Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: analogue electronics

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Tolerance Maximisation in Fault Diagnosis of Analogue Electronic Circuits

Chruszczyk Ł., Rutkowski J.

Przegląd Elektrotechniczny

2011

R. 87, nr 10

159-163

This paper presents method of designing periodic test excitation for fault diagnosis of analogue electronic circuits. There has been proposed maximisation of circuit components tolerances while keeping assumed level of fault diagnosis. There has also been shown that combination of fault detection and location in a single step can remarkably shorten testing time. The optimisation process involves genetic algorithm.

W pracy przedstawiono projektowanie periodycznego pobudzenia testowego dla diagnostyki uszkodzeń analogowych układów elektronicznych. Zaproponowano sposób maksymalizacji tolerancji elementów obwodu przy zachowaniu założonego poziomu diagnostyki uszkodzeń. Wykazano również, że połączenie etapów detekcji i lokalizacji uszkodzeń może znacząco skrócić czas testowania.

Poprawa skuteczności diagnostyki uszkodzeń parametrycznych

Chruszczyk Ł., Rutkowski J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2008

Vol. 49, nr 11

163-166

Opisano projektowanie kształtu specjalizowanego, aperiodycznego pobudzenia. Celem jest zwiększenie skuteczności lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w analogowych układach elektronicznych. Takie uszkodzenia należą do grupy najtrudniej diagnozowalnych. Dalszą poprawę skuteczności diagnostyki uzyskano po zastosowaniu ekstrakcji cech za pomocą transformaty falkowej. Uzyskane wyniki porównano z diagnostyką przeprowadzoną za pomocą najprostszego pobudzenia aperiodycznego - funkcji skoku oraz z diagnostyką bez ekstrakcji cech.

This article presents design of specialised aperiodic excitation. Purpose is improvement of fault diagnosis of analogue electronic circuits. The goal is enhancement of a single parametric (soft) faults location. Such faults are one of the most difficult to diagnose. Further improvement is achieved after utilising wavelet transform as a feature extractor. Obtained results are compared with fault diagnosis by means of the simplest aperiodic function: step function - and with dianosis without feature extraction.