Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 5

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  badanie dielektryków
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
W pracy przedstawiono ogólny schemat blokowy i ogólny model matematyczny równonapięciowych komparatorów admitancji. Przedstawiono przykładowe rozwiązanie komparatora przeznaczonego do badania dielektryków. Podano zależności pozwalające na ocenę podstawowych właściwości metrologicznych tego komparatora (zbieżność, bezpośredni odczyt, czułość, niepewność pomiarów).
EN
The general block diagram and general mathematical model of equi-voltage admittance comparator circuits have been presented in this paper. The examplary solution of comparator circuit used for dielectric investigations has been shown. The derived dependences enabling evaluation of the basic metrological parameters of this comparator circuit (convergence, direct reading conditions, sensitivity, uncertainty of measurements). Have been given as well.
PL
W artykule przeprowadzono ocenę wartości stosunku sygnał-szum SNR (ang. Signal-to-Noise Ratio) w wybranych punktach schematu aktywnego równonapięciowego komparatora admitancji dielektryków. Przeanalizowano wpływ wybranych parametrów związanych z układami konwerterów prąd - napięcie o transmitancjach HX i HN ogólnego schematu ideowego komparatora na wartość stosunku sygnał - szum oraz wskazano sposoby jego maksymalizacji.
EN
The paper presents evaluation of the value of the signal-to-noise ratio (SNR) for the input circuit of a null indicator of an active, equivoltage comparator of dielectric admittance. The influence of selected parameters of the converter current-voltage circuits (i/u) with transmittancesHX and HN as well as of the null indicator WZ of the comparator general schematic diagram on the SNR value is analyzed. The ways of maximization of the SNR value are shown as well.
PL
W artykule przedstawiono podstawowe założenia koncepcji budowy dwuźródłowych układów mostkowych przeznaczonych do badań dielektryków zasilanych określonymi napięciami o jednakowych amplitudach i o krotnych częstotliwościach. Wyprowadzono zależnościpozwalające na ocenę podstawowych parametrów metrologicznych omawianej klasy układów mostkowych. Przeprowadzone rozważania zilustrowano na szczegółowym przykładzie układu mostkowego, przeznaczonego do pomiarów dwóch składowych badanego dielektryka.
EN
The paper presents the basic assumptions for construction of bridge circuits supplied with define voltages and of the same amplitudes and multiple frequencies These circuits are used for investigations of dielectrics. The relationships allowing evaluation of the basic metrological parameters of the considered class of the bridge circuits are derived. The carried out considerations are illustrated by the example of the bridge circuit used for measurements of the components and of the tested dielectric.
PL
W artykule przedstawiono podstawowe założenia koncepcji budowy równonapięciowego komparatora składowych (Gx,Cx) admitancji dielektryków z zastosowaniem w torach pomiarowych dwóch przetworników typu i/f. Przedstawiono schemat blokowy komparatora oraz wyprowadzono zależności pozwalające na ocenę podstawowych parametrów metrologicznych proponowanej klasy komparatorów.
EN
The paper presents the basic assumptions of an idea of an equivoltage comparator circuit of dielectric admittance components (Gx,Cx) with use of two current-to-frequency converters in the measuring channels.The block diagram of the comparator circuit and the derived dependences enabling evaluation of the basic metrological parameters of the proposed comparator class are given as well.
PL
W artykule przedstawiono sposób analitycznego określenia wartości kąta zbieżności gamma, będącego miarą zbieżności komparatora admitancji w założonym zakresie częstotliwości wraz ze wskazaniem optymalnego rozmieszczenia par (p,q) elementów nastawnych dla przypadków pomiaru składowych (ReYx, ImYx) i (ImYx, tg delta x) badanego dielektryka.
EN
In the paper the analytic procedure of determining the convergence angle value gamma which is a measure of the admittance comparator circuit convergence has been presented. The comparator can be used in the assumed frequency range The optimal distribution of the pairs of the setting elements (p, q) for the case of measurement of the admittance components (ReYx, ImYx) and (ImYx, tg delta x) of the investigated dielectrics have been given as well.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.