Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: substrate noise investigation

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Metoda i podsystem do wspomagania pomiaru szybkich przebiegów zakłócających w układzie scalonym

Pawłowski P.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2007

Vol. 48, nr 11

47-50

Zaproponowano i scharakteryzowano metodę do wspomagania pomiaru szybkich przebiegów zakłócających w układzie scalonym. Przedstawiono także koncepcję podsystemu wspomagającego pomiar tego typu przebiegów, który może realizować praktycznie tę metodę i uwzględnia podstawowe ograniczenia związane z jego implementacją na podłożu układu scalonego wspólnym z układem będącym źródłem badanych przebiegów. Metoda ta może znaleźć zastosowanie do badania przebiegów zakłóceń, m.in. podłożowych oraz rozchodzących się w liniach zasilania, a także w testowaniu poprawności funkcjonalnej i aktywności bloków.

In this paper, a measurement support method for supporting measurement of fast waveforms resulting from switching noise in integrated circuits is proposed and characterized. This paper also shows the concept of subsystem supporting the measurement of waveforms of such type, which can realize this method practically and is adapted to the main limitations connected with its implementation on the common, silicon substrate with the noise source. This method can be employed for testing of fast, repetitive waveforms, e.g. switching noise waveforms from substrate and supply/ground lines, as well as for testing the functional correctness and switching activity of digital blocks.