PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 12

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  profilometr
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Influence of weft density on selected parameters of fabric surface
Kosiuk Gabriela, Matusiak Małgorzata
Technologia i Jakość Wyrobów
|
2023
|
R. 68
4--18
EN
The geometric structure of surface of textile materials have significant functional, operational and aesthetic importance. The basic parameters of the woven fabrics’ structure are the following: weave, warp and weft density as well as warp and weft linear density. Roughness is one of the surface quality features most often assessed by quantitative indicators called surface roughness parameters. The aim of the presented research was to analyze the parameters characterizing the geometric structure of the surface of cotton woven fabrics with twill weave. Surface topography measurements were performed using the MicroSpy® Profile profilometer by FRT the art of metrology™. The research confirmed that, on the basis of the results obtained with the profilometer, it is possible to analyze comprehensively the topography of the fabric surface.
PL
Struktura geometryczna powierzchni materiałów tekstylnych ma duże znaczenie funkcjonalne, eksploatacyjne i estetyczne. Podstawowymi parametrami struktury tkanin są: gęstość splotu, osnowy i wątku oraz gęstość liniowa osnowy i wątku. Chropowatość jest jedną z cech jakości powierzchni najczęściej ocenianych za pomocą wskaźników ilościowych, zwanych parametrami chropowatości powierzchni. Celem prezentowanych badań była analiza parametrów charakteryzujących strukturę geometryczną powierzchni tkanin bawełnianych o splocie skośnym. Pomiary topografii powierzchni przeprowadzono przy użyciu profilometru MicroSpy® Profile firmy FRT the art of metrology™. Badania potwierdziły, że na podstawie wyników uzyskanych za pomocą profilometru można kompleksowo analizować topografię powierzchni tkaniny.
2
Content available Wpływ struktury tkanin bawełnianych na ich topografię
Kosiuk Gabriela, Matusiak Małgorzata
Technologia i Jakość Wyrobów
|
2020
|
R. 65
68--78
PL
Podstawowe parametry struktury tkanin to: splot, liczność osnowy i wątku oraz masa liniowa osnowy i wątku. Wymienione parametry wpływają na kształtowanie się właściwości tkanin. Jedną z istotnych cech tkanin jest jakość ich powierzchni, w tym topografia powierzchni. Charakteryzuje ona ukształtowanie powierzchni tkanin. W ramach pracy wykonano badania topografii powierzchni tkanin bawełnianych o splocie płóciennym. Badane tkaniny różnią się między sobą licznością wątku. Badania topografii powierzchni tkanin wykonano za pomocą profilometru MicroSpy Profile współpracującego ze specjalistycznym oprogramowaniem Mark III. Na podstawie uzyskanych wyników przeanalizowano wpływ liczności wątku na wybrane parametry charakteryzujące topografię powierzchni tkanin.
EN
The basic parameters of the woven fabrics’ structure are the following: weave, warp and weft density as well as warp and weft linear density. The aforementioned parameters influence the properties of fabrics. One of the important characteristics of fabrics is the quality of their surface, including the surface topography. The topography characterizes the surface structure of fabrics. In the frame of presented work, the topography of the surface of cotton fabrics with a plain weave was tested. The fabrics being the objects of the investigation differ between each other in the rage of weft density. The study of the surface topography of fabrics was performed using the MicroSpy Profile profilometer cooperating with specialized Mark III software. Based on the obtained results, the influence of weft density on the selected parameter characterizing the topography of the fabric surface was analyzed.
3
Content available Badania topografii tkanin gofrowanych
Matusiak Małgorzata
Technologia i Jakość Wyrobów
|
2020
|
R. 65
48--67
PL
Tkaniny gofrowane są specyficzną grupą tkanin o charakterystycznej topografii powierzchni [1, 2]. Charakteryzują się fakturalną powierzchnią, wynikającą z występowania naprzemiennie pasków gładkich i gofrowanych (pofałdowanych) ułożonych w kierunku osnowy. Niekonwencjonalna topografia powierzchni tkanin gofrowanych przede wszystkim wpływa na wygląd tkanin i wyrobów z nich wykonanych. Charakterystyczne ukształtowanie powierzchni tkanin gofrowanych wpływa również na ich właściwości, zarówno mechaniczne jak i biofizyczne. W chwili obecnej nie ma uznanych w świecie metod badawczych, pozwalających na skwantyfikowanie topografii powierzchni tkanin gofrowanych oraz efektu gofrowania. Jedyną miarą, która stosowana jest w ocenie efektu gofrowania jest wrobienie osnowy tworzącej paski gofrowane [3, 4]. Celem niniejszej pracy była ocena topografii powierzchni tkanin gofrowanych za pomocą profilometru. Badaniom poddano tkaniny gofrowane o zróżnicowanym raporcie pasków gofrowanych. Wyznaczono szereg parametrów, które w sposób liczbowy opisują topografię powierzchni tkanin.
