Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2007

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: metoda BKS

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Wykorzystanie neuronowych sieci modularnych do diagnostyki analogowych układów elektronicznych

Kurowski I., Rutkowski J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2007

Vol. 48, nr 11

37-39

Przedmiotem artykułu jest system diagnostyczny służący do lokalizacji pojedynczych uszkodzeń analogowych układów elektronicznych. Na etapie przedtestowym dla diagnozowanego układu elektronicznego skonstruowano słownik uszkodzeń na podstawie symulacji komputerowych dla każdego analizowanego stanu obwodu. Jako pobudzenie wykorzystano zarówno zasilanie układu, jak i podawany na wejście obwodu sygnał sinusoidalny. Na wyjściu badanego obwodu mierzono moduł i fazę napięcia. Zespół dwóch sieci neuronowych o radialnych funkcjach bazowych został użyty jako klasyfikator uszkodzeń (katastroficznych i parametrycznych). Odpowiedź końcową dwóch równolegle połączonych sieci neuronowych wyznaczono z wykorzystaniem przestrzeni BKS (Behavior Knowledge Space).

This paper presents a diagnostic system created for localization of faults in analog electronic circuits. The system is based on dictionary method. As stimu oflation signals, dc supply voltage and sinusoidal input signal have been used. The frequency of sinusoidal signal is variable. Voltages and phases in output of the circuit are measured to create dictionary of faults. Radial Basis Function (RBF) neural networks were used as neural classifiers. Behavior Knowledge Space (BKS) was used to find the optimum final answer of parallel classifiers. Software which has been used to generate teaching-testing files had been created in Borland Delphi. Simulations of electronic circuits have been realized by SPICE. Software, used to simulate neural classifiers has been created in Matlab.