Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Przegląd Elektrotechniczny

1 2007

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: dane o stanie urządzeń

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Analysis of condition data of high voltage components

Gulski E., Piepers O., Maksymiuk J.

Przegląd Elektrotechniczny

2007

R. 83, nr 12

64-68

Nowadays the use of diagnostic tools to assess to condition of high voltage components is steadily increasing. Depending on the diagnostic tool used, the results of the measurements are different diagnostic parameters, e.g. partial discharge (PD) inception voltage, PD magnitudes at different voltages, tangents delta, return voltages, etc. It is also known that aging, degradation, and failure mechanisms are statistical in nature. Moreover, to estimate the time to failure correct statistical interpretations is needed. As a result, due to statistical behavior of these mechanisms diagnostic results need statistical features. As the amount of usable data is increasing with number of measurements conducted, this opens up the opportunity to statistically analyze this data.

Obecnie odnotowuje się wzrost zastosowań narzędzi służących diagnozowaniu stanu izolacji urządzeń wysokonapięciowych. W zależności od ich rodzaju wynikiem pomiarów są różne parametry diagnostyczne, jak przykładowo napięcie inicjacji wyładowań niezupełnych (wnz), poziom wnz przy różnych napięciach, wartości tg delta, napięcie powrotne itd. Wiadomo również, że zjawiska starzenia, degradacji wytrzymałości i mechanizmy uszkodzeń są z natury rzeczy opisywane zmiennymi losowymi. Również dla oszacowania czasów do wystąpienia uszkodzenia niezbędna jest odpowiednia analiza statystyczna. W rezultacie z uwagi na rozproszenie danych charakteryzujących wspomniane zjawiska wyniki pomiarów diagnostycznych wymagają opisu statystycznego. Wzrost liczby użytecznych danych towarzyszący rosnącej liczbie wykonanych pomiarów zapewnia możliwość statystycznej analizy tych danych.