EN
Seersucker woven fabrics are a specific group of fabrics with a characteristic surface topography [1, 2]. They are characterized by a textured surface, resulting from the alternation of smooth and puckered stripes arranged in the direction of the warp. The unconventional topography of the surface of seersucker woven fabrics primarily affects the appearance of fabrics and products made of them. The characteristic shape of the surface of the seersucker fabrics also influences their mechanical and biophysical properties. At present, there are no internationally recognized research methods allowing to quantify the surface topography of seersucker fabrics and the seersucker effect. The only measure that is used to assess the seersucker effect is the take up of the warp into the puckered stripes [3, 4]. The aim of this study was to assess the surface topography of seersucker woven fabrics using a profilometer. Seersucker woven fabrics with a varied report of puckered stripes were tested. For the tested fabrics, a number of parameters were determined which numerically describe the topography of the fabric surface.
4
Content available Badanie powierzchni folii celulozowych bez nadruku i z nadrukiem farbami biodegradowalnymi przy użyciu profilometru, mikroskopu konfokalnego i mikroskopu skaningowego
Nowak W., Podsiadło H.
Acta Poligraphica
|
2017
|
Vol. 10
43--54
EN
The article presents the visual effects of solar and UV-VIS radiation with appropriate intensity and aging time on three types of cellulose foils with and without overprint. The print was made with biodegradable AquaBio and compostable GeckoFrontalEco inks. Photographs of the film surface were taken using a confocal and scanning microscope, and their profile was determined using a profilometer.
5
Content available remote The essence of proper selection of Gaussian filtration parameters
Łętocha A., Miller T.
Mechanik
|
2015
|
R. 88, nr 2CD
223--234
EN
Gaussian filter is currently included in all programs which analyze measured data. This type of filtration is commonly used around the world. ISO standard series about Gaussian filtering were published – especially ISO 4288 – therefore it is well described and known, but still exist threat, that it could be inadequately use by untrained personnel from industry and laboratories. Improper usage of Gaussian filtration can completely deform surface image and understate (most often) or overstate calculated parameters. The purpose of this paper is to show effects of improper application of the Gaussian filtration. Remind rules of selection Gaussian filter parameters and derogation of those rules. Measurements were performed with use contact profilometer TOPO 02, equipped with diamond stylus probe. Tip of the probe was cone-shaped with 60 degrees angle and radius equal 2 μm. Surfaces after grinding, eroding and milling were measured. Gaussian filtration with different cut-off wavelengths: 0,25 μm, 0,8 μm and 2,5 μm was applied. Chosen height roughness profile parameters were calculated. Roughness profile graph and areal material ratio curve were analyzed.
PL
Filtr Gaussa jest powszechnie stosowany na całym świecie i zawarty we wszystkich programach analizujących zmierzone dane. Opublikowano serię norm ISO dotyczącą filtracji Gaussa (jedna z ważniejszych – ISO 4288), dlatego jest ona dobrze scharakteryzowana, ale w dalszym ciągu istnieje obawa, że może być stosowana w nieodpowiedni sposób przez personel laboratoryjny oraz związany z przemysłem. Niewłaściwe użycie filtracji Gaussa może całkowicie zniekształcić obraz zmierzonej powierzchni oraz zaniżyć (najczęściej) lub zawyżyć wartości obliczanych parametrów chropowatości. Celem tego referatu jest przedstawienie efektów niewłaściwego zastosowania filtracji Gaussa, przypomnienie zasad doboru parametrów filtru Gaussa, a także pokazanie odstępstw od tych wytycznych. Pomiary przeprowadzono z użyciem stykowego profilometru TOPO 02, wyposażonego w diamentową końcówkę pomiarową. Wykorzystano końcówkę pomiarową w kształcie stożka o kącie wierzchołkowym – 60° oraz promieniu równym 2 μm. Zmierzono powierzchnie po: szlifowaniu, elektroerozji oraz frezowaniu. Zastosowano filtr Gaussa z następującymi długościami fali cut-off: 0,25 μm, 0,8 μm oraz 2,5 μm. Obliczono wybrane wysokościowe parametry profilu chropowatości. Analizie poddano wykres profilu chropowatości oraz krzywą przestrzennego udziału materiałowego.
