PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  energy electron spectroscopy
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Elektronowy mikroskop skaningowy w badaniach struktury stopów odlewniczych
Gajewski M., Kasińska J.
Archiwum Odlewnictwa
|
2006
|
R. 6, nr 21/1
453-462
PL
W referacie przedstawiono wykorzystanie efektów emisji elektronów pierwotnych rozproszonych wstecznie do ujawniania struktury i identyfikacji faz poprzez wytwarzanie kontrastu kompozycyjnego i analizę składu chemicznego w elektronowym mikroskopie skaningowym współpracującym z mikroanalizatorem rentgenowskim EDS. Przestawiono zalety tej metody badawczej na przykładach badania: struktury wtrąceń niemetalicznych, struktury staliwa austenityczno - ferrytycznego Cr-Ni + Mo stabilizowanego niobem oraz struktury brązu B101.
EN
This paper submits useing effect of backscattered electrons emission for structure elicit and phases identifications through compounds contrast making and chemical analysis. The investigations were made by means of scanning electron microscopy (SEM) and energy dispersive X-Ray microanalysis (EDS). The advantages of this method are also described.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.