Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Universal Address Sequence Generator for Memory Built-in Self-test

Mrozek Ireneusz, Shevchenko Nikolai A., Yarmolik Vyacheslav N.

Fundamenta Informaticae

|

2022

|

Vol. 188 nr 1

41--61

EN

This paper presents the universal address sequence generator (UASG) for memory built-in-self-test. The studies are based on the proposed universal method for generating address sequences with the desired properties for multirun march memory tests. As a mathematical model, a modification of the recursive relation for quasi-random sequence generation is used. For this model, a structural diagram of the hardware implementation is given, of which the basis is a storage device for storing so-called direction numbers of the generation matrix. The form of the generation matrix determines the basic properties of the generated address sequences. The proposed UASG generates a wide spectrum of different address sequences, including the standard ones, such as linear, address complement, gray code, worst-case gate delay, 2i, next address, and pseudorandom. Examples of the use of the proposed methods are considered. The result of the practical implementation of the UASG is presented, and the main characteristics are evaluated.

2

Multiple Controlled Random Testing

Mrozek I., Yarmolik V.

Fundamenta Informaticae

|

2016

|

Vol. 144, nr 1

23--43

EN

Controlled random tests, methods of their generation, as well as their application to the testing of both hardware and software systems are discussed. Available evidences suggest that high computational complexity is one of the main drawback of these methods. Therefore we propose a technique to overcome this problem. In the paper, we introduce the concept of multiple controlled random tests (MCRT) and examine various numerical characteristics in terms of the development of those tests. We prove the effectiveness of the Euclidean distance, as well as we propose an easy computational method of its calculation, in the process of constructing MCRT. The presented approach is evaluated through the experimental study in the context of testing of Random Access Memory (RAM).

3

Generowanie wieloprzebiegowych kontrolowanych testów losowych

Mrozek I., Yarmolik V.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2016

|

Vol. 57, nr 11

99--101

PL

Zauważalną niedoskonałością standardowego podejścia do kontrolowanego generowania testów losowych jest wysoka złożoność obliczeniowa procesu. Dlatego w artykule przedstawiona zostanie technika kontrolowanego generowania testów losowych pozwalająca w sposób znaczny zmniejszyć tę złożoność. Technika ta wykorzystuje ideę testów wieloprzebiegowych i w odróżnieniu od podejścia klasycznego skupia się na generowaniu całych kolejnych testów a nie pojedynczych wzorców testowych.

EN

Available evidences suggest that high computational complexity is one of the main drawback of controlled random tests. Therefore a technique to overcome this problem is proposed in the paper. We introduce the concept of multiple controlled random tests (MCRT) and examine various numerical characteristics in terms of the development of those tests. An important key advantage of these techniques is that, in contrast to standard controlled random tests, they use a general characteristic for the test as a whole instead of separately for each test vector.

4

Kontrolowane generowanie optymalnych testów losowych

Mrozek I., Yarmolik V.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2015

|

Vol. 56, nr 8

64-66

PL

Jedną ze standardowych technik stosowanych w procesie testowania zarówno systemów elektronicznych jak i oprogramowania jest technika testów losowych. Standardowe testy losowe nie wykorzystują jednak informacji jakie są dostępne w środowisku testowania czarnej skrzynki. Informacja ta wykorzystywana jest w wypadku kontrolowanego generowania testów losowych (ang. Contrlled Random Tests), co w sposób znaczny pozwala zwiększyć efektywność realizowanych testów. W artykule przeanalizowane zostały podstawowe metryki odnoszące się do pomiaru zróżnicowania generowanych wzorców testowych. Maksymalizacja przedstawionych metryk pozwoliła wygenerować optymalny kontrolowany test losowy (ang. Optimal Controlled Random Test – OCRT), a następnie zaproponować algorytm, o niskiej złożoności obliczeniowej, pozwalający na automatyzację procesu generowania testów optymalnych.

EN

Random testing is a low cost method that is successfully applied to a wide range of testing problems. Standard random testing does not exploit some information that is available in black box testing environment. Therefore controlled approach to random testing (Controlled Random Tests) may be used. In the paper basic metrics to generate controlled random tests are considered. Optimization of the numerical values of these metrics allowed to deﬁne both optimal controlled random test and easy computationally algorithm to generate these tests.