6
Content available remote Przyrządy do pomiaru konturu
Iwasińska-Kowalska O.
Stal, Metale & Nowe Technologie
|
2014
|
nr 3-4
106--107
PL
Konturografy znajdują wiele zastosowań, choć mają swoje ograniczenia, takie jak mały zakres pomiarowy i pomiar wykonywany zwykle w jednej płaszczyźnie. Urządzenia te wymagają precyzyjnego doboru strategii pomiarowej, ze szczególnym uwzględnieniem wpływu samego obiektu pomiarowego na wynik.
7
Content available Analiza topografii powierzchni panewek mikrołożysk ślizgowych z mikrorowkami
Miszczak A., Wierzcholski K.
Tribologia
|
2012
|
nr 3
103-110
PL
W niniejszej pracy autorzy przedstawili topografię powierzchni panewek mikrołożysk ślizgowych z mikrorowkami zmierzonymi za pomocą mikroskopu sił atomowych (NT-206 produkowanego w MTM na Białorusi) i profilometru (T8000-R60 firmy Hommeltester). Wyniki pomiarów topografii powierzchniprzedstawiono w formie dwu- i trójwymiarowych wykresów oraz przekrojów badanej powierzchni. Topografię powierzchni wykonano dla panewek mikrołożysk ślizgowych stosowanych w 2,5" HDD Samsung HM160HI – 5400 obr/min, 3.5" HDD Seagate Barracuda 7200.10 ST380815AS – 7200 obr/min oraz wentylatorze komputerowym Kama Flow SP0825FDB12H. Rozpatrywane mikrołożyska eksploatowane były przez rok na nominalnych prędkościach obrotowych w dwóch trybach pracy. Pierwszy tryb pracy charakteryzował się pracą ciągłą (tj. 24 godziny). Drugi tryb pracy to tryb przerywany, czyli 15 minut urządzenie było włączone i 15 minut wyłączone. Dzięki wynikom uzyskanym za pomocą profilometru określono wielkość, kształt i rozmieszczenie mikrorowków. Wyniki otrzymane na mikroskopie sił atomowych posłużyły do oceny chropowatości powierzchni w skali mikro i manometrycznej oraz zużycia powierzchni ślizgowych.
EN
This paper presents the sleeve surface topography containing microgrooves measured by virtue of Atomic Force Microscopy NT-206 constructed in MTM Belarus, and a T8000-R60 Hommeltester profile measurement gauge. The topography was generated in 2D and 3D charts for the cross-sections of the considered surface sample. The topography was developed for slide micro-bearing sleeve applied in 2.5" HDD Samsung HM160HI – 5400rpm, 3.5" HDD Seagate Barracuda 7200.10 ST380815AS - 7200 RPM and in computer ventilator Kama Flow SP0825FDB12H. The micro-bearings were exploited for one year at nominal rotational speed for two cases. The first case included continuous operation of 24 hours per day. The second case included interrupted operation, e.g. 15 minutes on and 15 minutes off. By virtue of the results obtained using profile measurement gauge, we can record the quantities, shapes, and location of microgrooves. Moreover, the results obtained using AFM were helpful for roughness assessment and wear surface evaluation.
8
Modułowa struktura systemu sterująco-pomiarowego w profilometrze z głowicą konfokalną
Mężyk J.
Zeszyty Naukowe Politechniki Poznańskiej. Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją
|
2011
|
Nr 16
139-148
PL
Profilometr z głowicą konfokalną jest urządzeniem laboratoryjnym przeznaczonym do pomiarów i odtwarzania kształtu powierzchni obiektów w nanoskali. W opisywanym urządzeniu zastosowano układ ze stolikiem obrotowym do pozycjonowania kątowego próbki oraz stolikiem liniowym do przemieszczania głowicy pomiarowej wzdłuż osi obrotu. Uzyskano w ten sposób przestrzeń pomiarową w kształcie powierzchni bocznej walca o średnicy od 1 mm do 25 mm i wysokości 25 mm.
EN
The profilometer with con focal sensor is a laboratory apparatus for contact less measurement surface topography and form measurement in nanoscale. The presented solution utilises rotary stage for angular positioning of measured sample and linear stage for positioning of measurement sensor in parallel to the rotation axis. The measurement space is in shape of side surface of a cylinder with diameter from 1 mm to 25 mm and height equal to 25 mm.
