Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: random tests

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Generowanie wieloprzebiegowych kontrolowanych testów losowych

Mrozek I., Yarmolik V.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2016

Vol. 57, nr 11

99--101

Zauważalną niedoskonałością standardowego podejścia do kontrolowanego generowania testów losowych jest wysoka złożoność obliczeniowa procesu. Dlatego w artykule przedstawiona zostanie technika kontrolowanego generowania testów losowych pozwalająca w sposób znaczny zmniejszyć tę złożoność. Technika ta wykorzystuje ideę testów wieloprzebiegowych i w odróżnieniu od podejścia klasycznego skupia się na generowaniu całych kolejnych testów a nie pojedynczych wzorców testowych.

Available evidences suggest that high computational complexity is one of the main drawback of controlled random tests. Therefore a technique to overcome this problem is proposed in the paper. We introduce the concept of multiple controlled random tests (MCRT) and examine various numerical characteristics in terms of the development of those tests. An important key advantage of these techniques is that, in contrast to standard controlled random tests, they use a general characteristic for the test as a whole instead of separately for each test vector.

Kontrolowane generowanie optymalnych testów losowych

Mrozek I., Yarmolik V.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2015

Vol. 56, nr 8

64-66

Jedną ze standardowych technik stosowanych w procesie testowania zarówno systemów elektronicznych jak i oprogramowania jest technika testów losowych. Standardowe testy losowe nie wykorzystują jednak informacji jakie są dostępne w środowisku testowania czarnej skrzynki. Informacja ta wykorzystywana jest w wypadku kontrolowanego generowania testów losowych (ang. Contrlled Random Tests), co w sposób znaczny pozwala zwiększyć efektywność realizowanych testów. W artykule przeanalizowane zostały podstawowe metryki odnoszące się do pomiaru zróżnicowania generowanych wzorców testowych. Maksymalizacja przedstawionych metryk pozwoliła wygenerować optymalny kontrolowany test losowy (ang. Optimal Controlled Random Test – OCRT), a następnie zaproponować algorytm, o niskiej złożoności obliczeniowej, pozwalający na automatyzację procesu generowania testów optymalnych.

Random testing is a low cost method that is successfully applied to a wide range of testing problems. Standard random testing does not exploit some information that is available in black box testing environment. Therefore controlled approach to random testing (Controlled Random Tests) may be used. In the paper basic metrics to generate controlled random tests are considered. Optimization of the numerical values of these metrics allowed to deﬁne both optimal controlled random test and easy computationally algorithm to generate these tests.