Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2 2007

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: mixed analog-digital integrated circuits SoC

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Modelowanie zakłóceń podłożowych w strukturach półprzewodnikowych przy użyciu metody elementów skończonych

Gawrylczyk K., Pawłowski P.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2007

Vol. 48, nr 11

79-81

Omówiono wyniki symulacji metodą elementów skończonych sprzężenia podłożowego w strukturach półprzewodnikowych, realizowanych na wybranych typach podłoża krzemowego. Symulacje przeprowadzono przy użyciu własnego pakietu do obliczeń metodą elementów skończonych SONMAP opracowanego w Katedrze Elektrotechniki Teoretycznej i Informatyki Politechniki Szczecińskiej. Przy użyciu MES i analizy wrażliwościowej możliwe jest prowadzenie procesów optymalizacji kształtu złącz, wysp i innych fragmentów struktur, wpływających na wielkość prądów zakłócających.

In this paper, results of simulation of substrate coupling in semiconducting structures, realized on selected silicon substrate types, utilizing finite element method are presented and discussed. The simulations were performed with the use of software package SONMAP for calculations based on the finite element method developed at Electrotechnics and Computer Sciences Chair of Szczecin University of Technology. Using FEM and sensitivity analysis it is possible to optimize the shapes of junctions, wells and other fragments of structures which have influence on the amount of substrate noise currents.

Metoda i podsystem do wspomagania pomiaru szybkich przebiegów zakłócających w układzie scalonym

Pawłowski P.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2007

Vol. 48, nr 11

47-50

Zaproponowano i scharakteryzowano metodę do wspomagania pomiaru szybkich przebiegów zakłócających w układzie scalonym. Przedstawiono także koncepcję podsystemu wspomagającego pomiar tego typu przebiegów, który może realizować praktycznie tę metodę i uwzględnia podstawowe ograniczenia związane z jego implementacją na podłożu układu scalonego wspólnym z układem będącym źródłem badanych przebiegów. Metoda ta może znaleźć zastosowanie do badania przebiegów zakłóceń, m.in. podłożowych oraz rozchodzących się w liniach zasilania, a także w testowaniu poprawności funkcjonalnej i aktywności bloków.

In this paper, a measurement support method for supporting measurement of fast waveforms resulting from switching noise in integrated circuits is proposed and characterized. This paper also shows the concept of subsystem supporting the measurement of waveforms of such type, which can realize this method practically and is adapted to the main limitations connected with its implementation on the common, silicon substrate with the noise source. This method can be employed for testing of fast, repetitive waveforms, e.g. switching noise waveforms from substrate and supply/ground lines, as well as for testing the functional correctness and switching activity of digital blocks.