Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Archives of Metallurgy and Materials

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: solid-state diffusion

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Formation of Transition Phases on Interface between Monocrystalline Fe and Cu Due to Mutual Solid-State Diffusion

Perek-Nowak M., Boczkal G.

Archives of Metallurgy and Materials

2016

Vol. 61, iss. 2A

581--586

Interdiffusion between Fe (Armco) and Cu single crystals of similar orientation (around [110]) annealed at temperatures of 873 and 973K in air for 0.5 up to 4 h is studied. Formation of three phases different in their chemical composition has been observed: 1) oxide layer on Cu border (porous), 2) a layer rich in copper, iron and oxygen, 3) a layer of iron and oxygen with only small addition of Cu. All reactions of interface formation occurred in solid state. It was noted that oxygen plays an important role in development of new phases. Strong Kirkendall effect is observed due to large difference in diffusion coefficients of copper atoms to iron, DCu→Fe=300exp(-67800/RT) and iron atoms to copper DCu→Fe=0.091exp(-46140/RT).

Electron probe microanalysis in the study of diffusion in solids

Sikorski K.

Archives of Metallurgy and Materials

2004

Vol. 49, iss. 2

369-383

The paper illustrates the necessity of applying special corrections to concentration profiles determined on the cross-sections of the samples using an electron probe x-ray microanalyser when the thickness of diffusion zones are below tens of microns. The correction takes into account the influence of the width of the x-ray generation volume on the shape and width of the determined x-ray intensity profiles and consequently, on the value of diffusion coefficients calculated on their basis. The error increases with decreasing thickness of the analysed diffusion zones and inecreasing width of the x-ray generation volume. A method correcting the above effect is described and the examples of its application are given. Methods of determining the concentration profiles formed as a result of diffusion processes in thin (below 1 micron) coatings are also described. They utilize the in-depth x-ray distribution function phi(z) and need measurements of the x-ray intensities on the surface of the layers at various accelerating voltages. It was shown that the methods describe adequately the concentration profiles in the cases of multiphase diffusion when the profiles are of step-like shape. If the concentrations of elements in the diffusion zone change continuously, the profiles are described approximately as if they referred to 3-4 sub-layers of different but constant concentrations.

W pracy wykazano, że profile zmian stężeń pierwiastków w strefach dyfuzyjnych o grubości mniejszej od kilkudziesieciu mikrometrów, wyznaczone metodą mikroanalizy rentgenowskiej na przekrojach poprzecznych złącz, są obarczone błędem którego wielkość rośnie, gdy grubość strefy dyfuzyjnej maleje, a szerokość obszaru emisji promieniowania X wzrasta. W pracy opisano metody korekcji profili zmian stężeń pierwiastków w strefach dyfuzyjnych. Wykazano, że wartości współczynników dyfuzji wyznaczone na podstawie nie skorygowanych profili są zawyżone i w przypadku stref o grubości kilku mikrometrów mogą osiągać wartości kilkakrotnie większe od rzeczywistych. Korekcja profili zmian steżeń może być pominieta jedynie w przypadku stref dyfuzyjnych o grubości wiekszej niż 100 mikrometrów. W pracy opisano również metody określania profili zmian stężeń pierwiastków w cienkich warstwach o grubości poniżej 1 mikrometra.