Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Wpływ pieców łukowych na krótkotrwały (Pst) i długotrwały (Plt) współczynnik migotania światła

Lange A., Pasko M.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2016

|

R. 92, nr 4

148--151

PL

W pracy przedstawiono wyniki pomiarów krótkotrwałego (Pst) i długotrwałego (Plt) współczynnika migotania światła generowanego przez zakład hutniczy, w którym zainstalowane są odbiorniki nieliniowe w postaci pieców łukowych. Przedstawiono wpływ układu kompensacyjnego wyposażonego w dwa filtry bierne (pierwszy typu „C” i drugi typu „LC”) na wartości Pst i Plt . Opisano również wpływ zmiany transformatorów zasilających na wartości współczynników migotania światła generowanych do elektroenergetycznej sieci przesyłowej i rozdzielczej na różnych jego poziomach, tj. 400 kV i 110 kV.

EN

Results of measurements of short-term (Pst) and long-term (Plt) flicker severity are presented in the paper. Tests were run in metallurgical plant with non-linear loads (arc furnaces). The impact of compensating circuit with two passive filters (C-type and LC-type) is shown. The effect of changing supply transformers on flicker severity in terms of transmission and distribution grids at different voltage levels (i.e. 400 kV and 110 kV) is also described.

2

Metody pomiaru współczynnika migotania światła - flikera

Olencki A., Urbański K.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2007

|

R. 53, nr 5

123-125

PL

W artykule przedstawiono, na tle parametrów jakości energii elektrycznej, zjawisko migotania światła i definicję współczynnika migotania tzw. flikera oraz sposób jego pomiaru zgodnie z normą IEC6100-4-15 (2003). Opisano alternatywną metodę pomiaru opartą na analizie częstotliwościowej oraz przedstawiono urządzenie pomiarowe działające w oparciu o opisywaną metodę. Zaprezentowano uzyskane wyniki pomiarów.

EN

The article presents, on the background of power quality parameters, the phenomena of light intensity variations and definition of flicker coefficient and method of its measurement according to the IEC6100-4-15 (2003) standard. There is described an alternative method of measurement based on frequency spectrum analysis and meter, which works on this principle. Then, there are presented the results of measurements.

3

Zastosowanie procesora sygnałowego do badania migotania światła

Podlejski K., Herman P.

Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Politechniki Wrocławskiej. Studia i Materiały

|

2003

|

Vol. 54, nr 23

301-306

PL

Odbiorcy energii o zmiennym obciążeniu powodują zmiany amplitudy napięcia zasilającego. Szybkie okresowe zmiany napięcia, nazywane wahaniami, powodują migotanie światła czyli fliker. Zjawisko to przejawia się zmianą postrzegania wzrokowego wywołanego zmianami strumienia świetlnego. Podstawą ilościowej oceny migotania światła jest zmiana napięcia w czasie na zaciskach badanego urządzenia. Obiektywny pomiar flikera jest trudny. Metoda opracowana przez UIE/IEC wywodzi się z modelu, który symuluje lańcuch " zmiana napięcia - źródło światła - proces postrzegania wzrokowego". Stwierdzono, że człowiek jest najbardziej czuły na zmiany napięcia o częstotliwości 8,8 Z. Zakłócający wpływ flikera określa się przy pomocy flikeromierz, którego budowę zaleca odnośna norma [2] . Norma ta określa algorytm dla krótkotrwałego wskaźnika migotania światła. Biorąc pod uwagę fakt, ze inne wielkości charakteryzujące jakość energii elektrycznej mogą być mierzone i obliczane przy pomocy cyfrowych procesorów sygnałowych, zaproponowano wykorzystanie DSP również do badania flikera. W pierwszym kroku wykorzystano środowisko Matlab do generacji odpowiednich sygnałów i obliczenia wartości flikera. W drugim kroku zaimplementowano uzyskane rezultaty do realizacji miernika migotania światła "flikeromierza" na DSP.

EN

Flicker meter is a device used for measuring of rapid voltage variation. Its construction is based on the method recommended by UIE/IEC. The paper presents an application of digital signal processing (DSP) processor to flicker examination. In this regard, Code Composer Studio and Matlab software envi-ronments are employed to implement appropriate algorithms.