższych rzędów (Multi Reflection Profile Analysis, MXPA) możliwe jest rozdzielenie wpływu odkształcenia oraz rozdrobnienia ziarna na poszerzenie profilu. Jest to szczególnie ważne w przypadku nanomateriałów cechujących się rozmiarem ziaren mniejszym niż 100 nm, kiedy to wpływ rozdrobnienia ziarna na poszerzenie profilu staje się porównywalny z wpływem deformacji plastycznej. W materiałach o dużej gęstosci dyslokacji (np. po procesie SPD), poprawna ocena wielkości ziarna wymaga uwzglednienia kontrastu dyslokacyjnego, który redukuje ją do rozmiaru obszarów spójnego rozpraszania. Stosując intensywne promieniowanie synchrotronowe, można osiągnąć znaczną rozdzielczość przestrzenną oraz czasową, co pozwala na pomiary in-situ podczas dkształcenia, a tym samym umożliwia ocenę parametrów deformacji.

11

Promieniowanie synchrotronowe jako uniwersalne narzędzie badawcze - próby jego wykorzystania w badaniach struktury żeliwa

Hoffmann P., Schmeisser D., Soiński M. S., Warchala T.

Archiwum Odlewnictwa

|

2004

|

R. 4, nr 14

169-175

PL

W artykule omówiono istotę powstawania promieniowania synchrotronowego oraz jego właściwości. Na przykładzie źródła promieniowania w BESSY II (Berlin) podano niektóre dane charakteryzujące funkcjonowanie synchrotronu i pierścienia akumulacyjnego. Przykładowo przedstawiono próby wykorzystania promieniowania synchrotronowego w badaniach struktury żeliwa.

EN

The paper presents the essence of the synchrotron radiation generating and its properties. Taking as an example the radiation source at BESSY II, Berlin, there have been quoted some data describing the work of the synchrotron and the storage ring. An exemplary trial of applying the synchrotron beam to the cast iron structure examining has been presented.

12

Synchrotron radiation - a versatile tool for diffusion studies

Sepioł B., Sladecek M., Stadler L. M., Kmieć D., Rennhofer M., Vogl G., Hajduga M.

Archives of Metallurgy and Materials

|

2004

|

Vol. 49, iss. 2

411-430

EN

Due to the finite size, dynamical effects become more pronounced but also more complex in nanostructured materials compared to bulk solids. The progress in synchrotron methods and the access to X-rays of third generation synchrotron radiation sources enables studies of dynamics in surfaces and nanostructures. Especially nuclear resonant scattering of synchrotron radiation, which has gained the sensitivity required to study ultra thin films in the last years, can explore nearly the whole field of dynamical effects. Combining X-ray reflexion with nuclear resonant scattering of synchrotron radiation results in the depth-selective investigation of hyperfine parameters of the resonant atoms, allowing study their motion in near-surface layers. The availability of coherent X-rays enabled photon correlation spectroscopy studies of coarsening mechanisms in phase-separating alloys otherwise inaccessible with any other experimental method. The manuscript is intended as compact but extensive introduction into theoretical principles of synchrotron radiation methods applied for diffusion studies, illustrated with most recent experimental results.

PL

W materiałach nanostrukturalnych efekty dynamiczne są wyraźniejsze aniżeli w materiałach masywnych. Rozwój metod synchrotronowych i dostęp do trzeciej generacji źródeł promieniowania synchrotronowego umożliwia prowadzenie badań dynamiki zjawisk zachodzących w warstwach powierzchniowych i nanostrukturach. Specjalne zastosowanie znajduje tutaj rezonansowe rozpraszanie jądrowe promieniowania synchrotronowego, gdyż wysoka czułość tej metody umozliwiajaca badania nawet ultra cienkich warstw sprawia, że pokrywa ona prawie cały zakres efektów dynamicznych. Połączenie metod odbicia promieniowania X i rezonansowego rozpraszania jądrowego promieniowania synchrotronowego umożliwia badanie ruchu atomów w warstwach przypowierzchniowych. Dostepność spójnego promeniowania X umozliwiła badania spektroskopowe korelacji fotonów w zastosowaniu do mechanizmów koagulacji w stopach. Prezentowana publikacja jest pomyślana jako zwięzłe przedstawienie podstaw teoretycznych metod badawczych wykorzystujących promieniowanie synchrotronowe do badań dyfuzji, zilustrowane najnowszymi wynikami eksperymentalnymi.