9
Goniometryczna metoda pomiaru przestrzennego rozkładu natężenia promieniowania kwantowych laserów kaskadowych
Regiński K., Mroziewicz B., Pruszyńska-Karbownik E.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2011
|
Vol. 52, nr 10
48-50
PL
W artykule omówiono goniometryczne metody pomiaru rozkładu promieniowania laserów półprzewodnikowych. Szczególny nacisk położono na problemy związane z pomiarem profili wiązek promieniowania laserów kaskadowych. Przedstawiono unikalny układ goniometryczny zaprojektowany w Instytucie Technologii Elektronowej przeznaczony do takich pomiarów. Omówiono budowę tego układu i jego parametry robocze. Przedstawiono możliwy zakres zastosowań tego układu w projektowaniu i diagnostyce laserów kaskadowych.
EN
The paper concerns goniometric methods of measuring the field intensity distribution in the beams generated by semiconductor lasers. Special attention is paid to the problems of measuring the profiles of beams of quantum cascade lasers. Certain unique goniometric set-up (called also beam profiler) designed in Institute of Electron Technology is presented. Details of construction of the beam profiler are discussed and selected parameters of the set-up are described. The range of application of the set-up in investigation of quantum cascade lasers is briefly discussed.
10
Content available Skomputeryzowane stanowisko do pomiaru i analizy profilu powierzchni
Karpiński T., Łukianowicz C., Łukianowicz T.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2000
|
R. 46, nr 5
27-30
PL
W artykule przedstawiono skomputeryzowane stanowisko do pomiaru i analizy profilu nierównosci powierzchni. Zawiera ono profilometr, komputer, system akwizycji systemu pomiarowego oraz oprogramowanie umożliwiające analizę i pomiary profilu powierzchni. Oprogramowanie napisane w środowisku programowym Borland delphi pozwala na pracę w systemie MS Windows. Stanowisko jest rozbudowywane w celu analizy topografii powierzchni.
EN
In the paper computerized stand for a measurement and analysis of surface profile is described. This stand contains stylus instrument, microcomputer, system of acquire of measuring signal and software. Software for MS Windows was works out using Borland Delphi. Using this stand , three-dimensional imaging od surface roughness is possible.
11
Content available remote Możliwości metrologiczne profilometrów i kształtografów IOS.
Miller T.
Mechanik
|
1999
|
R. 72, nr 5-6
395-397
PL
Przedstawiono podstawowe dane techniczne przyrządów do pomiaru chropowatości i kształtu powierzchni oraz zakresy analizy danych wykonywanych za pomocą programów PROFIL i KSZTAŁT, dołączonych do profilografometru PGM-IC i kształtografu PG-2/200. Omówiono także możliwości pomiarowe przenośnego profilometru PM-02C.
EN
Basic technical data of instruments for measuring roughness and shape of a surface. Scopes of analyses of data performed by means of programs PROFIL and KSZTAŁT connected to the profile measurement gauge PGM-IC and the shape analyser PG-2/200. Measurement possibilities of a mobile profile measurement gauge PM-02C.
12
Zastosowanie wymiaru fraktalnego do oceny geometrycznych cech powierzchni warstw natryskiwanych plazmowo.
Przerada I., Bochenek A.
Inżynieria Materiałowa
|
1999
|
R. XX, nr 5
495-498
PL
W pracy zwrócono uwagę na duże znaczenie ilościowego opisu geometrycznych cech powierzchni warstw natryskiwanych plazmowo. Zaproponowano zastosowanie do tego celu nowego parametru - wymiaru fraktalnego. Do analizy fraktalnej wykorzystano dwie metody: metodę cięciwy i metodę 'box-counting'. Dowiedziono, że profile chropowatości warstw natryskiwanych plazmowo stanowią figury fraktalne o wartościach wymiarów fraktalnych w zakresie 1.026 - 1.075. Wartości wymiarów fraktalnych uzyskane metodą cięciwy korelują z parametrami opisującymi cechy wysokościowe profili, wyznaczonymi przy zastosowaniu profilometru. Warstwy nanoszone metodą naddźwiękową mają niższe wartości wymiarów fraktalnych w stosunku do warstw nanoszonych metodą klasyczną.
EN
The quantitative description of geometrical features of surfaces layers plasma sprayed has been attended. New fractal dimension parameter to quantify the surfaces has been proposed. Two methods of fractal analysis: 'chord' and 'box-counting' have been used. It was provided that surface layers of plasma spray roughness profiles are fractal figures with fractal dimensions in the range from 1.026 to 1.075. Values of the fractal dimension obtained by chord method was correlated to geometrical features determined by profilometer. Layers sprayed by supersonic method have lower fractal dimensions compared to layers sprayed by classical method.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.